Willkommen Kunden!

Mitgliedschaft

Hilfe

Sanbin Instrument Technologie (Shanghai) Co., Ltd.
Kundenspezifischer Hersteller

Hauptprodukte:

instrumentb2b>Produkte

Thermo Symer Fly FEI Scan Elektroskop Ionenquelle Spot Angebot

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/08
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
16830 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam ist ein ultrahochauflösendes Analyse- #160; Fokussiertes Ionenstrahl-Scan-Elektronenmikroskop (FIB-SEM) System für eine ausgezeichnete Probenbereitung und 3D-Charakterisierung einer Vielzahl von Proben, einschließlich magnetischer und nicht leitender Materialien
Produktdetails

16830Thermo Symer Fly FEI Scan Elektroskop Ionenquelle Spot Angebot

Seymour fliegtFEL Teile Zubehör

16830 Ionenquellen

4035 273 12631 Ausziehen

4035 273 6 7441Licht Appendix

4035 272 35991Unterdrückungspol

4035 272 35971 Ausziehen

1058129 Ausziehen

1301684 Unterdrücker Unterdrückungspol

1096659 Öffnung Licht Appendix

1346158 PT

Das Thermo Scientific Scios 2 DualBeam ist ein hochauflösendes Analyse-System mit fokussiertem Ionenstrahl-Scan-Elektronenmikroskop (FIB-SEM), das eine hervorragende Probenvorbereitung und 3D-Charakterisierung für eine Vielzahl von Proben, einschließlich magnetischer und nicht leitfähiger Materialien, bietet. Scios 2 DualBeam verbessert Durchfluss, Präzision und Benutzerfreundlichkeit durch ein innovatives Funktionsdesign und ist die ideale Lösung für die Anforderungen von Wissenschaftlern und Ingenieuren an fortgeschrittene Forschung und Analyse in der akademischen, staatlichen und industriellen Forschung.

Hochwertige Unterflächen und 3D Informationen

Eine suboberflächene oder dreidimensionale Charakterisierung ist in der Regel erforderlich, um die Struktur und die Eigenschaften der Probe besser zu verstehen.Scios 2 DualBeam und die optionale Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) Software ermöglichen eine hochwertige, vollautomatische, multimodale 3D-Datensammelerfassung, einschließlich Rückstreuelektronenbildgebung (BSE) für maximalen Materialkontrast, Energiedispersionsspektroskopie (EDS) für Kompositionsinformationen und Elektronenrückstreibungsdiffraktion (EBSD) für Mikrostrukturen- und Kristallinformationen. In Kombination mit der Thermo Scientific Avizo-Software bietet Scios 2 DualBeam eine hohe Auflösung, eine erweiterte 3D-Charakterisierung und Analyse auf NanoskaleWorkflow-Lösungen.

Vollständige Probeninformationen in ultrahoher Auflösung

Innovativ Die NICol Elektronenchromatografie-Säulen bilden die Grundlage für die hochauflösende Bildgebungs- und Erkennungsfähigkeit des Systems. Es ist für eine Vielzahl von Arbeitsbedingungen geeignet und bietet hervorragende Details im Nanoskala, sei es im STEM-Modus von 30 keV (Zugriff auf Strukturinformationen) oder mit niedriger Energie (Erhalt detaillierter Oberflächeninformationen ohne Ladung). Scios 2 DualBeam verfügt über ein Thermo Scientific Trinity-Inspektionssystem im Spiegel, das speziell für die gleichzeitige Erfassung von Winkel- und Energieauswahlen von Sekundärelektronen (SE) sowie BSE-Bildgebungsdaten entwickelt wurde. Sie können nicht nur schnell auf detaillierte Informationen im Nanoskala von oben nach unten zugreifen, sondern auch auf Informationen über geneigte Proben oder Querschnitte. Der optionale Unterlinsen-Detektor und der Elektronenstrahlverlangsamungsmodus ermöglichen die schnelle und einfache gleichzeitige Erfassung aller Signale, um die kleinsten Merkmale der Materialoberfläche oder des Querschnitts aufzuzeigen. NICol-Chromatografie-Säulen mit vollautomatischer Ausrichtung für schnelle, präzise und reproduzierbare Ergebnisse.

Schnelle und einfache Herstellung von hoher Qualität TEM-Proben

Wissenschaftler und Ingenieure stehen ständig vor neuen Herausforderungen, die eine stark lokale Charakterisierung kleinerer Merkmale immer komplexerer Proben erfordern.Die Innovationen von Scios 2 DualBeam in Kombination mit der optionalen, benutzerfreundlichen und umfassenden Thermo Scientific AutoTEM 4-Software sowie dem Anwendungskompetenz von Symerfischer Technologie ermöglichen es Kunden, kundenspezifische hochauflösende S/TEM-Proben für eine Vielzahl von Materialien schnell und einfach vorzubereiten. Um qualitativ hochwertige Ergebnisse zu erzielen, ist die endgültige Polierung mit niedrigen Energieionen erforderlich, um Schäden an der Probenoberfläche zu minimieren. Die Thermo Scientific Sidewinder HT Focused Ion Beam (FIB)-Spiegeln bieten nicht nur eine hochauflösende Bildgebung und Fräskapazität bei hoher Spannung, sondern bieten auch eine gute Niederspannungsleistung, um TEM-Folien von hoher Qualität zu erstellen.

