Excipolar SHG Sekundärharmonische Mikroskopie und Charakterisierungssystem,Sekundäres harmonisches Bildgebungssystem
Entworfen für Anwendungen wie nichtlineare Optik, 2D-Materialien, Eisen-/Piezoelektrische Geräte, Halbleiterkristalle und Biokollagen-Bildgebung.
Excipolar SHG ermöglicht die Bildgebung und die quantitative Charakterisierung von Proben mit einer nicht linearen Polarisationsrate von zweiter Ordnung χ(2) durch eine femtosekunde/picosekunde-Stimulation in Kombination mit einer polarisierten konfokalen Bildgebungsverbindung. Das System integriert die automatisierte Polarisationssteuerung und die Leistungs-/Reaktionskalierung, um die Erfassungseffizienz zu verbessern und den Grundfrequenzhintergrund zu unterdrücken und gleichzeitig Instrumentfehler zu verringern; Mit einem Klick können Kristallsymmetrie und Spindelbestimmung, Kategorien-/Orientierungsmappungen, Schichtzahlerkennung sowie Spannungs- und Orientierungsanalysen mit Raman/PL-Koaxien durchgeführt werden, um Bildgebung, Spektrum- und Polarisationsmessungen in einen ganzheitlichen Prozess zu integrieren.

Schema des SHG-Programms
Sekundäres harmonisches TestsystemHauptmerkmale
• Partial-Cofocal-Path: Stimulation – sammelt die gesamte Verbindung zur polarisierten Haltung und passt sich polarisierungsabhängigen SHG-Messungen an.
• Bildgebung × spektrale Verknüpfung: SHG Mikroskopie und Spektrum im gleichen Sichtfeld mit einem Klick schalten; Die Auswahl des Feldes ermöglicht die automatische Spektrifizierung und Statistik.
• Automatisierte Polarisationsanalyse: Elektronische Ablenkung/Inspektion und Wellenscanning zur Erzeugung von Polarisationsrosen und P-SHG-Kurven mit Unterstützung für χ(2) Tension- und Punktgruppenanpassungen.
• Doppelte Kalibrierung der Stärke / Reaktion: Die Einheit der Leistung parallel zur Korrektur der Reaktion des Instruments reduziert Systemfehler und gewährleistet die Vergleichbarkeit zwischen verschiedenen Chargen / Proben.
• Multigeometrische Messungen: Reflexion, Transmission und Oberfläche-SHG-Freischaltung, Unterstützung für Winkelauflösung und Z-Scan zur Phasenübereinstimmung und Schnittstelleninformationen.
• Koaxiale Kombination: Koaxial mit Raman / PL, der optische Weg muss nicht neu eingestellt werden, die Karte wird gegenseitig bewiesen, um einen One-Stop-Charakterisierungsprozess zu bilden.
• Effiziente Farbtrennung und Filterung: starke Unterdrückung der Basisfrequenz, bevorzugt durch sekundäre Harmonien, die das Signal-Rausch-Verhältnis und die schwache Signalsichtbarkeit erheblich verbessern.
• Vorschau- und Gegenstandsfreundlichkeit: Echtzeit-Vorschau der Kamerakanale, Mikrozone-Gegenstand und großes Sichtfeld-Splicing; Kompatibel mit 2D-Materialtransfer-/Charakterisierungsplattformen.
• Prozesssoftware: Ein-Klick-Messung, Batch-Bearbeitung und Berichtsexport mit integrierter Skriptschnittstelle für die Automatisierung und Sekundärentwicklung.
• Sicherheit und Skalierbarkeit: Leistungsverschlüsselung und niedrige Dosen-Workflows gewährleisten die Probensicherheit; Optionale Module wie THG/EFISHG, Temperaturregelung, elektrische Feld-/Spannungslast sind einsetzbar.
Sekundäres harmonisches Testsystem,Sekundäres harmonisches BildgebungssystemAnwendungsbereiche:
• 2D-Materialien: Schichtzahl und Symmetriebestimmung, Achsen- und Drehwinkelmessung, Kategorienstruktur und Spannung - Orientierungsmappung
• Eisen- und piezoelektrische Geräte: Kategorienstruktur und umgekehrte Grenzbebildung; Plus in situ SHG Änderungen unter elektrischem Feld
Halbleiter-/Photonengeräte: Beurteilung der Kristallinformation und der Schnittstellenqualität wie LN/GaN/AlN
• Oberflächen und Schnittstellen: Dynamische S-SHG-Überwachung in situ der Adsorption/Funktionalisierung/Oxidation
• Biologische und weiche Substanzen: Färbungsfreie Strukturbildgebung und heterosexuelle Analyse wie Kollagen

SHG-Intensitätsdiagramm von CdSe bei 1550nm-Anregung