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Shanghai Minze Elektronik Technologie Co., Ltd.
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Inframet ST Kurzwelleninfrarotkamera Testsystem

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/02
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Das ST-Testsystem verwendet eine Reihe verschiedener Ziele, um die Standard-Zielgrafik auf die getestete Kurzwellen-Infrarotkamera zu projizieren. Die Kurzwellen-Infrarotkamera erzeugt ein verzerrtes Zielbild, das vom Computer erfasst und vom menschlichen Auge subjektiv oder durch Software berechnet wird, um die wichtigen Parameter der Kurzwellen-Infrarotkamera zu erhalten. ST-Testsystem umfasst reflektierende Parallelröhren, Bandbreitenlichtquellen, mittleren Schwarzkörper, drehendes Zielrad, eine Reihe von Zielen, eine Reihe von Filtern, PC, Bilderfassungskarten und Testsoftware.

Produktdetails

    Zusammenfassung:
    Die SWIR-Kamera (Kurzwellen-Infrarot) ist eine wichtige Überwachungskamera. Erstens hat die Entwicklung und Reife der InGaAs-Technologie die Entwicklung kostengünstiger Kurzwellen-Infrarotkameras gefördert; Zweitens sind InGaAs-Kameras in sehr dunklen Nächten sehr empfindlich und können daher klarere Bilder erzeugen. Wieder einmal sind Kurzwellen-Infrarot-Kameras, die im sichtbaren Licht / Nah-Infrarot-Band arbeiten, nicht leicht beschädigt in einer unreinen Luftumgebung im Vergleich zu TV / LLLTV-Kameras; Darüber hinaus können Kurzwellen-Infrarotkameras mit kleinen optischen Systemen Bilder mit höherer Auflösung erzeugen als Infrarotthermikameras.


    Inframet ST 短波红外相机测试系统
  • ST Prüfsysteme


  • Eine Kurzwellen-Infrarotkamera ist ähnlich wie eine TV/LLLTV-Kamera und nutzt die Strahlenreflexion des beobachteten Ziels, um Bilder zu erhalten. Zur gleichen Zeit können Kurzwellen-Infrarotkameras die durch das getestete Ziel erzeugte Wärmestrahlung nutzen, um ähnliche Bilder wie ein Infrarot-Thermokamera zu erzeugen. Gemäß der oben beschriebenen Funktionsbeschreibung kann die Prüfung einer Kurzwellen-Infrarotkamera nach dem Prüfprinzip der TV-/LLLTV-Kamera oder nach dem Prüfprinzip der Infrarot-Thermometer durchgeführt werden. Parameter von InGaAs FPAs können auch zur Charakterisierung von Kurzwellen-Infrarotkameras verwendet werden.
    Das ST-Testsystem verwendet eine Reihe verschiedener Ziele, um die Standard-Zielgrafik auf die getestete Kurzwellen-Infrarotkamera zu projizieren. Die Kurzwellen-Infrarotkamera erzeugt ein verzerrtes Zielbild, das vom Computer erfasst und vom menschlichen Auge subjektiv oder durch Software berechnet wird, um die wichtigen Parameter der Kurzwellen-Infrarotkamera zu erhalten. ST-Testsystem umfasst reflektierende Parallelröhren, Bandbreitenlichtquellen, mittleren Schwarzkörper, drehendes Zielrad, eine Reihe von Zielen, eine Reihe von Filtern, PC, Bilderfassungskarten und Testsoftware.
    Eigenschaften:

    Unterstützt die Simulation von drei verschiedenen Situationen:
    1) Reflexion der mehrfarbigen Strahlungsstruktur (das System verwendet eine SAL-Lichtquelle);
    2) Ausstrahlungskonfiguration (das System verwendet MTB-Schwarzkörper);
    3) Einfarbige Lichtquelle Konfiguration (SAL Lichtquelle Konfiguration Bandpass-Filter).
    2. Unterstützung für die Prüfung der optischen Kaliber nicht größer als 100 mm Kurzwellen-Infrarotkamera;
    Unterstützt die Simulation einer sehr dunklen Nachtumgebung und einer sehr hellen Tagesumgebung;
    4. Unterstützung der Simulationsziele bis zu 600 TemperaturenoderC;
    V. Module: CDT1000 Parallelloptrohr, SAL-Lichtquelle, MTB-2D mittlerer Schwarzkörper, MRW-8 rotierendes Zielrad, eine Reihe von Zielen, 1550nm Bandpass-Filter, Bilderfassungskarte, MTB-Steuerprogramm, SAL-Steuerprogramm, TAS-S-Programm;
    6. Computerisches Testsystem, halbautomatische Prüfung der wichtigen Parameter der Kurzwellen-Infrarotkamera;
    1) Modus I: Auflösung, MRC (minimaler auflösbarer Kontrast), MTF (auf die Übertragungsfunktion eingestellt), Verzerrung (Verzerrung), FOV (Sichtfeld), Empfindlichkeit, SNR (Signal-Rausch-Verhältnis), NEI (Rausch-Äquivalenteingang), FPN (Fixed Graphic Noise), Non-Uniformity (Ungleichmäßigkeit) usw.
    2) Modus II: MRTD (minimale erkennbare Temperaturdifferenz), MDTD (minimale erkennbare Temperaturdifferenz), MTF (auf die Übertragungsfunktion eingestellt), NETD (Geräuschgleichwertige Temperaturdifferenz), FPN (Festes Grafikgeräusch) usw.
    Mode III: Mean Detectivity (Durchschnittliche Detektivität), Noise Equivalent Radiance (Lärmgleichwertige Strahlungshelligkeit), Rauschen, Dynamikbereich usw.