Olympus Messmikroskop

Olympus MessmikroskopEinführung

Messungen durch die Integration von optischem Mikroskop und einer erweiterten Messkapazität.

Langjährige Erfahrung in der Entwicklung von Mikroskopen hat die Beobachtungsleistung ** erreicht, und die Olympus-Serie nutzt das optische System UIS2 mit unendlicher Fernkorrektur, das in den aktuellen * optischen Mikroskopen verwendet wird. Daher haben die beobachteten Bilder eine hohe Auflösung und einen hohen Kontrast und darüber hinaus werden Bildabweichungen eliminiert, um eine hohe Messung von kleinen Details zu gewährleisten.

Olympus MessmikroskopDie Serie basiert auf dem UIS2 Infinite Distance Correction Optic System, das in den aktuellen* optischen Mikroskopen verwendet wird. Daher haben die beobachteten Bilder eine hohe Auflösung und einen hohen Kontrast und darüber hinaus werden Bildabweichungen eliminiert, um eine hohe Messung von kleinen Details zu gewährleisten.

Strenge Rückverfolgbarkeit gewährleistet Qualitätssicherheit
Olympus steuert den Grad des Messmikroskops durch ein strenges nachverfolgbares System. Auch bei der Installation des Systems bietet Olympus nachverfolgbare Kalibrierungsdienste an.

Messmikroskop-Tracking-System
Design mit Schwerpunkt auf Benutzerfreundlichkeit
Ein Tragstisch wird zur aktuellen Probengröße bereitgestellt.
Häufig gestellte Fragen
Kurze Messstrecken können die Messanforderungen größerer Proben nicht erfüllen.
Bisher bieten große Tragstische ausreichende Messstrecken in Richtung der X-Achse, aber die Y-Achse ist immer noch kleiner. Während der Messung muss die Probe gedreht werden, um einen kürzeren Y-Achsweg als die X-Achsabdeckung zu kompensieren, was zeitaufwendig und nicht effizient ist.
Aufgrund des engen Messbereichs können keine größeren Mengen an Proben auf dem Tragstisch angeordnet werden, um eine einmalige gleichzeitige Messung zu ermöglichen.

STM7 Lösungen
Es gibt vier* Tragstelle für quadratische Messstrecken: 50 mm x 50 mm, 100 mm x 100 mm, 200 mm x 200 mm und 300 mm x 300 mm. Egal ob es sich um große oder kleine Proben handelt, es gibt immer einen Tragstell, der für die Probe geeignet ist, die Sie messen möchten.
Das Kupplungssystem ermöglicht einen schnellen Wechsel zwischen grober und feiner Einstellung. Mit dieser Schaltfunktion kann sich der Tragstisch auch schnell entlang der X- und Y-Achse bewegen und auf der XY-Ebene frei bewegen.
Ein 300 mm langer quadratischer Tragstisch ermöglicht den gleichen Messgang in Richtung der X- und Y-Achse, was bedeutet, dass die gesamte Messung großer Proben wie 300 mm Wafer und Leiterplatten ohne Proben zu drehen möglich ist.

Niedrige und hohe Vergrößerungsbeobachtungen mit dem gleichen Mikroskop
Häufig gestellte Fragen
Die meisten herkömmlichen Messmikroskope können nur Objektive oder metallische Objektive messen und können nicht mehrere Beobachtungsanforderungen gleichzeitig erfüllen.

STM7 Lösungen

Das Messobjektiv kann durch die Installation eines Messobjektivadapters verwendet werden, während das metallische Objektiv nach dem Umdrehen durch das Objektiv ersetzt werden kann. Das bedeutet, dass das STM7 das Metallphaseoptiksystem und das Messoptiksystem gleichzeitig in einem Messmikroskop kombiniert. Auf diese Weise kann die STM7-Serie den Anwendern bei der Auswahl einer besseren Beobachtungsmethode helfen, unabhängig davon, ob es sich um die Messung großer oder feiner Proben handelt.

Messobjekte

Da die Messobjekte sehr lange Arbeitsabstände aufweisen, können Sie sich bei der Fokussierung auf größere Proben ohne Sorgen über den Kontakt zwischen dem Objektiv und der Probe konzentrieren. Darüber hinaus können durch die geringe Vergrößerungsfähigkeit des Messobjektivs größere Sichtfelder gleichzeitig beobachtet werden.

Goldene Objekte

Eine hohe Vergrößerungsrate und eine hohe Auflösung der Beobachtungsfähigkeit, die mit dem optischen Mikroskop vergleichbar ist, können erzielt werden. Noch wichtiger ist, dass neben der Lichtfeldbeobachtung auch Dunkelfeld-, Polarisations- und Differenzialinterferenzbeobachtungen korrespondieren können.

