Spm Scan-Sondemikroskop

Spm Scan-SondemikroskopEs ist ein professionelles Atomkraftmikroskop mit einem Z-Achsen-Rauschen unter 35 Pim. Das Gerät kann die dreidimensionale Form und die mehrphasige Struktur der Mikrozone beobachten, ohne die interne Struktur der Probe zu zerstören; Gleichzeitig können die physikalischen und chemischen Eigenschaften der Probenoberfläche untersucht, numerisch bestimmt und analysiert werden.

HR-AFM Atomkraftmikroskop in der inländischen Produktion

Standardbetriebsmodus: Vibrationsmodus, Kontaktmodus, Phasenbildgebung, LFM, Kraftkurve, Nanomanipulation, Nanolithographie, Kraftmapping, Reibungsprüfung

Optionale Arbeitsmodi: Leitungsatommikroskop (C-AFM), Magnetkraftmikroskop (MFM), Elektrostatikmikroskop (EFM), Scannpotentialmikroskop (SKPM).

Spm Scan-SondemikroskopEs verfügt über eine automatische Softwarefunktion. Sondenautomatisierung durch Softwaresteuerung des Z-Richtungsmotors

X, Y, Z Drei-Achsen-Trennung Scanner

Scanbereich 100 x 100 x 17 μm

Z-Achse Auflösung 0,035nm

Probe Tisch Größe: 25mm * 25mm * 18mm

Bediensoftware: Kostenlose Bediensoftware sowie Wartung und Upgrades mit der Sprachsteuerung der Umgebung Laview

Bereitstellung des Datenanalysesystems Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE

Optische Auflösung ≤2 µm

Sichtfeldbereich von 2mm * 2mm bis 300um * 300um verstellbar, Vergrößerung von 45x bis 400x mechanisch verstellbar

Seitensichtssystem, das eine Visualisierung der Unternadel bietet, die den Unternadelprozess durch eine präzise Computer-Beobachtung steuert und einen Aufprall verhindert