Forschungsklasse Positioniertes Materialmikroskop Axioscope

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Axioscope ist ein Forschungsmikroskop für die Messung von Korngrößen, Phasengehalten und Membransticken. Metallographie, Polarisation und Komplettlösungen für die Materialwissenschaft. Durch die C-DIC-Beobachtung (Circular Polarity Differential Interference Coating) können kleine schwimmende Strukturen (100um) wie Kratzer auf der Probenoberfläche hervorgehoben werden.

Produktdetails

Positioniertes Materialmikroskop für Forschung Modell: Axioscope

研究级正置材料显微镜 Axioscope

Forschungsklasse Positioniertes Materialmikroskop AxioscopeDie Serie eignet sich für die Datenqualität undDie Wiederholbarkeit erfordert eine hohe Prüfung.

Produktfunktionen: Können Korngröße, Phasengehalt und Membransticke messen; Metallographie, Polarisation und Komplettlösungen für die Materialwissenschaft.

Forschungsklasse Positioniertes MaterialmikroskopAxioskopKernparameter:

Optische Systeme:Unbegrenzte Farbkorrektur und kontrastverbesserte optische Systeme.

Objektiv:5x、10x、20x、50x、100x， Optional 1,25x, 2,5x, 40x und 150x.

Brille:10x und 23.

Beobachtungsfunktion:Reflektiertes Licht hat Hellfeld, ADF Advanced Darkfield, Circular Polarisation, Differential Interference und Fluoreszenz.

Objektiv drehen:Sechs Löcher.

Anwendungsfälle:Durch die C-DIC-Beobachtung (Circular Polarity Differential Interference Coating) können kleine schwimmende Strukturen (100um) wie Kratzer auf der Probenoberfläche hervorgehoben werden.

研究级正置材料显微镜 Axioscope

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