Scan-Elektronenmikroskop SU3500

Scan-Elektronenmikroskop SU3500

Hochwertiges Wolframmdraht-Scan-Elektroskop, Bildqualität ist ein Schritt weiter.

Die fortschrittliche Technologie von Hitachi wird durch eine hohe Bildqualität verbessert, um die Analysefähigkeit und die Bedienbarkeit des Scannelektroskops zu verbessern. Das SU3500 Wolframmdraht-Scan-Elektroskop verfügt über ein neues elektronisches optisches System, das eine "3 kV-Beschleunigungsspannungs-7 nm-Auflösung" erreicht, eine "Echtzeit-Stereo-Beobachtungsfunktion" für Echtzeit-Stereo-Bildgebung * 1 und einen "UVD-Ultra-Hochempfindliche Variable-Druckdetektor" * 1 mit höherer Erkennungseffizienz ermöglicht.

*1: Selbstgewählt

Merkmal

1. Eine höhere Auflösung bei der Beobachtung der niedrigen Beschleunigungsspannung, die die feine Form der Probenoberfläche besser beobachtet und die Schäden an der Probe effektiver reduziert

2. Neu entwickeltes elektronisches optisches System und Signalverarbeitungstechnologie ermöglichen hohe Geschwindigkeit und geräuscharme Beobachtung

Verglichen mit früheren herkömmlichen Scan-Elektronenmikroskopen verkürzt *2 die automatische Funktion *3 um etwa 11 Sekunden

"UVD (Ultra-High Sensitivity Variable Pressure Detector)" mit einer sehr guten Beobachtung der feinen Form der Probenoberfläche bei niedrigem Vakuum*4

4. "Echtzeit-Stereo-Beobachtungsfunktion" mit Echtzeit-Stereo-Bildgebung*4

*2: Im Vergleich zum Hitachi SEM S-3400N

*3: Die Zeit kann sich je nach Beobachtungsbedingungen ändern.

*4: Selbstgewählt

Spezifikationen: