Regulus-Serie (Ultrahochauflösende Emissions-Scan-Elektronenmikroskope)

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Die Regulus-Serie der bestehenden Modelle SU8240, SU8230, SU8220 und SU8010 wurden in die Regulus 8240, Regulus 8230, Regulus 8220 und Re...

Produktdetails

Ultrahochauflösende Feld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskope Regulus-Serie

Die Regulus Serie

Die bestehenden Modelle SU8240, SU8230, SU8220 und SU8010 wurden zu Regulus 8240, Regulus 8230, Regulus 8220 und Regulus 8100 neu integriert.

Die "Regulus-Serie" erbt die Beobachtungs- und Analyseleistungen bestehender Modelle und ist mit der SU8200-Serie mit einer geräuscharmen Elektropistole für kaltes Feld*1 ausgestattet, um einen hochstabilen Strahlstrom zu erzielen.

Durch die Optimierung der elektronischen Optik erhöhten die Regulus 8240/8230/8220 die Auflösung auf 0,9 nm bei 1 kV und die Regulus 8100 auf 1,1 nm, wodurch die Beobachtungsleistung im Vergleich zu den bestehenden Modellen um etwa 20% verbessert wurde.

Darüber hinaus wurde die Vergrößerungsrate von 1 Mio. auf 2 Mio.*1 erhöht, um die hohe Auflösung voll zu nutzen.
Regulus 8240/8230/8220/8100 erweitert auch die Benutzerunterstützung, mit der Benutzer die Erkennungsprinzipien komplexer Signale leichter verstehen können und die optimale Leistung ihrer Geräte nutzen können.

Nur für Regulus 8240/8230/8220

Eigenschaften

Weitere Elektropistolen mit Kaltfeldabwehr der "SU8200-Serie"*2
Die Verwendung des Elektronenstrahlstabilisierungsbereichs mit hoher Helligkeit, der nach dem Blinken auftritt, als Intervall für stabile Beobachtungen ermöglicht eine gute Leistung bei hoher Auflösung bei Beobachtungen und Analysen unter niedrigen Beschleunigungsspannungsbedingungen
Erhöhte Auflösung um rund 20 % im Vergleich zu bestehenden Modellen
(Regulus8240/8230/8220: 0.9 nm/1 kV、Regulus8100: 1.1 nm/1 kV)
Kleines, hochvakuumiges Probenlager mit Verschmutzung
Mit einem Energiefilter (optional) können verschiedene Komponentenkontraste beobachtet werden*2

Hochauflösende Beobachtung bei extrem niedriger Landungsspannung