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Produktkategorien
Gaosmo (Chengdu) International Trade Co., Ltd
Differentialfilmdickenmesser
VerhandlungsfähigAktualisieren am05/07
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Übersicht
Differentialfilmdickenmesser $r$n Kontaktlos amp; amp; amp; amp; #183; Nichtzerstörerische amp; amp; amp; amp; #183; Mikroskopie, Fokussierung, Messung in 1 Sekunde ● Die OPTM-Serie ist ein Ersatz-Elliptometer
Produktdetails
Differentialfilmdickenmesser
Differentialfilmdickenmesser
Berührungslos · Zerstörungsfrei · Mikroskopie, Fokussierung, Messung 1 Sekunde fertig ● Die OPTM-Serie ist ein Ersatz-Elliptometer für die Prüfung von Foliendicke, Brechungsgrad n, Dämpfungskoeffizient k und absoluter Reflexivität. Geeignet für die Prüfung einer Vielzahl von durchlässigen Membranschichten und für die Entfernung der Rückreflexion von transparenten Substraten, um den Zweck des Tests der "realen Reflexivität und Membrandicke" zu erreichen. Darüber hinaus ist die Software einfach zu bedienen, benutzerfreundlich und vereinfacht komplexe Modellierungsprozesse.
Berührungslos, zerstörungsfreies Messkopf, das frei in das Kundensystem integriert werden kann
● Auch Anfänger können einfach die Modellierung der Anfänger-Analyse-Muster auflösen
● Hohe Präzision, hohe Reproduzierbarkeit Messung der absoluten Reflexivität im UV-bis nahen Infrarot-Bereich, kann mehrschichtige Filmdicke, optische Konstante (n: Brechungsgrad, k: Lichtdämpfungskoeffizient) analysieren
● Einzelpunkt-Fokussierung in 1 Sekunde
● Breites optisches System unter Differenzlicht (UV ~ Nahinfrarot)
● Unabhängiger Testkopf für eine Vielzahl von Inline-Anpassungsanforderungen
● Mindesten entsprechenden Spot ca. 3 μm
Messprojekte
Absolute Reflexionsanalyse
Multi-Schicht-Analyse (50 Schichten)
Optische Konstante (n: Brechungsgrad, k: Lichtdämpfungskoeffizient)
Transparente Substratproben wie Membran oder Glas können nicht richtig gemessen werden, wenn sie durch die Reflexion im Inneren des Substrats beeinflusst werden. Die OPTM-Serie verwendet Objektive, die die inneren Reflexionen physisch entfernen und sogar transparente Substrate mit hoher Präzision messen können. Darüber hinaus können Proben wie Membrane oder SiC mit optischer Anoversität ohne deren Einfluss die oberen Membrane separat gemessen werden.
(Nr. 5172203)
Anwendungsbereich
● Halbleiter, Komposithalbleiter: Siliziumhalbleiter, Siliziumcarbid-Halbleiter, Galliumaransid-Halbleiter, Photogravur, dielektrische Konstante
FPD: LCD, TFT, OLED (organischer EL)
● Datenspeicher: DVD, Magnetkopffilm, Magnetmaterial
Optische Materialien: Filter, Anti-Reflexfolie
● Flachbildschirm: Flüssigkristallbildschirm, Dünnfilmtransistor, OLED
● Film: AR-Film, HC-Film, PET-Film usw.
Sonstiges: Baustoffe, Klebstoffe, DLC usw.
OPTM-A1 |
OPTM-A2 |
OPTM-A3 |
|
|---|---|---|---|
Wellenlängenbereich |
230 ~ 800 nm |
360 ~ 1100 nm |
900 ~ 1600 nm |
Membrandickenbereich |
1 nm bis 35 μm |
7nm bis 49μm |
16 nm bis 92 μm |
Messzeit |
1 Sekunde / 1 Uhr |
||
Größe des Lichtdurchmessers |
10 μm (mindestens ca. 3 μm) | ||
Lichtsensoren |
CCD |
InGaAs |
|
Lichtquelle Spezifikationen |
Deuterium Halogenlampe |
Halogenlampe |
|
Größe |
556(W) X 566(D) X 618(H) mm (Hauptteil der automatischen XY-Plattform) | ||
Gewicht |
66 kg (Hauptteil der automatischen XY-Plattform) |
||
Agentenmarken: CCS, SEN, EYE Iwasaki, REVOX, SERIC
Sonic, Sanko, Newkon, NPM, Sugiyama
NS Japanische Wissenschaft, DRY-CABI TOKISANGYO Tokiko, SIBATA Shida
Vorteile der Marke: USHIO Rindschwanz, Topcon, FUNATECH Ship Yonglong, ORC Eurasia, HAYASHI Wald Uhr
SAGADEN Saga, Sakazume Saka, DNP Großjapanische Forschung, TOKYO DENSHOKU Elektro, KKIMAC
S-VANS Swans, Orihara Hirohara, LUCEO, Hikariya, Yamada Optik
AND, T&D, JIKCO, DKK-TOA, Okano Okano
IMV Aimeiko, Mitutoyo Sanyo, Kyowa Republic, Onosokki Ono, Sanei Sanyo
HEIDON, KURABO, SHOWA und THINKY
