Oxford Instrument Cypher ES Polymer Version Atomkraftmikroskop

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Wegen der mehrfachen Funktionsupgrades und -aktualisierungen dieses Produkts können wir nicht garantieren, dass die Bilder und andere Informationen, die von Oxford Instruments CypherES Polymer Edition Atomkraftmikroskop zur Verfügung gestellt werden, auf dem neuesten Stand sind. Wir empfehlen Ihnen, hier zu klicken, um unseren Online-Ingenieur für Sie zu kontaktieren, und wir begrüßen Sie auch telefonisch: ! In der Polymerentwicklung bietet CypherES eine unvergleichliche Leistung und ein breites Anwendungsspektrum

Produktdetails

Mikroskop Zitat Tipps:

Da dieses Produkt mehrfach Funktionsupgrades und -aktualisierungen durchgeführt wurde, können wir keine Garantie für die Aktualität der Bilder und Parameter des Atomkraftmikroskops von Oxford Instruments Cypher ES Polymer Edition geben. Wir empfehlen Ihnen, unseren Online-Ingenieur zu kontaktieren, der Ihnen zur Verfügung steht, indem Sie hier klicken.!

Im Bereich der Polymerentwicklung bietet Cypher ES eine unvergleichliche Leistung und ein breites Einsatzgebiet. Eine unserer beliebtesten Konfigurationen ist jetzt erhältlich und die Cypher ES Polymer Edition bietet jetzt günstige Preise und eine schnelle Lieferung.

Die Cypher ES Polymer Edition umfasst:

Cypher ES Umweltsteuerung Atomkraftmikroskop

Im Vergleich zu anderen gängigen Atomkraftmikroskopen haben sie in der Regel eine höhere Auflösung.

- Schneller Scan, Ergebnisse in nur wenigen Sekunden

BlueDrive Licht-Wärme-Stimulation

- Vereinfacht den Betrieb aller Tipp-Imaging-Modus

Stabilisiert den Bildverarbeitungsprozess auch bei Temperaturänderungen

- Nanomechanische Bildgebungsmuster quantitativer machen

Hochtemperatur Probenheizung

- Die Probe kann unter kontrollierter Gasumgebung auf 250°C erhitzt werden

- Einfache Bedienung ohne zusätzliche Controller, Kabel oder Rohre

Schnelle Kraft-Scan-Bildgebung

- Erfassung von Hochgeschwindigkeitskraftkurven zur Speicherung von Modulkarten

- Erfassung aller Kurven einschließlich Abweichungen und Z-Sensoren

- Unterstützt zahlreiche Druckmodelle, darunter Hertz, DMT, Sneddon und JKR

Modulierter Adhesive Elastic Mapping Modus

- Schnellster nanomechanischer Kartenmodus (> 20 Hz Leitungsscangeschwindigkeit)

- Quantifizierung des Speichermoduls und des Verlusttangens

- Großer Betriebsmodulbereich (~50 kPa - 300 GPa)

Kontakt-Resonanz-Viskositäts-Bildgebungsmodus

- Quantifizierung des Speichermoduls und des Verlusttangens

- Geeignet für hochmoduläre Materialien (1 GPa - 300 GPa)

GetStarted Automatische Bildoptimierung

- Automatische Optimierung der Bildparameter vor dem Scan

- Ausgezeichnete Daten auf der ersten Scanlinie ohne Schäden an Proben oder Sonden

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