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Transverse Positive Metallphase Mikroskop CMM-50Z

VerhandlungsfähigAktualisieren am12/03
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Übersicht

Die CMM-50-Serie ist für kleine und unbequem umgekehrte Proben geeignet und erfordert beobachtliche Studien und Analysen zur Suche nach bestimmten Zielproben. Transreflektiertes Metallophasmikroskop ist mit einer Fallbeleuchtung (Coaxial Reflexion) und einer Transmittenzbeleuchtung ausgestattet, die nicht nur verschiedene Metalle, Legierungsmaterialien, Nichtmetallstoffe und einige Oberflächenzustanden von integrierten Schaltungen, Mikropartikeln, Drähten, Fasern, Oberflächenbeschichtungen usw. erkennen und analysieren kann. Transreflektiertes Metallophasmikroskop kann auch in der Elektronik-, Chemie- und Instrumentenindustrie weit verbreitet werden, um undurchsichtige Substanzen und transparente Substanzen zu beobachten. Metalle, Keramik, integrierte Schaltungen, Elektronikchips, Leiterplatten, Flüssigkristallplatten, Folien, Pulver, Toner, Drähte, Fasern, Beschichtungen und andere nicht metallische Materialien.

Produktdetails

Transverse Positive Metallphasemikroskop CMM-50Z Detaillierte technische Parameter

Einsatz:

Die CMM-50-Serie ist für kleine und unbequem umgekehrte Proben geeignet und erfordert beobachtliche Studien und Analysen zur Suche nach bestimmten Zielproben. Transreflektiertes Metallophasmikroskop ist mit einer Fallbeleuchtung (Coaxial Reflexion) und einer Transmittenzbeleuchtung ausgestattet, die nicht nur verschiedene Metalle, Legierungsmaterialien, Nichtmetallstoffe und einige Oberflächenzustanden von integrierten Schaltungen, Mikropartikeln, Drähten, Fasern, Oberflächenbeschichtungen usw. erkennen und analysieren kann. Transreflektiertes Metallophasmikroskop kann auch in der Elektronik-, Chemie- und Instrumentenindustrie weit verbreitet werden, um undurchsichtige Substanzen und transparente Substanzen zu beobachten. Metalle, Keramik, integrierte Schaltungen, Elektronikchips, Leiterplatten, Flüssigkristallplatten, Folien, Pulver, Toner, Drähte, Fasern, Beschichtungen und andere nicht metallische Materialien.

II. Systemeinleitung

Computerbasiertes Metaphasemikroskop-System ist die Kombination des herkömmlichen optischen Mikroskops mit dem Computer (Digitalkamera) durch die optische Umwandlung organisch, kann nicht nur die Mikrobeobachtung auf der Brille, sondern auch auf dem Computer (Digitalkamera) Display-Bildschirm beobachten, Computerbasiertes Metaphasemikroskop kann die erforderlichen Bilder bearbeiten, speichern und drucken.

Technische Parameter:

1. Brille

Typ

Vergrößern

Brennweite (mm)

Sichtfeld (mm)

Große Sichtbrille

10x

25 Φ18

2. Objektive

Objektivtyp

Vergrößern

Numerischer Durchmesser

Arbeitsabstand (mm)

Flachfeld Farbdifferenz Objektiv
(ohne Deckel)

5X

0.12

18.3

10x

0.25

8.9


40x 0.60 3.7

60x

0.85

0.26



Optische Vergrößerung: 50x 100x 400x 600x

Systemreferenzvergrößerung: 50X-2600X

5. Beleuchtungssystem

Fallbeleuchtung: 6V / 20W Halogenlampe, einstellbare Helligkeit; 220V(50Hz)

Durchlässige Beleuchtung: 6V / 20W Halogenlampe, einstellbare Helligkeit; 220V(50Hz)

6. Tragstisch: Größe 185mm * 142mm

Bewegungsbereich 75mm * 50mm

7. Fokussystem: coaxial grobe Bewegung mit Limit-Position und Verstellung der Entspannungseinrichtung,

Mikrorasterwert 0,002mm

8. Regulierungsbereich: 53-75mm

9. Filtergruppe: Drehscheibe, gelb, blau, grün, geschliffenes Glas

10. Polarisationsvorrichtung: Einfügbare Startpolarisationsplatte und eingebaute Inspektionspolarisationsplatte

11. Schimmelschutz: spezifisches Schimmelschutzsystem


4. Systemzusammensetzung:

Computermikroskop (CMM-50E): 1, Metallphasemikroskop 2, Adapterspiegel 3, Kamera (CCD) 4, A/D (Bilderfassung) 5, Computer

Digitalkamera-Metallphasemikroskop (CMM-50Z): 1, Metallphasemikroskop 2, Adaptspiegel 3, Digitalkamera

Digitales Mikrobildsystem Computermikrobildsysteme

5. Auswahl der Geräte:

1. Gläser: 12,5x 20x 10x Aufteilung 2. Objektiv: 20x 50x 80x 100x

3. Hochpixelbildsystem 4. Metallphasenbildmesssoftware CF-2000C

5. Software zur Analyse von Metallographie (Quantitativ) CF-2000JX