Ionenschleifmaschine ArBlade 5000

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Der ArBlade 5000 ist ein leistungsstarkes Modell der Hitachi Ionenschleifmaschine. Es ermöglicht ein ultraschnelles Schnittschleifen. Hocheffiziente Schnittbearbeitungsfunktionen vereinfachen die Probenbearbeitung bei der Beobachtung von Elektroskopsschnitten.

Produktdetails

Ionenschleifmaschine ArBlade 5000

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离子研磨仪 ArBlade 5000

Der ArBlade 5000 ist ein leistungsstarkes Modell der Hitachi Ionenschleifmaschine.
Es ermöglicht ein ultraschnelles Schnittschleifen.
Hocheffiziente Schnittbearbeitungsfunktionen vereinfachen die Probenbearbeitung bei der Beobachtung von Elektroskopsschnitten.

Eigenschaften
Spezifikationen

Eigenschaften

Schnittschleifgeschwindigkeiten bis zu 1 mm/h^*1！

Die neu entwickelte PLUSII-Ionenpistole emittiert einen Ionenstrahl mit hoher Stromdichte, der deutlich verbessert wird^*2Die Schleifgeschwindigkeit.

*1: Si-Steckrand 100 µm, maximale Bearbeitungstiefe 1 Stunde
*2: Die Schleifgeschwindigkeit ist doppelt so hoch wie unsere Produkte (IM4000PLUS: Produktion 2014)

Abschnittsschleifergebnisse vergleichen
(Muster: automatischer Bleistiftkern, Schleifzeit: 1,5 Stunden)

本公司产品IM4000PLUS
Produkte des Unternehmens IM4000PLUS

ArBlade 5000

Maximale Schnittbreite bis 8 mm!

Mit einer Breitbereichsschleifprobenstütze mit einer Bearbeitungsbreite von bis zu 8 mm eignet sich das Schleifen von elektronischen Komponenten usw.

Verbundschleifmaschine

Die IM4000-Serie von Composite-Ionenschleifmaschinen (Querschnittsschleifen, Flachschleifen) ist sehr gut bewertet.
Die Proben können nach Bedarf vorbehandelt werden.

Schnittschleifen

Schneiden oder mechanisch schleifen Schnittstellen von weichen Materialien oder Verbundwerkstoffen, die schwer zu handhaben sind

Flachschleifen

Reparatur oder Oberflächenreinigung von Proben nach dem mechanischen Schleifen

截面研磨加工示意图
Schnittschneidenbearbeitung

平面研磨加工示意图
Diagramm der Flachschleifbearbeitung

Spezifikationen

Spezifikationen
Allgemein
Gas verwenden	Ar(Argon)gas
Beschleunigte Spannung	0～8 kV
Schnittschleifen
Schnellste Schleifgeschwindigkeit (Material Si)	1 mm/hr^1Mehr als 1 mm/h^1
Maximale Schleifbreite	8 mm^*2
Maximale Probengröße	20(W) × 12(D) × 7(H) mm
Bewegungsbereich der Probe	X ± 7 mm, Y 0 ~ + 3 mm
Ionenstrahlbearbeitung	Standardkonfiguration
Schwingwinkel	±15°, ±30°, ±40°
Flachschleifen
Maximaler Bearbeitungsbereich	φ32 mm
Maximale Probengröße	φ50 × 25(H) mm
Bewegungsbereich der Probe	X 0～+5 mm
Ionenstrahlbearbeitung	Standardkonfiguration
Drehgeschwindigkeit	1 r/m、25 r/m
Neigungswinkel	0～90°

*1: Si-Steckrand 100 µm, maximale Bearbeitungstiefe 1 Stunde
*2: Beim Schleifen des Probensitzes mit breiten Schnittbereichen

Auswahl

Spezifikationen
Projekte	Inhalt
Hohe Verschleißbeständigkeit	Verschleißfeste Absperrplatten sind etwa doppelt so hoch wie Standard-Absperrplatten (ohne Kobalt)
Mikroskope zur Bearbeitungsüberwachung	Vergrößerungsvergrößerung 15 x bis 100 x Doppeloptik und Trioptik (CCD kann hinzugefügt werden)