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5. Etage, Gebäude C7, Lane 456, Jiangqiao Road, Pudong, Shanghai
Shanghai Paohun Instrument Technologie Co., Ltd.
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5. Etage, Gebäude C7, Lane 456, Jiangqiao Road, Pudong, Shanghai
ØFunktionsprinzip
1. Der Laser fokussiert sich auf die Probenoberfläche und das Spektrometer erfasst das Emissionsspektrum der Probe.
2. Proben X- und Y-Achsen-Scan, um das photogenische Spektrum jedes Koordinatenpunkts zu erhalten; Z-Achse verstellt Objektiv, um die Probe fokussiert zu halten.
Nach der Erfassung von Millionen von Spektren extrahiert die Analysesoftware Spitzenenergie und Intensität und erzeugt hochauflösende, kontrastreiche physikalische Bilder.

ØKernfunktionen abdecken
Das Mikrospektrospektrumsystem verfügt über ein modulares Design, das es den Forschern ermöglicht, den Wellenlängenbereich und die experimentelle Konfiguration schnell zu wechseln und die Wellenlängenkomponenten in nur fünf Minuten zu ersetzen.
Neben der photoluminescenten (PL)-Analyse ermöglicht das System auch die Erfassung und Analyse von mikro-Raman-Spektren, mikroreflektierenden Spektren und mikrooptischen Strömen.

Hauptvorteile
ØModulares Design und multifunktionale Integration
Modulares Design |
Multifunktionale Integration |
Mini Pro MikrospektrospektrumsystemDurch das universelle optische Design und das modulare Design können Forscher den Wellenlängenbereich und die experimentelle Konfiguration schnell durch den Austausch von Wellenlängenkomponentenmodulen wechseln. |
Leuchtmittel (PL) Analyse |
Mikro-Raman (Raman-Spektroanalyse | |
Mikroskopische Stromanalyse | |
X, Y, Z Drei-Achsen-Scan | |
Elektroluminositätsanalyse | |
TRPL Fluoreszenz-Lebensdauer-Analyse | |
Analyse der Tieftemperaturmessung |
ØAutofokussierung
Autofokussierung |
Schlüsselparameter |
Selbstforschung Technologie, Anpassung der Probe grob/ Neigung / Biege Oberfläche, Laserflecken immer fokussiert |
Breites Spektrum: 200-1700 nm |
Raumauflösung: Submikrometer (0,35 μm) | |
Spektrumsaufnahme: Millionen | |
Integrierte Schutzhülle zur Isolierung von Temperatur / Staub / Umgebungslichtstörungen |
Software: Schnelle Spitzenpassung |
Kosten: Wirtschaftlich und praktisch, Unterstützung der Anpassung |

Technische Daten
Kategorien |
Spezifische Parameter |
Stimulierungswellenlänge |
266 bis 980 nm |
Probe XY Scan |
Reichweite: 5mm oder 10mm Wiederholungsgenauigkeit: 20nm |
Objektiv Z Scan |
Reichweite: 400 μm Wiederholungsgenauigkeit: 5nm |
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Sammelzeit (Eingangszeit 10ms) |
100μm × 100μm, 0,5μm 步长: 6 Minuten 5 mm x 5 mm, 50 μm 步长: 2 Minuten 5mm x 5mm, 5μm Schritt: 3h |
Beobachtung der Proben |
LED、 Einfarbige Kamera |
Stromversorgung |
120V und 60Hz |
Datenschnittstelle |
Über USB 3.0 |
Größe Gewicht |
43 cm x 38 cm x 58 cm, 14 kg |

| Software-Analysesystem
Beschleunigung der GPU-Analyse |
Mit GPU-Beschleunigungsspitzenpassung-Technologie, |
Sie können Millionen Spektren in einer Stunde berechnen. | |
Unterstützung für die Anpassung mehrerer Feature-Spitzen, | |
Der Benutzer kann entweder eine Standardfunktion oder eine benutzerdefinierte Funktion verwenden. | |
Datenanalyse |
Schnelle Extraktion der Spitzenenergie und Intensität jedes Spektrums, |
Erstellen Sie hochauflösende, kontrastreiche physische Bilder, | |
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Pseudofarbiges Bild intuitive Darstellung der Merkmale Spitzenparameter (Energieeinheit eV) |
Typische Anwendungen und Forschungsfälle
ØGrüne Leuchtdioden (LED) Fehlererkennung
Die grüne Leuchtdiode unten (LED) Luminescenz (PL) Diagramm zeigt jeweils die Intensität und Spitzenenergie des Lichtspitzes an diesem grünen LED-Fehler.
Das Experiment wurde dann gemessen, indem ein transparenter, halbkugelförmiger Kugelpunkt, der sich auf einem LED-Chip bildete, mit Epoxidharz bedeckt wurde.

