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Raum 301, Block A, 2250 Pudong South Road, Pudong New District, Shanghai
Shanghai Xinnu optische Technologie Co., Ltd.
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18019703828
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Dreidimensionale Profilmessgeräte der MTS-SerieStruktur des spektralen konsentralen Sensors
Ein spektraler konfokaler Positionssensor ist ein Gerät, das durch das Prinzip der optischen Diffusion eine Korrespondenz zwischen Entfernung und Wellenlänge aufbaut und spektrale Informationen mit einem Spektrometer dekodiert, um Positionsinformationen zu erhalten.
In spektralen konfokalen Verschiebungssensorsystemen,
Der Messbereich des Systems wird von vier Faktoren beeinflusst:
1. Spektrale Verteilung der Lichtquelle
2. Axiale Farbdifferenz der Dispersionsobjektive im Arbeitsbereich
3. Arbeitsbereich des Spektrometers
4. Arbeitsband des Faserkopplers

Spektrale Fokusvorteile
Multifunktionale Spektralfokussensoren
Unsere optischen Sensoren fokussieren weißes Licht über hochwertige optische Objektive entlang der Radionachse in verschiedenen Entfernungen und nicht auf einen einzelnen Punkt, wobei alle sichtbaren Lichtbänder im Fokus stehen. Dieser vielseitige optische Sensor eröffnet eine neue Dimension für die Leichtmesstechnik.
· Jedes Material kann getestet werden - undurchsichtige / transparente Materialien, diffuse Reflexion / Reflexion, Absorption, Farbe, Rau / Polieren
· Koaxiale Tests vermeiden Schatteneinflüsse
· Die Schrägaufnahmefähigkeit und die numerische Öffnung ermöglichen einen messbaren Winkel von bis zu 45° auf der Reflexionsfläche und eine Dispersionsfläche > 80°
Auflösung und Genauigkeit der Z-Achse - kein Z-Achse-Scan zur Prüfung
Multi-Point-Array-Sensor mit ultraschneller Testgeschwindigkeit ermöglicht parallele Tests mit vielen Punkten
Kleine und konstante Fleckgrößen ermöglichen eine hohe horizontale Auflösung
Optische Sonden sind passiv und müssen keine Teile bewegen oder elektrisch eingebettet werden
Straße - hohe thermische Stabilität, langfristige Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit

Vergleich der Messmethoden
Digitale Mikroskope
- Die Oberflächenform erfordert eine tiefe Überlagerung, langsam - kleines Sichtfeld
- Scangenauigkeit abhängig von Z-Achsmotor und Objektivtiefe
Laser-Kofokussmikroskop
- Oberflächenformation erfordert Schicht für Schicht, langsam - Kleiner Sichtfeld
- menschliche Datenmessung
Dreieckig reflektierender Spektralkonfokus
Niedrigere Z-Achsoplösung
- Scannen von Blindzonen
- Schlechte Wirkung von transparenten und spiegelnden Materialien
Weißes Licht stört
Hohe Nutzungs- und Wartungskosten
- Nicht geeignet für größere Proben und größere Proben
- schlechte Wirkung auf rauere Oberflächen
MTS Vorteile
Berührungslose Verlustlose Messung
Z-Achse-Auflösung bis zu 20 nm
Schneller ohne Tiefenüberlagerung
Oberflächenreflexivität der Probe unbegrenzt
Alle Informationen zur Oberfläche 3D
Anpassbarer Scanbereich
Zugänglich für Q-DTS
Zugänglich für den Butterfly AI








Dreidimensionale Profilmessgeräte der MTS-SerieTechnische Parameter
MTS 01 |
MTS 02 |
|||||
|
Optische Module |
Messbereich 1 /mm |
0.2 |
1 |
0.24 |
0.6 |
10.6 |
Punkte / Linien |
192 |
1200 |
||||
Leitungslänge/mm |
0.96 |
1.91 |
1.18 |
2.36 |
11.9 |
|
Punktabstand / μm |
5 |
10 |
0.98 |
1.97 |
9.9 |
|
Z-Achse-Auflösung/nm |
20 |
80 |
25 |
50 |
800 |
|
Genauigkeit 2/nm |
±80 |
±300 |
±125 |
±250 |
±4000 |
|
|
Vier Achsen elektrische Plattform |
Abtastrate/Hz |
6000 |
36000 |
|||
XY-Achsweg/mm |
350x350 |
|||||
Positionierungsgenauigkeit der XY-Achse / μm |
±0.3 |
|||||
Wiederholte Positionierungsgenauigkeit der XY-Achse / μm |
±0.15 |
|||||
Z-Achsweg/mm |
5 mm |
|||||
Z-Achse Positionierungsgenauigkeit / μm |
±0.2 |
|||||
Z-Achse wiederholte Positionierungsgenauigkeit / μm |
±0.1 |
|||||
Positionsgenauigkeit der T-Achse |
±2 Bogenseken |
|||||
Wiederholte Positionierungsgenauigkeit der T-Achse |
±1 Bogensekt |
|||||
Scangeschwindigkeit/mm/s |
80 |
|||||
|
2D Positionierkamera |
Wirksame Pixel |
2464×2056 |
||||
Sichtfeldgröße |
8,6 x 7,2 mm |
|||||
Lichtquelle |
LED-Licht |
|||||
|
Softwaresystem |
Spektrale Fokuserfassung |
|||||
Kartenaufnahme, Positionsfunktion | ||||||
Optional mit Q-DTS Datenverbindungsmodul, Butterfly AI | ||||||
2D und 3D Messungen |
Messgeräte für Länge, Breite, Höhe, Winkel, Volumen usw. |
|||||
Computersysteme |
Anpassbare Softwarefunktionen |
|||||
Berichtsausgabe |
Word, Excel usw. |
|||||
① Über 2kHz, die Testreihe verringert sich mit erhöhter Frequenz
Vertikale Spiegelmessung bei 20°C
Die angegebenen Daten stammen von Tests in typischen Anwendungen und unterscheiden sich von Tests in anderen spezifischen Situationen. Folgende Druckfehler, Revisionen, Aktualisierungen können auch zu Unterschieden von den in der Tabelle aufgeführten technischen Parametern führen. Daher ist keine Garantie für die Einhaltung der in der Tabelle angegebenen technischen Parameter, Messergebnisse und Informationen gegeben.