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Zimmer 203-205, 88, East Road, Minhang, Shanghai
Sanbin Instrument Technologie (Shanghai) Co., Ltd.
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16830Thermo Symer Fly FEI Scan Elektroskop Ionenquelle Spot Angebot
Seymour fliegtFEL Teile Zubehör
16830 Ionenquellen
4035 273 12631 Ausziehen
4035 273 6 7441Licht Appendix
4035 272 35991Unterdrückungspol
4035 272 35971 Ausziehen
1058129 Ausziehen
1301684 Unterdrücker Unterdrückungspol
1096659 Öffnung Licht Appendix
1346158 PT
Das Thermo Scientific Scios 2 DualBeam ist ein hochauflösendes Analyse-System mit fokussiertem Ionenstrahl-Scan-Elektronenmikroskop (FIB-SEM), das eine hervorragende Probenvorbereitung und 3D-Charakterisierung für eine Vielzahl von Proben, einschließlich magnetischer und nicht leitfähiger Materialien, bietet. Scios 2 DualBeam verbessert Durchfluss, Präzision und Benutzerfreundlichkeit durch ein innovatives Funktionsdesign und ist die ideale Lösung für die Anforderungen von Wissenschaftlern und Ingenieuren an fortgeschrittene Forschung und Analyse in der akademischen, staatlichen und industriellen Forschung.
Eine suboberflächene oder dreidimensionale Charakterisierung ist in der Regel erforderlich, um die Struktur und die Eigenschaften der Probe besser zu verstehen.Scios 2 DualBeam und die optionale Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) Software ermöglichen eine hochwertige, vollautomatische, multimodale 3D-Datensammelerfassung, einschließlich Rückstreuelektronenbildgebung (BSE) für maximalen Materialkontrast, Energiedispersionsspektroskopie (EDS) für Kompositionsinformationen und Elektronenrückstreibungsdiffraktion (EBSD) für Mikrostrukturen- und Kristallinformationen. In Kombination mit der Thermo Scientific Avizo-Software bietet Scios 2 DualBeam eine hohe Auflösung, eine erweiterte 3D-Charakterisierung und Analyse auf NanoskaleWorkflow-Lösungen.
Innovativ Die NICol Elektronenchromatografie-Säulen bilden die Grundlage für die hochauflösende Bildgebungs- und Erkennungsfähigkeit des Systems. Es ist für eine Vielzahl von Arbeitsbedingungen geeignet und bietet hervorragende Details im Nanoskala, sei es im STEM-Modus von 30 keV (Zugriff auf Strukturinformationen) oder mit niedriger Energie (Erhalt detaillierter Oberflächeninformationen ohne Ladung). Scios 2 DualBeam verfügt über ein Thermo Scientific Trinity-Inspektionssystem im Spiegel, das speziell für die gleichzeitige Erfassung von Winkel- und Energieauswahlen von Sekundärelektronen (SE) sowie BSE-Bildgebungsdaten entwickelt wurde. Sie können nicht nur schnell auf detaillierte Informationen im Nanoskala von oben nach unten zugreifen, sondern auch auf Informationen über geneigte Proben oder Querschnitte. Der optionale Unterlinsen-Detektor und der Elektronenstrahlverlangsamungsmodus ermöglichen die schnelle und einfache gleichzeitige Erfassung aller Signale, um die kleinsten Merkmale der Materialoberfläche oder des Querschnitts aufzuzeigen. NICol-Chromatografie-Säulen mit vollautomatischer Ausrichtung für schnelle, präzise und reproduzierbare Ergebnisse.
Wissenschaftler und Ingenieure stehen ständig vor neuen Herausforderungen, die eine stark lokale Charakterisierung kleinerer Merkmale immer komplexerer Proben erfordern.Die Innovationen von Scios 2 DualBeam in Kombination mit der optionalen, benutzerfreundlichen und umfassenden Thermo Scientific AutoTEM 4-Software sowie dem Anwendungskompetenz von Symerfischer Technologie ermöglichen es Kunden, kundenspezifische hochauflösende S/TEM-Proben für eine Vielzahl von Materialien schnell und einfach vorzubereiten. Um qualitativ hochwertige Ergebnisse zu erzielen, ist die endgültige Polierung mit niedrigen Energieionen erforderlich, um Schäden an der Probenoberfläche zu minimieren. Die Thermo Scientific Sidewinder HT Focused Ion Beam (FIB)-Spiegeln bieten nicht nur eine hochauflösende Bildgebung und Fräskapazität bei hoher Spannung, sondern bieten auch eine gute Niederspannungsleistung, um TEM-Folien von hoher Qualität zu erstellen.
