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Cangzhou, Hebei
Cangzhou Kexing Instrument Equipment Co., Ltd
Cangzhou, Hebei
Typ ZKU800U-Wertmesser für HohlglasÜbersicht:
ZKU800 Hohlglas-Stabilitäts-U-Wert-Tester basierend auf GB / T22476 "Berechnung und Bestimmung von Hohlglas-Stabilitäts-U-Wert (Wärmeübertragungskoeffizient)" Schutz-Wärmeplatte-Methode zur Messung von Hohlglas-Stabilitäts-U-Wert "Methode entwickelte Ausrüstung wird in verschiedenen Hohlglasmaterialien Produktionsunternehmen, verschiedenen relevanten Qualitätsprüfungsabteilungen, Einheiten, Hochschulen und Forschungsinstituten und anderen wissenschaftlichen Einheiten und Instituten angewendet.
2. Prüfprojekte:
Zur Messung von U-Werten für Hohlglas.
III. Grundsatz:
Unter stationären Bedingungen wird im zentralen Messbereich der Schutzplatteneinrichtung in einem homogenen Plattenproblem mit paralleler Oberfläche ein einheitlicher konstanter Wärmestrom aufgebaut, der ähnlich ist wie in einer unendlich großen Platte, die von zwei parallelen homogenen Temperaturplatten begrenzt ist.
4. Nach den Kriterien:
GB/T10294 Bestimmung des stabilen Wärmewiderstands und der entsprechenden Eigenschaften
GB/T22476 Berechnung und Bestimmung der U-Werte für Hohlglas (Wärmeübertragungssystem)
Typ ZKU800U-Wertmesser für HohlglasTechnische Parameter:
1, Testteilgröße: 800mm x 800mm x H (10 ~ 120) mm;
Messbereich des Wärmeübertragungskoeffizienten: (0,254,5) W / (m2 • K);
3, Wärmeübertragungskoeffizient Messgenauigkeit: ± 3%;
Wiederholbarkeit der Messung des Wärmeübertragungskoeffizienten: ± 1%;
5, Kühlplattentemperaturmessbereich: (-550) ℃;
Temperaturmessbereich der Heißplatte: (1080) ℃;
7, Temperaturmesswert des Wärmeübertragungskoeffizientmetters: Einstellungstemperatur der Kühlplatte: 2,5 ° C; Heißplatte
Festgelegte Temperatur: 17,5 ° C;
Temperaturauflösung: 0,01 ℃;
Testraumtemperatur: (23 ± 2) ℃;
Laborfeuchtigkeit: (4060)% RH;
Versorgungsspannung: 220V, 5kw;
Anzahl der Proben: 2 identische Proben;
Laborumfeldanforderungen:
Versorgungsspannung: 220V, Dreiphase-Fünf-Leiter-System;
Labortemperatur: (23 ± 2) ℃;
Laborfeuchtigkeit: (4060)% RH; :
Die experimentelle Ausrüstung beherbergt Platz: 1580mm x 1200mm x 2300mm.
6. Struktur der Testeinrichtung:
Verwenden Sie die Dual-Testteil-Schutz-Heizplatte-Methode (GB10294, GB / T22476), bestehend aus Mikrocomputer-automatisches Steuersystem, Dosierheizungseinheit, Kühlplatteneinheit, Schutzeinheit, externe Schutzeinheit, Messsystem, Drucksystem, Kühlgerät usw.
1. Automatisches Mikrocomputer-Steuerungssystem:
Das Ausgangssignal des Computers steuert die entsprechenden Ausführungskomponenten durch I/O- und D/A-Konvertierung, um Temperaturregelung, Berechnung, Temperaturerfassung, Druck von Testberichten, Anzeige von Prozesskurven und andere Funktionen zu erreichen. Das Mensch-Maschine-Dialogfenster zeigt alle Temperaturwerte an und verfügt über eine Selbstdiagnose.
2, Messheizungseinheit:
Die Verwendung einer ausgezeichneten Wärmeleitfähigkeit als Heizplatte, weil sie eine hohe Wärmeleitfähigkeit hat, macht die Heizplattentemperatur gleichmäßiger und die Wärmeträgheit geringer, so dass die Messergebnisse genauer sind.
3. Kühlplatteneinheit:
Die Temperatur der beiden Kühlplatten kann mit thermostatischem Wasserbehälter gesteuert werden, die Kühlplattentemperatur kann eingestellt werden, und der Mikrocomputer kann automatisch gesteuert werden, um den Temperaturunterschied auf beiden Seiten zu steuern.
4. Schutzeinheit:
Verwenden Sie das gleiche Plattenmaterial wie die Messheizungseinheit, um die Temperaturdifferenz auf beiden Seiten präzise zu steuern und Testfehler zu verringern.
5. Außenschutzeinheit:
Die Verwendung einer Schutzhülle aus Kork als äußere Schutzeinheit macht die experimentellen Umgebungsbedingungen stabiler und fördert eine verbesserte Prüfgenauigkeit.
6. Messsystem:
Mit dem stabileren digitalen Temperatursensor Dallas 18B20 in den USA und einem hochpräzisen Gleichstrom-Leistungssensor werden die Daten genauer erfasst.
7. Drucksystem:
Mit pneumatischer Technologie wird das Prüfteil automatisch unter Druck des Zylinders gedrückt, ohne manuelle Anpassung der Druckkraft, so dass die Montage des Prüfteils sehr bequem ist.
8. Kühlgeräte:
Die Möglichkeit, die Kühlplattentemperatur schnell zu senken und die Durchschnittstemperatur des Probens unter Raumtemperatur zu messen, ermöglicht eine größere Prüfreihe und ist nicht von der Umgebungstemperatur beeinflusst.