16830Thermo Symer Fly FEI Scan Elektroskop Ionenquelle Spot Angebot

Hauptmerkmale

Schnelle und einfache Vorbereitung

verwenden Die Sidewinder HT Ionensäulen erhalten qualitativ hochwertige, feldspezifische TEM- und Atomsonde-Proben.

Ultrahochauflösende Bildgebung

Verwendet in breiterEigenschaften innerhalb eines breiten Probenbereichs (einschließlich magnetischer und nicht leitender Materialien)Thermo Scientific NICol Elektronenchromatografie Säulen.

Die vollständigsten Probeninformationen

Erhalten Sie einen klaren, präzisen und ladungsfreien Kontrast mit einer Vielzahl von integrierten Detektoren in der Chromatografie-Säule und unter der Linse.

Hochwertige, multimodale Subflächen und 3D Informationen

Optional verwenden AS&V4 Software, die qualitativ hochwertige, multimodale Sub-Oberflächen- und 3D-Informationen liefert, indem Sie auf Interessengebiete genau zielen.

Genaue Probennavigation

Sehr flexibel Die Thermo Scientific Nav-Cam Kamera mit 110 mm Tragständer und Kammern ermöglicht die Anpassung an die spezifischen Anwendungsanforderungen.

Falsifikationsfreie Bildgebung und Kompositionsmuster

Es gibt spezielle Modelle wie DCFI、 Drift-Unterdrückung und Thermo Scientific SmartScan-Modus.

Optimieren Sie Ihre Lösung

flexibel Die DualBeam-Konfiguration, einschließlich des optionalen Kammerdruck-Niedervakuummodus bis zu 500 Pa, erfüllt die spezifischen Anwendungsanforderungen.




Spezifikation

Elektronenstrahlauflösung

·Bestes WD

oderin 0,7 nm bei 30 keV STEM

oderin 1,4 nm bei 1 keV

oderin 1,2 nm bei 1 keV (Strahlverlangsamung)

Elektronenstrahlparameterraum

·Elektronenstrahlstrombereich:1% noch

·Landungsenergiebereich:20* eV – 30 keV

·Beschleunigungsspannungsbereich:200 V bis 30 kV

·Maximale horizontale Schützfeldbreite:3,0 mm bei 7 mm WD und 7,0 mm bei 60 mm WD

·Ultrabreiter Blickfeld mit Standard-Navigationsclips (1×)

Ionenoptische Systeme

·Beschleunigungsspannung:500 V bis 30 kV

·Elektronenstrahlstrombereich:1,5 pA bis 65 nA

·15 Position Licht Appendix

·Drift-Unterdrückungsmodus als Standardmodus für nicht leitende Proben

·Mindestlebensdauer der Ionenquelle:1.000 Stunden

·Ionenstrahlauflösung: Winkelauswahlmethode 3,0 nm bei 30 kV

Detektoren

·Trinity-Inspektionssystem (in den Spiegeln und in den Spektroskolonnen)

oderT1 segmentierter Unterspiegel-Detektor

oderT2 Spiegelditektor

oderT3 ausdehnbarer Chromatografie-Kolumnendetektor (optional)

oderbis zu 4 gleichzeitige Signale

·Everhart-Thornley SE-Detektor (ETD)

·Für sekundäre Ionen Hochleistungs-Ionenumwandlung und Elektronendetektor (ICE) für (SI) und Sekundärelektronen (SE) (optional)

·Ausdehnbarer, niederspannungsfähiger, kontrasthoher, segmentierter, Solid State Reverse Dispersion Elektronendetektor (DBS) (optional)

·mit Ausdehnbarer STEM 3+-Detektor für BF/DF/HAADF-Segmente (optional)

·Proben und Kammern ansehen IR-Kamera

·In der Kammer Nav-Cam Probe Navigationskamera (optional)

·Integrierte Strahlstrommessung

Tragstelle und Proben

flexibel 5 Achsen elektrische Plattform:

·XY-Bereich: 110 mm

·Z-Bereich: 65 mm

·Drehen:360° (unbegrenzt)

·Neigungsbereich:-15° bis +90°

·XY-Wiederholbarkeit: 3 μm

·Maximale Probenhöhe: Abstand zum Kozentruspunkt 85 mm

·Maximales Probengewicht bei 0° Neigung: 5 kg (einschließlich Probenhalter)

·Maximale Probengröße: * beim Drehen 110 mm (auch größere Proben, aber begrenzte Drehung)

·Drehung und Neigung des Rechenzentrums