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Produktkategorien
Suzhou Mangofei Instrument Co., Ltd
Mahr MarSurf WI Weißlichtinterferometer
VerhandlungsfähigAktualisieren am10/07
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- Natur des Herstellers
- Hersteller
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- Ursprungsort
Übersicht
Die MarSurfWI-Serie ist das neueste von Mahr entwickelte optische 3D-Oberflächenprofilmeter, ein Prüfgerät für die subnanoskalige Messung einer Vielzahl von Präzisionsgeräten und Materialoberflächen.
Produktdetails
Die MarSurf WI-Serie ist das neueste von Mahr entwickelte optische 3D-Oberflächenprofilmeter, ein Prüfgerät für die subnanoskalige Messung einer Vielzahl von Präzisionsgeräten und Materialoberflächen. Es ist das Prinzip der weißen Licht-Interferenz-Technologie, kombiniert mit Präzision Z-Richtung-Scan-Modul, 3D-Modellierungs-Algorithmus, etc. zur berührungslosen Abtastung der Geräteoberfläche und zur Erstellung von Oberflächen-3D-Bildern, zur Datenverarbeitung und Analyse von Geräteoberflächen-3D-Bildern durch Systemsoftware und zur Erfassung von 2D- und 3D-Parametern, die die Oberflächenqualität des Geräts widerspiegeln, um die 3D-Messung der Oberflächenformation des Geräts zu realisieren.
Das optische 3D-Oberflächenprofilmeter MarSurf WI ist weit verbreitet in der Prüfung von Halbleiterherstellungs- und Verpackungsprozessen, 3C-elektronischen Glasschirmen und deren Präzisionsteilen, der optischen Verarbeitung, der Mikronanomaterialien- und Fertigung, der Automobilkomponenten, MEMS-Geräten und anderen Bereichen der Ultrapräzisionsverarbeitung sowie der Luft- und Raumfahrtindustrie, der Verteidigungsmilitärischen Industrie und Forschungsinstituten. Es können verschiedene Arten von ultraglatter bis zu rauer, niedriger Reflexivität bis zu hoher Reflexivität der Objektoberfläche gemessen werden, von der Rauheit, der Ebenheit, der mikrogeometrischen Kontur, der Krümmung usw. von Nano bis Mikron-Werkstücken, die insgesamt mehr als 300 Arten von 2D- und 3D-Parametern gemäß den vier großen inländischen und ausländischen Normen ISO / ASME / EUR / GBT als Bewertungskriterien bereitgestellt werden.
Anwendungsprüfprojekte: Messung und Analyse von Oberflächenmormalmerkmale wie Ebenheit, Rauheit, Wellenheit, Flächenkontur, Oberflächenfehler, Verschleißzustände, Korrosionszustände, Porenspalte, Stufenhöhe, Biegeformungen und Bearbeitungszustände verschiedener Produkte, Komponenten und Materialoberflächen.
Halbleiterherstellung (Rauheitsverdünnung, Laserkanalkontur)
Optische Komponenten. Krümmung & Konturgröße & Rauheit
3C Elektronik (Glasschirm). Rauheit
Das optische 3D-Oberflächenprofilmeter MarSurf WI ist weit verbreitet in der Prüfung von Halbleiterherstellungs- und Verpackungsprozessen, 3C-elektronischen Glasschirmen und deren Präzisionsteilen, der optischen Verarbeitung, der Mikronanomaterialien- und Fertigung, der Automobilkomponenten, MEMS-Geräten und anderen Bereichen der Ultrapräzisionsverarbeitung sowie der Luft- und Raumfahrtindustrie, der Verteidigungsmilitärischen Industrie und Forschungsinstituten. Es können verschiedene Arten von ultraglatter bis zu rauer, niedriger Reflexivität bis zu hoher Reflexivität der Objektoberfläche gemessen werden, von der Rauheit, der Ebenheit, der mikrogeometrischen Kontur, der Krümmung usw. von Nano bis Mikron-Werkstücken, die insgesamt mehr als 300 Arten von 2D- und 3D-Parametern gemäß den vier großen inländischen und ausländischen Normen ISO / ASME / EUR / GBT als Bewertungskriterien bereitgestellt werden.
Anwendungsprüfprojekte: Messung und Analyse von Oberflächenmormalmerkmale wie Ebenheit, Rauheit, Wellenheit, Flächenkontur, Oberflächenfehler, Verschleißzustände, Korrosionszustände, Porenspalte, Stufenhöhe, Biegeformungen und Bearbeitungszustände verschiedener Produkte, Komponenten und Materialoberflächen.
Halbleiterherstellung (Rauheitsverdünnung, Laserkanalkontur)
Optische Komponenten. Krümmung & Konturgröße & Rauheit
3C Elektronik (Glasschirm). Rauheit
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