Sarspec Spektrometer X-RES

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X-RES ist ideal für Spektrometer, die eine hohe Auflösungsleistung erfordern, und ist in der Lage, eng angeordnete spektrale Merkmale mit einer Genauigkeit von bis zu 0,05 nm (FWHM) zu analysieren. Die X-RES ist auf einem robusten, kompakten optischen Tisch mit einem Brennabstand von 100 mm installiert und bietet hohe Leistung und Empfindlichkeit sowie eine größere Spitzensymmetrie im Arbeitswellenlängenbereich, was die Spektrometer-Serie zu einer Lösung für Anwendungen mit hoher Auflösung macht.

Produktdetails

Produktname:Sarspec Spektrometer X-RES

Produktnummer:X-RES 1

Produkteinführung

X-RES ist ideal für Spektrometer, die eine hohe Auflösung erfordern.genauDuda 0,05 nm (FWHM) eng angeordnete Spektrale Eigenschaften. X-RES ist auf einem robusten, kompakten optischen Tisch mit einer Brennweite von 100 mm installiert und kann im Arbeitswellenlängenbereich angeboten werdenhochDie Leistung und Empfindlichkeit sowie die größere Spitzensymmetrie machen die Spektrometer-Serie zu einer Lösung für Anwendungen mit hoher Auflösung.

Funktionen wie der Austausch von Schlitzen und optischen Filtern, Stromzustandsanzeigen und Auslöserfunktionen ermöglichen die Integration dieses Spektrometers in Ihre Einstellungen.X-RES bietet sowohl einsatzbereite (für häufigere Anwendungen) als auch benutzerdefinierte (für spezifische Anwendungen) Konfigurationen für enge UV-Vis- und Vis-NIR-Bereiche sowie erweiterte UV-Vis-NIR-Bereiche.

Leistungsmerkmale

lIdeal für Anwendungen mit hoher Auflösung

lDer Benutzer kann Schlitze und optische Filter austauschen

lNiedrige optische Auflösung 0,05 nm (FWHM)

lVerbessertes optisches Design - Brennweite von 100 mm

lZubehör LightScan Software

Auswahlanleitung

Technische Parameter

Herkunft: Portugal

Betriebsbereich:185-1100 nm (in 8 Betriebsbereiche unterteilt)

Fokussierlinse: Optional (in der Version mit erhöhter Empfindlichkeit enthalten)

Faserverbinder:SMA 905

Auslöser: Eingang/ Ausgabe

Schlitzgröße:10 μm (austauschbar)

Detektoren:3648 Teile von Toshiba

Integrationszeit:3ms-214s

Software:LightScan (enthalten)

Raster: je nach gewähltem Bereich

Optische Auflösung:0,05 bis 0,1 nm

Schnittstelle:Mini-USB

Produktanwendungen

X-RES ist ein hochauflösendes Spektrometer, das alle Anforderungen Ihrer hochauflösenden Anwendung erfüllt.

Benutzerwechselbare Schlitze und optische Filterfunktionen ermöglichen die Einstellung X-RES für empfindlichere Messungen. Diese Flexibilität in Kombination mit einer verbesserten Empfindlichkeit macht das System zu einer Lösung für Anwendungen mit hoher Auflösung wie Wellenlängeneigenschaften von Lasern und LEDs, die Überwachung der spektralen Emissionslinien der kalibrierten Quelle oder die Bestimmung der Emissionslinien von Elementatomen.

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