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Hauptmerkmale
Schnelle und einfache Vorbereitung
verwenden Die Sidewinder HT Ionensäulen erhalten qualitativ hochwertige, feldspezifische TEM- und Atomsonde-Proben.
Verwendet in breiterEigenschaften innerhalb eines breiten Probenbereichs (einschließlich magnetischer und nicht leitender Materialien)Thermo Scientific NICol Elektronenchromatografie Säulen.
Erhalten Sie einen klaren, präzisen und ladungsfreien Kontrast mit einer Vielzahl von integrierten Detektoren in der Chromatografie-Säule und unter der Linse.
Optional verwenden AS&V4 Software, die qualitativ hochwertige, multimodale Sub-Oberflächen- und 3D-Informationen liefert, indem Sie auf Interessengebiete genau zielen.
Sehr flexibel Die Thermo Scientific Nav-Cam Kamera mit 110 mm Tragständer und Kammern ermöglicht die Anpassung an die spezifischen Anwendungsanforderungen.
Es gibt spezielle Modelle wie DCFI、 Drift-Unterdrückung und Thermo Scientific SmartScan-Modus.
flexibel Die DualBeam-Konfiguration, einschließlich des optionalen Kammerdruck-Niedervakuummodus bis zu 500 Pa, erfüllt die spezifischen Anwendungsanforderungen.
Spezifikation
Elektronenstrahlauflösung |
·Bestes WD oderin 0,7 nm bei 30 keV STEM oderin 1,4 nm bei 1 keV oderin 1,2 nm bei 1 keV (Strahlverlangsamung) |
Elektronenstrahlparameterraum |
·Elektronenstrahlstrombereich:1% noch ·Landungsenergiebereich:20* eV – 30 keV ·Beschleunigungsspannungsbereich:200 V bis 30 kV ·Maximale horizontale Schützfeldbreite:3,0 mm bei 7 mm WD und 7,0 mm bei 60 mm WD ·Ultrabreiter Blickfeld mit Standard-Navigationsclips (1×) |
Ionenoptische Systeme |
·Beschleunigungsspannung:500 V bis 30 kV ·Elektronenstrahlstrombereich:1,5 pA bis 65 nA ·15 Position Licht Appendix ·Drift-Unterdrückungsmodus als Standardmodus für nicht leitende Proben ·Mindestlebensdauer der Ionenquelle:1.000 Stunden ·Ionenstrahlauflösung: Winkelauswahlmethode 3,0 nm bei 30 kV |
Detektoren |
·Trinity-Inspektionssystem (in den Spiegeln und in den Spektroskolonnen) oderT1 segmentierter Unterspiegel-Detektor oderT2 Spiegelditektor oderT3 ausdehnbarer Chromatografie-Kolumnendetektor (optional) oderbis zu 4 gleichzeitige Signale ·Everhart-Thornley SE-Detektor (ETD) ·Für sekundäre Ionen Hochleistungs-Ionenumwandlung und Elektronendetektor (ICE) für (SI) und Sekundärelektronen (SE) (optional) ·Ausdehnbarer, niederspannungsfähiger, kontrasthoher, segmentierter, Solid State Reverse Dispersion Elektronendetektor (DBS) (optional) ·mit Ausdehnbarer STEM 3+-Detektor für BF/DF/HAADF-Segmente (optional) ·Proben und Kammern ansehen IR-Kamera ·In der Kammer Nav-Cam Probe Navigationskamera (optional) ·Integrierte Strahlstrommessung |
Tragstelle und Proben |
flexibel 5 Achsen elektrische Plattform: ·XY-Bereich: 110 mm ·Z-Bereich: 65 mm ·Drehen:360° (unbegrenzt) ·Neigungsbereich:-15° bis +90° ·XY-Wiederholbarkeit: 3 μm ·Maximale Probenhöhe: Abstand zum Kozentruspunkt 85 mm ·Maximales Probengewicht bei 0° Neigung: 5 kg (einschließlich Probenhalter) ·Maximale Probengröße: * beim Drehen 110 mm (auch größere Proben, aber begrenzte Drehung) ·Drehung und Neigung des Rechenzentrums |