Intelligentes Röntgenfluorescenz-Beschichtungsdickenmesser

Der intelligente Thick800A ist ein Tester für die Dicke der oberen Lichtfolie, der von Tianrui Instruments Co., Ltd. mit langjähriger Erfahrung in der X-Fluoreszenz-Dickenmessung entwickelt wurde. Durch die dreidimensionale Bewegung der X-Achse Y-Achse Z-Achse, das doppelte Laserpositionierungs- und Schutzsystem, ermöglicht das Instrument eine schnelle fokussierte präzise Analyse von Proben in verschiedenen einfachen und komplexen Formen wie Ebenen, Konkubitäten, Ecken und Bogenflächen.

Leistungsvorteile

Konfiguration - Verwendung eines hochauflösenden SDD-Detektors; Auflösung bis zu 140 eV
Oberleuchtendes Design - Schnelle, präzise und effiziente Erkennung von kleinen unregelmäßigen Oberflächenproben wie Bogen, Oberleuchtendes Design, Nuten, Gewinde usw.
Hochpräzise automatisierte X-Achse-Y-Achse-Z-Achse-Verbindungseinrichtung ermöglicht eine präzise, fokussierte und schnelle Erkennung der Probe
Hochautomatisierter Positionierungslaser zur schnellen und präzisen Positionierung der Prüfhöhe, um Beschichtungsprüfungen in verschiedenen Größen zu erfüllen
Eine Vielzahl von geradlinigen Löchern zur Auswahl - geradlinige Löcher: 0,05 * 0,3 mm; Ф0,1 mm; Ф0.2mm； Ф0.3mm； Ф0.5mm
Genaue Positionierung - Präzise und schnelle Positionierung der Proben
Einfache Bedienung – vollautomatisches, intelligentes und integriertes Design für eine einfache Prüfung

Technische Vorteile

Hohe Instrumentenkonfiguration

Abbildung 1

Abbildung 2

Intelligentes Röntgenfluorescenz-Beschichtungsdickenmesser

Der intelligente Thick 800A basiert auf einem industriellen SDD-Halbleiter-Elektrokühldetektor mit einer Auflösung von bis zu 140 eV, der gut benachbarte Elementspitzen unterscheidet.
Nehmen Sie Au / Ni / Cu Beschichtung zum Beispiel, das Spektrum der Zählbox-Instrumente wie in Abbildung I, aus dem Spektrum kann man sehen, dass sich die Spitze der zwei Elemente Kupfer-Nickel schwer überlappen, die Spitzenform des Goldes und der Grund der Probe überlappen; Es verhindert die genaue Analyse der Elemente.
Abbildung 2 ist das Spektrum des Halbleiter-SDD-Instruments zum Testen von Au / Ni / Cu, aus dem Spektrum kann man sehen, dass die Spitzen der drei Elemente Kupfer-Nickel-Gold sehr deutlich unterschieden werden, was die genaue Analyse der Elemente fördert.

Fokussiertes Lichtdesign

Der intelligente optische Wegwechsler mit Thick 800A* ermöglicht, dass die Röntgenstrahlen in der gleichen vertikalen Linie wie das Kameralicht liegen und den Laserpunkt und den Testpunkt mit hohem Fokus erreichen; Zusammen mit FP-Software, um die Fokuszoomfunktion zu erreichen, um eine präzise Prüfung von kleinen unregelmäßigen Proben zu ermöglichen; Der hochintegrierte optische Schalter und der Empfänger verdoppeln den Winkel und reduzieren effektiv die Fehler, die durch die Radianennneigung verursacht werden.

Spezielle Filter für geringe Hintergrundmessungen

Durch speziell gefertigte Filter kann die Absorption und Verstärkung der Röntgenfluorescenz effektiv reduziert werden, die Hintergrundstreuung verringert und die Detektionsgrenze für ultradünne Metallelemente erhöht werden (kann 0,005um erreichen), um die Dickenanalyse der ultradünnen Metallbeschichtung zu erreichen.

Hochpräzise Positioniertechnik

Hochpräzise mobile Plattform kann Prüfpunkt genau positionieren, Plattform Motor wiederholte Positionierung Genauigkeit kleiner als 0,005 mm; mobile Plattform kann durch Testsoftware visualisiert werden: Maus kann die mobile Plattform steuern, die Mausklickposition ist der Prüfpunkt.

FP-Algorithmus

Intelligente Thick 800A Analyse-Kerntechnologie - FP-Algorithmus
Genaue Elementdickenprüfung
Mikrozonenanalyse, Filmanalyse, erweiterte Subspektralineanalyse

Professionellere und menschenfreundlichere Testsoftware

① Hauptschnittstelle erhöht Kurven schnelle Schaltfunktion;
② Maus bewegen Sie die Tastenkombination ändern Sie nicht Ctrl, die Maustaste, die Probe-Plattform wird bewegen, wo, bequemer für Kunden zu testen;
② Beschichtungsdicke wird automatisch bestimmt, und der Kunde kann die Bestimmungsnormen nach Bedarf anpassen;
② Arbeitskurve Schnittstelle Hinzufügen von Kommentarnamen kann bearbeitet werden und kann in der Hauptoberfläche Kurve Schnittstelle angezeigt werden, Kommentarbeschreibung für englische Elemente, einfache Kundenunterscheidung, Schnittstelle ist kundenfreundlicher
② Automatische Erzeugung von Testberichten, Anzeige, Abrufen usw. von Testhistorischen Daten
Industrielösungen, wie Präzisionskomponenten Palladium-Bor-Nickel-Nickel-Kupfer-Re-Nickel-Nickel, Elektrophoresis-Lack-Messdicke, Aluminium-Plastik-Film-Test-Aluminium-Beschichtung-Dicke usw.