Ø Halbleiterlegierungskomponenten und Phasenverteilung
Durch die Spitzenanalyse können die physikalischen Eigenschaften von Materialien wie die chemische Zusammensetzung analysiert werden.
Die folgende Abbildung zeigt die Veränderungen in der räumlichen Verteilung des Zinkgehalts (Zn) in CdZnTe.

ØLichtmessung bei niedrigen Temperaturen
Diese Kryotemperaturmesskomponente umfasst eine Dua-Flasche, eine Vakuumpumpe, einen Temperaturregler usw. und ermöglicht die Erfassung von Daten aus dem Kasten.

ØLuminescenz und Raman-Messung in einem

Eine Raman-Spektroanalyse der UV-Haarfarbe und der Region der Spitze ergab, dassSilizium-Kohlenwasserstoff (Schadstoffe der Si-CH-Bindungsstruktur.
von »Photolumineszenz und Raman-Karte von β-Ga2O3, AIP Advances (2021)”
Photoluminescenz (PL) Karte zeigt Galliumoxid (Ga)₂O₃Fehlverteilung im Material.
Aus „Lokalisierte UV-Emitter auf der Oberfläche von Ga2O3“, Wissenschaftliche Berichte (2020)

a) ein Raman-Diagramm für TiO2, in dem die Bereiche mit scharfem Titan, Roten und amorphosen Mineralien gekennzeichnet sind.
b) Raman-Spektrum für die ausgewählte Region.Aus „Lokalisierter Phasenübergang von TiO2 Dünne Filme induziert durch Sub-Bandgap Laserbestrahlung ", J. Vac. Wissenschaft. Technik A (2021).
Wellenlängenkomponentenmodule
In der Nähe von IR | |
Lasergeräte |
975 nm Laser, 30-100 mW |
Spektrometer |
NIRQuest+, 900-1700 nm |
In der Nähe von IR, Raman | |
Lasergeräte |
785 nm Laser mit 250 mW |
Spektrometer |
QE Pro, 100-2800 cm-1 |
Rot | |
Lasergeräte |
635 nm Laser mit 1-2 mW |
Spektrometer |
Maya Pro,635-1060nm |
Grün | |
Lasergeräte |
532 nm Laser mit 4-5 mW |
Spektrometer |
Maya Pro,532-960nm |
Grün, Raman | |
Lasergeräte |
532 nm Laser, 30-140 mW |
Spektrometer |
QE Pro, 90-4000 cm-1 |
Violett | |
Lasergeräte |
405 nm Laser mit 1-2 mW |
Spektrometer |
Maya Pro,405-840nm |
Nahe UV | |
Lasergeräte |
349 nm Laser, 0-20 mW |
Spektrometer |
Maya Pro,349-780nm |
Tiefe UV | |
Lasergeräte |
266 nm Laser mit 5 mW |
Spektrometer |
Maya Pro,266 bis 700 nm |
Einsatzbereite Module für einfache Installation und Debugging mit maßgeschneiderten Komponenten
| Systemauswahl
ØStandardmikroskop
uKernpositionierung: Grundlagenkonfiguration
uHauptmerkmale: ohne Spektrometer
uAnwendungsszenarien: Grundvoraussetzungen der Mikrobeobachtung

ØMini Pro Microscope Mikrospektroskopsystem
uKernpositionierung: Hauptforschungsmodell
uHauptmerkmale: integrierte spektrale Analysefunktion, UnterstützungPL、 Raman,Viele Messmodi wie optischer Strom
uAnwendungsszenarien: Umfassende Materialspektralytische Studien

ØPremium Microscope Wafer-Mikrospektrospektrumsystem
uKernpositionierung: Professionelle Konfiguration
uHauptmerkmale: Optimiert für Wafer-Proben mit größerem Scanbereich

