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Shanghai Jiayi Präzisionsinstrumente Co., Ltd.
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Halbleiter-Sonden-Kältegerät

VerhandlungsfähigAktualisieren am05/07
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Übersicht

Die HEMADE MHS300G-4P und MHS600G-4P Halbleitersondenkühlgeräte sind speziell für die Entwicklung und das Testen von Halbleiterchips konzipiert. Diese Sondenkühlstation verfügt über eine hochpräzise Sondenverschiebungsplattform, eine gute Luftdichtigkeit und eine präzise Temperaturregelung.

Produktdetails

HEMADE MHS300G-4P und MHS600G-4PHalbleiter-Sonden-KältegerätEs ist ein speziell für die Entwicklung und das Testen von Halbleiterchips entwickeltes Produkt. DiesesHalbleiter-Sonden-KältegerätDie Heizstation verfügt über eine hochpräzise Sondenverschiebungsplattform, eine gute Luftdichtigkeit und eine präzise Temperaturregelung.


Temperaturbereich: -196 ℃ ~ 600 ℃

Heizungsbereich: φ27mm

Sondenstrecke: 13mm

Sondenverschiebungsgenauigkeit 1μm

Durchmesser der Sondenspitze (Standard) 100μm

Arbeitsabstand des Objektivs: 15mm

Durchmesser: 2mm

Maximale Erwärmungsgeschwindigkeit: 0 ~ 150 ℃ / min

Beobachtungsfenster: φ40mm

Temperaturgenauigkeit: 0,1 ℃

Unterstützung für Reflexion/Transmission

Unterstützung für Änderungen und Anpassungen

Softwaresteuerung



Modell

MHS300G-4P

MHS600G-4P

Temperaturkontrollmodule

Kühlung/Heizung

Flüssigstickstoffkühlung, Widerstandsbeheizung


Temperaturregelbereich

-196~300°C*

-196~600°C*


Temperaturstabilität

±0.1°C


Temperaturauflösung

0.1°C


Maximale Erwärmungsgeschwindigkeit

0 bis 150°C/min (feststellbare Temperatur)


Temperatursteuerung

PID


Temperatursensoren

PT100

Optische Eigenschaften

Lichtweg

Reflexions-/Transmittionsweg (optional)


Fenstermaterial

Quarzglas*


Fenstergröße

φ40mm*


Fensterdicke

0,5 mm*


Arbeitsabstand der Objektive

15 mm*


Lichtdurchlässigkeit

φ2mm*

Elektrische Eigenschaften

Sonden

Mobiles Sondenmodul x4*, manuelle Einstellung XYZ


Sondenreise

13 mm


Sondenverschiebungsgenauigkeit

1μm


Sondenschnittstelle

SMA-Schnittstelle x4*


Sondendurchmesser

10 / 50 / 100 μm*


Probenpotential

Erdung (Standard-Erdung) / Elektrische Aufhängung / Tri-Coaxial* (optional)

Strukturelle Eigenschaften

Probengröße

φ27mm*


Mustermaterial

Kupfer*

Reines Silber*


Abmessungen

460x290x82mm*


Probenhöhe

12mm*


Kammer

Luftdicht

Grundkonfiguration

Wärmeanlage x1, Temperaturregelung x1, Tieftemperaturanlage x1, Flüssigstickstoffbehälter 2Lx1, Wasserzirkulationsanlage x1, Temperaturregelungssoftware

Auswahl

PC-Host / Tablet / Touchscreen / Montagefestiger / Vakuumsystem / Andere Anpassungen

Bemerkung

Diese sind Standard-Parameter * sind anpassbar

Weitere optionale Modelle

Konfiguration nach Bedarf



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