Nano-Scan-Sondemikroskop

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/31

Modell

Natur des Herstellers: Hersteller

Produktkategorie

Ursprungsort

Online Beratung

Übersicht

Das Nano-Scan-Sondenmikroskop kann die dreidimensionale Form und die mehrphasige Struktur der Probe beobachten, ohne die interne Struktur der Probe zu zerstören; Gleichzeitig können die physikalischen und chemischen Eigenschaften der Probenoberfläche untersucht, numerisch bestimmt und analysiert werden.

Produktdetails

Nano-Scan-SondemikroskopArbeitsmodus:

1. Standardbetriebsmodus:

1.1 Trickmodus (Vibrationsmodus)

1.2 Kontakt-Modus

1.3 Phasenbildgebung (Phase Imaging)

Laterale Kraftmikroskopie (LFM)

1.5 Messbares Yang-Modul mit der Kraftkurve

1.6 Nanomanipulation (Nanomanipulation)

1.7 Nanolithographie

Kraftmapping (Force Mapping)

1.9 Reibungsprüfung (Friction Mode)

2. Optionale Arbeitsweise:

2.1 Magnetmikroskopmodus (MFM-Modus)

Elektrostatisches Mikroskop (EFM-Modus)

Leitmikroskopmodus (C-AFM-Modus)

Flüssiger Scanmodus (Liquid Scan Mode)

AFMWorkshop ist ein spezialisiertes Unternehmen, das sich auf das Design und die Herstellung von Atomkraftmikroskopen spezialisiert hat. Der Gründer des Unternehmens ist Dr. Paul West mit 30 Jahren Erfahrung im Bereich der Atomkraftmikroskopie und Autor des Lehrmaterials Atomic Forces Microscopes.

Nano-Scan-SondemikroskopTechnische Parameter

Scanbereich: 100 μm, 50 μm, 15 μm

Z-Richtungsbereich: 17 μm, 7 μm

XY-Antriebsoplösung: 0,01 nm

Z-Richtungsantrieb Auflösung: 0,003 nm

Messgeräuschpegel in Z-Richtung: 0,15 nm

Probengröße: Durchmesser 25mm

Ähnliches Produkt Empfehlen