Die Leica EM TXP

Integration mit Beobachtungssystem

Beobachtung des gesamten Probenbehandlungsprozesses und des Zielbereichs unter dem Mikroskop Die Probe kann während der Probenbehandlung in Echtzeit über ein Stereomikroskop beobachtet werden, der Beobachtungswinkel kann von 0° bis 60° eingestellt werden oder auf -30° eingestellt werden, wenn die Entfernungsmessung über eine Brillenmessung durchgeführt werden kann. Die Leica EMTXP ist zudem mit einer hellen, kreisförmigen LED-Beleuchtung ausgestattet, um optimale visuelle Beobachtungen zu erzielen.
> Präzise Positionierung und Probenvorbereitung kleiner Zielbereiche
> In-situ-Beobachtung durch Stereomikroskop
> Multifunktionale mechanische Bearbeitung
> Automatisierte Probenbehandlungsprozesssteuerung
> Gleiche Spiegelffekte erzielen
> LED-Ringlichtquelle Helligkeit einstellbar, 4 Segmente optional

Für die Mikroskala-Probenarbeit

Die Positionierung, das Schneiden, das Schleifen und das Polieren von kleinen Zielen im Millimeter- und Mikrometer-Maßstab ist eine anspruchsvolle Aufgabe, die vor allem durch:
Das Ziel ist zu klein und nicht leicht zu beobachten
Präzise Zielpositionierung oder Winkelkalibrierung des Ziels ist schwierig
> Schleifen und Polieren bis zur bestimmten Zielposition ist oft sehr aufwendig
Kleine Ziele können leicht verloren gehen
> Die Probengröße ist klein, schwer zu bedienen und muss oft eingebettet werden

Integrierte Mikrobeobachtungs- und Bildgebungssysteme

Leica M80 Stereomikroskop
> Parallel-Lichtweg-Design: Bildung eines parallelen Lichtwegs durch das zentrale Hauptobjekt, konsequente Fokusebene
> Hohe Auflösung: Alle Variablen haben eine hohe Bildqualität und eine stabile Lichtintensität
Ergonomisches Design: Komfort bei der Verwendung ohne Muskelspannung und Müdigkeit
Leica IC80 HD HD Kamera*
> Nahtlose Konstruktion: Montage zwischen dem optischen Kopf und dem Objektiv ohne Hinzufügen von Bildrohren oder Optokröhren
> Hochwertiges Bild: Der koaxiale optische Weg mit dem Mikroskop sorgt für Bildqualität und reflexionsfreies Bild
> Bereitstellung von dynamischen HD-Bildern, mit dem Computer verbunden oder getrennt werden kann
4 segmentierte Helligkeitsstellbare LED-Ringlichtquelle
> Verschiedene Winkelbeleuchtung zeigt kleine Details der Probe

Probenbereitung auf verschiedene Weise

Proben müssen nicht übertragen werden, nur Werkzeuge wechseln
Es ist nicht erforderlich, die Probe hin und her zu übertragen, sondern einfach das Werkzeug zu ersetzen, das die Probe verarbeitet, um den Prozess abzuschließen, und die gesamte Probenbehandlung kann in Echtzeit über ein Mikroskop beobachtet werden. Aus Sicherheitsgründen ist das Werkzeug und die Probe im Werkstatt mit einer transparenten Schutzabdeckung ausgestattet, um zu verhindern, dass der Bediener versehentlich das Betriebsteil während der Probenbehandlung berührt und Schubspritzen verhindert.
Die LEICA EM TXP kann die Proben wie folgt bearbeiten:
> Fräsen
> Schneiden
> Schleifen
> Polieren
> Bohren