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Shanghai Yuwangxin Elektronik Technologie Co., Ltd.
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Halbleiterprüfsysteme

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ACS-Software, ACS Basic, $r$nACS Wafer-Ebene-Zuverlässigkeitsoptionen Die ACS-basierte Lösung basiert auf der Lücke zwischen einer laborbasierten Einstellung und einem High-Speed-Produktions-Test-System in Kombination mit verschiedenen Messgeräten an der Quelle oder dem integrierten Testsystem S500 in Gibraltar.

Produktdetails

Produkteigenschaften

ACS ist eine flexible, interaktive Software-Testumgebung, die viele Instrumente- und Parametertestsysteme unterstützt.

Modell ACS-2600-RTM Optionen und SerieSerie 2600BUniquell-Messgeräte bieten Zuverlässigkeitslösungen auf Wafer-Ebene.

ACS Basic ist für die Prüfung von Komponenten und diskreten Geräten optimiert.ACS Unterstützung aus dem QualitätskontrolllaborBenutzt Desktop-Instrumente bis aufAutomatische Parametertester für Racks usw.Hardware.Messung von Komponenten und diskreten GerätenVersuchen Sie, ACS Basic Version maximalVerbesserung der Forschungs- und Entwicklungseffizienz.

ACSDie intuitive GUI vereinfacht die Erstellung von Testplänen, die Ausführung von Tests und die Analyse der Ergebnisse; Entwicklung und Durchführung von Tests auf Geräteebene, Standortebene, Wafer- und Komponentenebene; Unterstützt verschiedeneInstrument- und Systemkonfiguration, einschließlich mehrerer SMU-Parallelprüfsysteme; Vollständige Steuerung von halbautomatischen und vollautomatischen Sondeneinrichtungen; Interaktive Echtzeit-Datendarstellung

ACS BasisversionEinfach zu bedienende GUI mit einer umfangreichen Gerätebibliothek zur Prüfung von MOSFETs, BJTs, IGBTs, Dioden, Widerständen usw. Unterstützt verschiedene Instrumente, einschließlich2600B-Messgerät mit SMU-Quelle und 2650A-Messgerät mit SMU-Quelle mit hoher Leistung; Die Konfiguration des Parameter-Diagramms von GISLI wurde mit der Basic-Version der Software von GISLI ACS ausgezeichnet; InteraktionEchtzeit-Datendarstellung; Testentwicklung mit lizenzfreier Software auf einem PC

ACS-2600RTMZuverlässigkeitsoptionen auf Wafer-Ebene von ACS; 2 bis 44 Messkanäle an der Quellenseite konfigurierbar; Unterstützung für sequentielle und parallele Tests; Integration von Multi-Site-Funktionen; UmfassendeJEDEC-Standard-Test-Kit; Echtzeit-Zeichnung und Wafer-Vermessung

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