Kompaktes Atomkraftmikroskop

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Das kompakte Atomkraftmikroskop kann die dreidimensionale Form und die mehrphasige Struktur der Probe beobachten, ohne die innere Struktur der Probe zu zerstören; Gleichzeitig können die physikalischen und chemischen Eigenschaften der Probenoberfläche untersucht, numerisch bestimmt und analysiert werden.

Produktdetails

Kompaktes AtomkraftmikroskopArbeitsmodus:

1. Standardbetriebsmodus:

1.1 Trickmodus (Vibrationsmodus)

Kontaktmodus (Contact Mode)

Phasenbildgebung (Phase Imaging)

Laterale Kraftmikroskopie (LFM)

1,5 Messbares Yang-Modul mit der Kraftkurve

Nanomanipulation (Nanomanipulation)

1,7 Nanometer (Nanolithographie)

Kraftmapping (Force Mapping)

1.9 Reibungsprüfung (Friction Mode)

2. Optionale Arbeitsweise:

2.1 Magnetmikroskopmodus (MFM-Modus)

Elektrostatisches Mikroskop (EFM-Modus)

Leitmikroskopmodus (C-AFM-Modus)

Flüssiger Scanmodus (Liquid Scan Mode)

AFMWorkshop ist ein spezialisiertes Unternehmen, das sich auf das Design und die Herstellung von Atomkraftmikroskopen spezialisiert hat. Der Gründer des Unternehmens ist Dr. Paul West mit 30 Jahren Erfahrung im Bereich der Atomkraftmikroskopie und Autor des Lehrmaterials Atomic Forces Microscopes.

Kompaktes AtomkraftmikroskopTechnische Parameter

Scanbereich: 100 μm, 50 μm, 15 μmZ

Richtungsbereich: 17 μm, 7 μm

XY-Antriebsoplösung: 0,01 nm

Z-Richtungsantrieb Auflösung: 0,003 nm

Messgeräuschpegel in Z-Richtung: 0,15 nm

Probengröße: Durchmesser 25mm

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