Auswahl der manuellen und elektrischen Fokusmodus.Inklusive manueller und elektrischer Fokus.Für den Fokus auf und unter der Z-Achse stehen Ihnen zwei Serien zur Auswahl, manuell und elektrisch. Bitte wählen Sie das Modell aus, das Ihren Anforderungen entspricht, basierend auf Proben und Messungen, ohne die Last zu berücksichtigen..Die Größe des Tisches. Alle Spiegelrahmen verfügen über ein eingebautes Z-Axialmesser und alle Modelle STM7 können 3-Achsen-Messungen ermöglichen.

Eine bahnbrechende Steuereinheit verbessert die Betriebsfähigkeit des Messmikroskops erheblich.

Häufig gestellte Fragen
Bei der Ergänzung der Funktionalität müssen zusätzliche Bedieneinheiten hinzugefügt werden. Der Bediener muss mehrere Einheiten gleichzeitig bedienen, wodurch eine effiziente Messung nicht möglich ist. Auch beim Betrieb kann es häufig passieren, dass die Bedieneinheit nicht gefunden wird.
Bei der Ergänzung der Funktionalität müssen zusätzliche Bedieneinheiten hinzugefügt werden. Der Bediener muss mehrere Einheiten gleichzeitig bedienen, wodurch eine effiziente Messung nicht möglich ist. Auch beim Betrieb kann es häufig passieren, dass die Bedieneinheit nicht gefunden wird.

STM7 Lösungen
Steuergeräte
Bei der STM7-Serie können nahezu alle Messmikroskopioperationen mit einem einzigen Bedieneinrichtung durchgeführt werden, einschließlich Funktionen wie Zurücksetzen des Zählers, Beleuchtungssteuerung, Fokussierung und Autofokussierung. Um die Effizienz und den Komfort zu erhöhen, können Sie das Gerät an jedem beliebigen Ort platzieren und einfach mit einer Hand bedienen.

Steuerungskasten
Die Stromversorgung und Kommunikation der einzelnen Einheiten sind in einem einzigen Steuerkasten integriert. Selbst durch das Hinzufügen von optionalen Funktionen wie der fokussierten Navigation werden keine zusätzlichen Stromversorgungsgeräte benötigt, so dass ein solches Design den Arbeitsplatz noch verringern kann.

Lichtquellenmanager, der die Beobachtungs- und Messeffizienz erheblich verbessert.

Häufig gestellte Fragen
Die analoge Knopfeinstellung mit herkömmlichen Messmikroskopen ermöglicht keine quantitative Kontrolle der Lichtintensität. Dadurch kann die Lichtintensität bei jeder Messung nicht gehalten werden*, was zu einer Änderung der Messwerte führt.
Bei herkömmlichen Messmikroskopen muss die Lichtintensität nach jedem Objektivwechsel angepasst werden, was den Arbeitsablauf sehr ineffizient macht.

STM7 Lösungen
Digitale Anzeige, die die Helligkeit der Lichtquelle quantitativ erfasst.

Beim Wechsel der Objektive muss die Lichtintensität nicht manuell eingestellt werden.Der Lichtintensitätsmanager kann mit einer codierten Objektivdrehplattenkonfiguration verwendet werden. Das Drehblatt mit codiertem Objektiv erkennt automatisch das aktuell verwendete Objektiv in Kombination mit den Voreinstellungen des Lichtquellenmanagers.Mit der Wertfunktion können Beleuchtung und Lichtintensität für jedes Objektiv registriert werden. So kann die Lichtintensität und die Beleuchtung jedes Mal nach dem Wechsel des Objektivs automatisch angepasst werden. Wie immer zuvor..Die manuelle Einstellung der Lichtintensität nach dem Wechsel der Vergrößerung kann jetzt weggelassen werden.

Ein abnehmbarer Zähler kann an jedem beliebigen benutzerfreundlichen Ort platziert werden, um sicherzustellen, dass Messergebnisse und Gerätezustand jederzeit schnell überprüft werden können.
Häufig gestellte Fragen]
Es ist notwendig, den Betriebszustand der Geräte wie den Beleuchtungszustand sowie die Messergebnisse zu überprüfen, da die Anzeige auf verschiedenen Einheiten den Betrieb sehr aufwendig macht.
STM7 Lösungen
Der Zähler, der den aktuellen Zustand auf einen Blick bestätigen kann, verfügt über eine Anzeigelampe, die den Zustand und die Einstellungen des Geräts anzeigt, um die Bestätigung des aktuellen eingestellten Zustands des Geräts einfach zu erreichen. Die kleinsten Einheiten der X-, Y- und Z-Achsen können zwischen 0,1 μm und 1 μm gewechselt werden, zusätzlich können Anzeigeeinheiten zwischen Millimeter, Mikrometer, Zoll und Millimeter gewechselt werden. Abnehmbare Zähler, die auf individuelle Anforderungen frei platziert werden können, unabhängig davon, ob sie auf einem Spiegelrahmen oder auf einem Arbeitstisch montiert sind, können abhängig von den Bedingungen und Gebrauchsgewohnheiten des Benutzers an den richtigen Stellen platziert werden. Wenn der Benutzer zur Messung steht, kann der Zähler auf der Seite des Spiegels in etwa der gleichen Höhe wie die Beobachtungsposition montiert werden, um die Beobachtung und Prüfung zu erleichtern. Wenn der Benutzer über eine Digitalkamera auf dem Monitor beobachtet und messt oder ein elektrisches Z-Achsen-Fokusmodell verwendet, kann er einfach auf dem Stuhl sitzen, indem er den Zähler und die Bedieneinrichtung auf den Arbeitstisch legt.

