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Polarisationsmikroskop XPN-400AE/Z

VerhandlungsfähigAktualisieren am06/18
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Übersicht

Die XPN-400A-Serie ist das am häufigsten verwendete professionelle experimentelle Instrument in Abteilungen wie Geologie, Mineralien, Metallurgie und verwandten Hochschulen. Hochpräzises Polarisationsmikroskop ist für eine Vielzahl von Anwendern zur Monopolarisierung, Ortogonaler Polarisation, Kegelbeobachtung und Mikrofotografie verfügbar. Transreflektierende Polarisationsmikroskope mit Zubehör wie Gips λ, Magma λ/4-Proben, Quarzkeilen und Bewegungsstängen können auch in Bereichen wie der chemischen Faserindustrie, der Halbleiterindustrie und der Arzneimittelprüfung eingesetzt werden.

Produktdetails

Detaillierte technische Parameter des Polarisationsheißtischmikroskops XPN-400AE/Z

I. Verwendungszweck

Die XPN-400A-Serie ist das am häufigsten verwendete professionelle experimentelle Instrument in Abteilungen wie Geologie, Mineralien, Metallurgie und verwandten Hochschulen. Hochpräzises Polarisationsmikroskop ist für eine Vielzahl von Anwendern zur Monopolarisierung, Ortogonaler Polarisation, Kegelbeobachtung und Mikrofotografie verfügbar. Transreflektierende Polarisationsmikroskope mit Zubehör wie Gips λ, Magma λ/4-Proben, Quarzkeilen und Bewegungsstängen können auch in Bereichen wie der chemischen Faserindustrie, der Halbleiterindustrie und der Arzneimittelprüfung eingesetzt werden.


II. Systemeinleitung

Transreflektiertes Polarisationsmikroskopsystem ist ein erfolgreiches Hightech-Produkt, das präzise optische Mikroskoptechnologie, fortgeschrittene optische Konvertierungstechnik und modernste Computerbildverarbeitungstechnologie perfekt kombiniert. Sie können dynamische Bilder in Echtzeit beobachten und die gewünschten Bilder bearbeiten, speichern und drucken.

Technische Parameter:

1. Brille:


Kategorien Vergrößern Sichtfeld (mm)
Flache Brille 10X φ22
Kreuzbrille 10X φ20

2. Objektiv:


Kategorien Vergrößern Durchmesser (NA) Arbeitsabstand (mm) Schiebedicke (mm)
Objektive 4X 0.10 7.18 -
10X 0.25 4.70 0.17
40X 0.65 0.72 0.17
60X 0.85 0.18 0.17

Vergrößerung: 40x 100x 400x 600x

Systemvergrößerung: 40X-2600X

4. Numerale Öffnung des Fokussierspiegels: NA1.2 / 0.22 Schüttelfarbdifferenz-Fokussierspiegel, zentral einstellbar

5. Abspiegel: 360 ° einstellbare Vibrationsrichtung, mit Verriegelungseinrichtung, beweglicher Lichtweg

6. Überprüfungsspiegel: Wechselbar aus dem Lichtweg, Drehbereich 90 °, eingebauter Brech-Spiegel, zentral einstellbar

7. Kompensator: λ-Schicht (Ф18mm, 1. Klasse Rot, Lichtentfernung 551nm)

λ/4 Scheiben (Ф18mm, Lichtdifferenz 147,3nm)

Quarzkeil (12x28mm, Klasse I-IV)

8. Fokussierungssystem: Koaxiale Grobbewegung mit Grenzposition und Verstellung der Entspannungseinrichtung, Mikrobewegungswert 0,002mm

9. Lichtquelle: 6V / 20W Halogenlampe (Helligkeit einstellbar)

Schimmelschutz: Eigenartiges Schimmelschutzsystem

4. Systemzusammensetzung

Computertransparentes Reflexionspolarisierungsmikroskop (XPN-400AE): 1, Mikroskop 2, Adaptspiegel 3, Kamera (CCD) 4, A/D (Bilderfassung) 5, Computer

Digitalkameratyp Transreflexionspolarisierungsmikroskop (XPN-400AZ): 1, Mikroskop 2, Adaptspiegel 3, Digitalkamera

Digitales Mikrobildsystem Computermikrobildsysteme

5. Auswahl der Einkäufe

1. Hochpixelbildsystem 2. Polarisationsmikroskop-Analysesoftware 3. Objektiv: 20X


FabriklaborauswahlHochschullaborauswahl


Typische AnwendungsbeispieleBeschreibung der Polarisationsdynamik