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Hitachi High-Tech (Shanghai) International Trade Co., Ltd.
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Ultrahochauflösende Feld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskope Regulus-Serie

VerhandlungsfähigAktualisieren am05/20
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Die bestehenden Modelle SU8240, SU8230, SU8220 und SU8010 wurden zu Regulus 8240, Regulus 8230, Regulus 8220 und Regulus 8100 neu integriert. Die "Regulus-Serie" erbt die Beobachtungs- und Analyseleistungen bestehender Modelle und ist mit einer geräuscharmen Elektropistole mit kaltem Feld*1 der SU8200-Serie ausgestattet, um einen hochstabilen Strahlstrom zu erzielen. Durch die Optimierung der elektronischen Optik wurde die Regulus 8240/8230/8220 bei 1 kV auf 0,7 nm aufgelöst und die Regulus 8100 auf 0,8 nm. Darüber hinaus wurde die Vergrößerung von 1 Million auf 2 Million*1 erhöht, um die Leistung der Ultrahochauflösung voll auszuschöpfen. Regulus 8240/8230/8220/8100 erweitert auch die Benutzerunterstützung, die den Benutzern hilft, die Erkennungsprinzipien komplexer Signale besser zu verstehen und die optimale Leistung ihrer Geräte zu nutzen. *1 Nur für Regulus 8240/8230/8220

Produktdetails

Ultrahochauflösende Feld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskope Regulus-Serie

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超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列

Die bestehenden Modelle SU8240, SU8230, SU8220 und SU8010 wurden zu Regulus 8240, Regulus 8230, Regulus 8220 und Regulus 8100 neu integriert.

Die 'Regulus-Serie' erbt die Beobachtungs- und Analyseleistungen bestehender Modelle mit einer geräuscharmen Elektropistole mit kaltem Feld der SU8200-Serie*1Sie können eine hohe Stabilität erreichen.

Durch die Optimierung der elektronischen Optik erhöht sich die Regulus 8240/8230/8220 bei 1 kV auf 0,7 nm und die Regulus 8100 auf 0,8 nm.

Darüber hinaus wurde die Vergrößerungsrate von einer Million auf zwei Millionen Mal erhöht, um die Fähigkeit der ultrahohen Auflösung voll zu nutzen.*1.
Regulus 8240/8230/8220/8100 erweitert auch die Benutzerunterstützung, die den Benutzern hilft, die Erkennungsprinzipien komplexer Signale besser zu verstehen und die optimale Leistung ihrer Geräte zu nutzen.

*1
Nur für Regulus 8240/8230/8220

  • Eigenschaften

  • Spezifikationen

Eigenschaften

  • Kaltfeld-Elektropistole mit der 'SU8200-Serie'*2
  • Die Stabilitätsbereiche mit hoher Helligkeit, die nach dem Blinken auftreten, als Intervall für stabile Beobachtungen ermöglichen eine optimale Leistung für hochauflösende Beobachtungen und Analysen unter niedrigen Beschleunigungsspannungsbedingungen
    (Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV)
  • Kleines, hochvakuumiges Probenlager mit Verschmutzung
  • Mit einem Energiefilter (optional) können verschiedene Komponentenkontraste beobachtet werden*2

Hochauflösende Beobachtung bei extrem niedriger Landungsspannung

极低着陆电压下高分辨观察
Probe: Goldpartikel
Landespannung: 10 V

Ultrahochauflösende Beobachtung

超高分辨观察
Probe: Pt-Katalysator
Beschleunigungsspannung: 30 kV

Hochauflösende EDX-Analyse bei niedriger Beschleunigungsspannung

低加速电压下高分辨EDX分析
Beispiel: Sn Ball
Landespannung: 1,5 kV

*2
Nur für Regulus 8240/8230/8220

Spezifikationen

Projekte Regulus 8100 Regulus 8220 Regulus 8230 Regulus 8240
Sekundäre elektronische Auflösung 0.7 nm
(Beschleunigungsspannung 15 kV)
0.8 nm
(Landspannung 1 kV)*3
0,6 nm (Beschleunigungsspannung 15 kV)
0,7 nm (Landungsspannung 1 kV)*3
Landungsspannung 0.1~2 kV 0.01~20 kV
Vergrößern 20 bis 1.000.000 Mal*4 20 bis 2.000.000 Mal*4
Probentesch Probenstücksteuerung 3-Achs-Motortisch (optional 5-Achs-Motortisch) 5 Achsen Motorantrieb
Bewegungsbereich X 0~50 mm 0~50 mm 0~110 mm 0~110 mm
Y 0~50 mm 0~50 mm 0~110 mm 0~80 mm
R 360°
T -5~70°
Z 1.5~30 mm 1.5~40 mm
Reproduzierbarkeit - - - ±0,5 µm unter ±0,5 µm
*3
Beobachtung im Bremsungsmodus
*4
Vergrößerung basierend auf 127 mm x 95 mm Filmen

Verwandte Produktkategorien

  • Fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB/FIB-SEM)
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