NUMERIK JENA Signaldiagnostikssystem EPFLEX

Zweiachsige Positioniersysteme können für:

• X-Y Plattform
• Koordinatenmessgeräte
• - Werkzeugmikroskop
• - Messmikroskope

Eigenschaften:

• - Taste Null zurücksetzen
• Null nach dem Ausgangspunkt
• - Datenerfassung
• - KleinsteMaximalwert anzeigen
• - Datenspeicherung
• Messfehler anzeigen

NUMERIK JENA Signalstellungswerkzeugkasten

Verwendung:

Überprüfung der mechanischen Installationsbedingungen

Optimierung des Ausgangssignals ohne Änderung der mechanischen Bedingungen
(durch Programmierbarkeit)EPIFLEX Messmodul,inAusführen einer Anpassung auf dem PC, das Ausgangssignal wird auf dem Oszilloskop angezeigt)

Signalmonitoren

- Kompakte Anzeige und Einstellungseinheit

• - Messwerte anzeigen(Zunahme)
• Überprüfung der mechanischen Installationsbedingungen
• Optimierung des Ausgangssignals ohne Änderung der mechanischen Bedingungen
  (durch Programmierbarkeit)EPIFLEX-Messmodul, nicht erforderlichPC und andere Geräte wie Oszilloskope)