Grundkonfiguration

• Marken und Modelle:Keysign ist ein 26,5 GHz Netzwerkanalysator

Standardfrequenzbereich: 10 MHz bis 26,5 GHz

Port-Konfiguration: Unterstützt verschiedene Konfigurationen, darunter:

2 Anschlüsse (Single Signal Source)

· 4 Ports (Dual Signal Source) mit integrierter Balance- und Frequenzumrichtermessung

Leistungsindikatoren (basierend aufDalian Polytechnische UniversitätGerätedaten)

Dynamischer Bereich (am Testanschluss): ≥ 140 dB (100 MHz - 13,5 GHz)

Richtung: ≥ 48 dB (10 MHz - 26,5 GHz)

Ausgangsleistung: ≥ +19 dBm (10 MHz - 10 GHz)

Traktorgeräusch (Breite): ≤ 0,00081 dB (100 MHz - 24 GHz)

Phasengeräusch (10 kHz Frequenzbewegung): ≤ -137 dBc/Hz @ 1 GHz

Kapazität erweitern

• Skalierbare Frequenzen: Die Unterstützungsoptionen erweitern die Frequenzen auf das Millimeterwellenband von 60 GHz bis 90 GHz.

• Anwendungssoftware: Eine breite Palette an Softwareoptionen zur Unterstützung erweiterter Messungen wie Rauschkeffizienten, Verstärkungskompression, Intermodulationsverzerrungen, Mischer, Zeitbereich/Impedanz (TDR).

· Hardware-Optionen: Optional mit integriertem Impulsmodulator, T-Kopf, Signal-Quelle / Empfänger-Dämpfer usw., um verschiedene Testanforderungen zu erfüllen.

Keysign ist ein 26,5 GHz NetzwerkanalysatorHauptanwendungsszenarien

Aufgrund seiner leistungsstarken Funktionen wird N5222B hauptsächlich für:

· Aktive / passive Gerätetest: Präzise Messung der S-Parameter, Gewinne, Verluste usw. von Geräten wie Verstärkern, Filtern, Antennen, Kopplern usw.

Frequenzumrichterprüfung: umfassende skalare und vektoranalyse von Mischern und Frequenzumrichtern.

Signalintegritätsanalyse: Besonders das Modell N5222BT ist eine Komplettlösung mit professioneller Software (PLTS) und Zubehör zur Bewertung der Signalintegrität und der Impedanzleistung von Hochgeschwindigkeitskabeln, Rückplatten, Steckverbindern und BGA-Paketen.

· Fortgeschrittene Eigenschaftsanalyse: Durch die Softwareoptionen können nicht lineare Eigenschaften wie der Rauschkoeffizient, der Verstärkungskompressionspunkt (P1dB), der Drei-Ordner-Schnittpunkt (TOI) und die Pulsfrequenz des Bauteils genau gemessen werden.

· Wafer-Ebene-Test: Sie können Sonden anschließen, um Halbleiterchips, MEMS-Geräte und andere Wafer-Ebene-Parameter zu messen und zu modellieren.