Halbleiterparameteranalyser FS800

Halbleiterparameteranalyser FS800Einführung:

Der FS800 Geräteparametranalysator ist die neue Generation von Halbleitergeräten von Ubron Electronics zur Analyse der elektrischen Eigenschaften. Er verfügt über eine vollständige Konfigurationsflexibilität und andere Merkmale, die den Stromspannungs- (IV) -Test, den kapazitiven Spannungs- (CV) -Test, die schnelle Wellenformausbildung und -prüfung, die niederfrequente Geräuschprüfung und die Hochgeschwindigkeitssignalaufnahme in einem Gerät ermöglichen.

Das Gerät verfügt über eine intuitive 18,5-Zoll-Touchscreen-Schnittstelle, eine eigenständig entwickelte Testhardware-Architektur und einen Datenbus, und ein leistungsstark skalierbarer Halbleiter-Charakterisierungssystemhost mit bis zu 24 selbstgeforschten hochpräzisen SMUs oder 132-Kanälen-Low-Leak-Matrix-Schaltern. Gleichzeitig können Sie eine Vielzahl von Wafer-Ebene-elektrischen Parameter-Automatisierungs-Prüflösungen über ein einziges Gerät mit optionalen Schnellwellenbildungs- und Prüfkits sowie hochpräzisen LCR-Modulen je nach Bedarf anbieten. Die eingebaute LabExpress-Testsoftware ist mit einer umfangreichen integrierten Testalgorithmus-Bibliothek ausgestattet und ermöglicht eine effiziente und kollaborative Steuerung von Prüfgeräten, Geräten von Drittanbietern, halbautomatischen und vollautomatischen Sondenbändern.

Die umfassende und flexible Testanalyse-Funktion des FS800 beschleunigt die Entwicklung und Bewertung von Halbleitergeräten und -prozessen erheblich und erfüllt alle Anforderungen an Halbleiterlabor- und Produktionslinientests.

Anwendungsbereiche:

•CMOSParametertest

- MOSFETundBJTTransistorparameterprüfung

-Dioden undPNTest der Knotenparameter

- MEMSTests mit Sensorparametern

• Neue Materialparameterprüfung

-Dünnfilm-Transistoren, Parameterprüfung von Anzeigeeinrichtungen

-Parameterprüfung von 2D-Materialien und optischen Detektoren

-Nichtflüchtige Speicher- und Materialparameterprüfung

-Parameterprüfung von neuromorphischen Geräten, Memoristoren usw.

-Parametertest für flexible Elektronik, tragbare Elektronik

• Eigenschaftsanalyse von Halbleitergeräten

• Modellierung von Halbleitergeräten

• Zuverlässigkeitsprüfung von Halbleitergeräten

• Produktionslinienprüfung

• Hocheffiziente skalierbare Hardware-Plattform

-Eigenständig entwickelte Testhardware-Architektur und Datenbus

-Unterstützt bis zu 24 einSMUoder 132 Matrixschalter für den Kanal

-Kann gleichzeitig unterstützt werdenSMUund Matrix-Schaltmodul zur Implementierung von Wafers in einem einzigen Desktop-Gerät

Automatisierte Prüfung der elektrischen Parameter der Stufe

-Unterstützung für Multi-Channel-Paralleltest und Multi-Point-Paralleltest

-ErweiterbarGPIBSchnittstelle

-ErweiterbarPXIGehäuse

•FS810Hohe PräzisionSMU

- 0.1fAHohe Auflösung

-Höchste Prüfgenauigkeit15fA

-Maximale Spannung200VMaximaler Strom.1AMaximale Gleichstromleistung20 W

- 1,5 ms/sSampling Rate Zeitbereich Signal Erfassung

•FS821Low Leakage Matrix Schalter Ausgangsmodul

- 12Dreichaxiale Ausgangsschaltfläche

- 200VBelastungsspannung,1ALaststrom

- 100fAVerschiebener Strom

- 30MHzBandbreite

•FK401BSchnelle Wellenbildung und Testpakete

- 2Schnell.IVKanal, maximale Spannung10VMaximaler Strom.10mA

- 100ms/sHochgeschwindigkeits-Zeitbereich-Signal-Erfassung mit Abtastrate

-Schneller PulsIVPrüfung, minimale Impulsbreite130ns

-unterstützenSMUDirekt

-Erweiterbar auf maximal 5 Ein Modul (10 通道）

•FS338 und FS339Hohe PräzisionLCRModul

- 40VGleichstromverschlagebereich

- FS338Bandbreite:20Hz bis 2MHz

- FS339Bandbreite:20Hz bis 10MHz