Höhenmessung: Fokussiertes Navigationssystem.Schnellere, einfachere und einfachere Höhenmessungen**.

Häufig gestellte Fragen
Bei visuellen Messungen messen unterschiedliche Bediener unterschiedliche Höhenmesswerte. Darüber hinaus ist diese Messmethode sehr zeitaufwendig und ineffizient.

STM7 Lösungen
Das wiederholbare, einfache und hohe Fokussierungssystem von Olympus ermöglicht eine wiederholbare Höhenmessung durch die Projektion von Mustern im Sichtfeldbereich und die Bestätigung der Übereinstimmung von Mustern von oben und unten durch den Bediener. Bei einer normalen optischen Höhenmessung können auch sehr klare, bereits fokussierte Bilder kleine Fehler auftreten. Mithilfe des fokussierten Navigationssystems STM7 können Messungen nur mit passenden Markierungen durchgeführt werden, was den Einfluss der Subjektivität des Bedieners auf die Messergebnisse verringert.
Visuelle Höhenmessung mit fokussiertem Navigationssystem.

Die Vorteile der Autofokussierung ermöglichen eine schnelle und hohe Höhenmessung**.

Häufig gestellte Fragen
Bei visuellen Messungen können die Höhenmessungen unterschiedlicher Bediener erzielt werden.
Die manuelle Höhenmessung erfordert, dass der Bediener wiederholt den Tragstisch bewegt und den Fokus mit einem Knopf einstellt, was die Messung zeitaufwendig und ineffizient macht.
Es ist schwierig, sich auf kleine Objekte wie Leitungen zu fokussieren.

STM7 Lösungen
Schnelle, fokussierte und unberührte Messungen

Olympus hat die Autofokusseinheit der STM7-Serie entwickelt, die eine schnelle Fokussierung ermöglicht und gleichzeitig eine wiederholbare Fokussierung garantiert. So können Höhenmessungen in sehr kurzer Zeit, unabhängig von der Erfahrung des Bedieners, erreicht werden. Unabhängig von der Erfahrung des Bedieners ermöglicht die Autofokussierungseinheit STM7 eine hohe Höhenmessung** in kürzester Zeit. Selbst bei rauen oder geneigten Probenoberflächen kann eine stabile Fokussierung durch aktive Reflexion und Kofokussierung erreicht werden, während Laser mit kleinen Durchmessern die Autofokussierung von kleinen Objekten wie Leitungen gewährleisten können.

Einzelfokus-Modus
Nach der Ausführung der Autofokussierung kann sofort eine klare Fokussierung vom ungefähren Fokuszustand in die Mitte des Sichtfeldes abgeschlossen werden.
Verfolgungsmodus
Die Aktivierung des charakteristischen Tracking-Modus ermöglicht den automatischen Fokus auf den Höhen und Tiefen der Probenoberfläche, so dass der Fokus auch bei Bewegungen des Arbeitstisches stets erhalten bleibt. Dies ermöglicht es dem Bediener, Beobachtungen auch ohne den X- und Y-Griff zu verlassen, wodurch die Messeffizienz der Z-Achse verbessert wird.

Zubehör, das den Messbeobachtungsbereich erweitert
Codierter Objektivumsetzer

MM6-EMO ist genauso wie ein Monoglas

STM7-FS Fußschalter

SZ-LW61 weiße LED-Beleuchtung

SZX2-ILR66+ SZX-RHS LED-Ringbeleuchtung + manuelle Steuerung

Drehträger
Eine parallele Ausrichtung der Probe ist mit dem Finishknopf einfach möglich.

Messunterstützungssystem
Schnellere, einfachere und einfachere Messungen auch bei komplexen Formen**.

Je deutlicher die Daten und Bilder der Messmikroskop-Ausgabe angezeigt werden, desto einfacher und schneller werden die Messungen durchgeführt. Um hohe** und komplexe Messungen zu unterstützen, kann die Olympus-Messsoftware in Kombination mit einer Digitalkamera verwendet werden.

STM7 Spezifikationen

* Bei der Verwendung großer Spiegelrahmen STM7-LF/STM7-LFA können Proben mit einer Höhe von 100 mm oder weniger in einer Entfernung von 180 mm oder mehr hinter der optischen Achse platziert werden.

Arbeitsabstand der Objektive