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Horizontales Metallphasemikroskop CMM-60E

VerhandlungsfähigAktualisieren am06/07
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Übersicht

Horizontale Metallphasemikroskope der Serie CMM-60E werden zur Identifizierung und Analyse von Gewebestrukturen verschiedener Metalle und Legierungen verwendet. Horizontale Metallphasemikroskope sind weit verbreitet in Fabriken, Schulen und Forschungsbereichen. Horizontales Metallphasemikroskop ist ein gutes Werkzeug für die Prüfung von Metallmaterialien, die Qualitätserkennung von Gussstücken und die analytische Forschung des Metallphasewebes nach der Verarbeitung von Metallmaterialien. Einfache Polarisierung eignet sich besonders für die Prüfung von Tinte und Eisenstein.

Produktdetails

Horizontales Metallphasemikroskop CMM-60E Detaillierte technische Parameter

Einsatz:

  CMM-60E/CMM-60ZHorizontale Metallphasemikroskope zur Identifizierung und Analyse von Organisationsstrukturen verschiedener Metalle und Legierungen. Horizontale Metallphasemikroskope sind weit verbreitet in Fabriken, Schulen und Forschungsbereichen. Horizontales Metallphasemikroskop ist ein gutes Werkzeug für die Prüfung von Metallmaterialien, die Qualitätserkennung von Gussstücken und die analytische Forschung des Metallphasewebes nach der Verarbeitung von Metallmaterialien. Einfache Polarisierung eignet sich besonders für die Prüfung von Tinte und Eisenstein. Horizontales Metaphasemikroskop Umkehrpolarisiertes Metaphasemikroskop

II. Systembeschreibung:

Horizontales Metaphasemikroskopsystem ist die Kombination des herkömmlichen optischen Mikroskops mit dem Computer (Digitalkamera) durch die optische Umwandlung organisch, kann nicht nur auf der Brille mikroskopische Beobachtung, sondern auch auf dem Computer (Digitalkamera) Display-Bildschirm in Echtzeit dynamische Bilder beobachten und die erforderlichen Bilder bearbeiten, speichern und drucken können.

Technische Parameter:

1. Brille

Typ

Vergrößern

Sichtfeld (mm)

Flache Brille

10X

Φ18
12.5X φ14
Splitting Brille 10X φ18

2. Objektive

Objektivtyp

Vergrößern

Numerischer Durchmesser

Arbeitsabstand (mm)

Flachfeld Farbdifferenz Objektiv
(ohne Deckel)

10X

0.25

7.51

20X

0.35

1.59

40X 0.65 0.51
100x (Öl) 1.25 0.42

3. Gesamtvergrößerung

10X

20X

40X

100X

10X

100X

200X

400X

1000X

12.5X

125X

250X

500X

1250X

4. Systemreferenzvergrößerung: 50X-2600X

Stromversorgung: Eingang 220V / 50Hz oder 110V / 60Hz

Ausgang 6V 30W Halogenlampe, Helligkeit einstellbar

6. Polarisierungsvorrichtung: Polarisierungsspiegel, Polarisierungsspiegel

7. Bewegungsbereich: 75 x 50mm

8. Grobe Mikro-Koaxial-Fokusmechanismus, Mikro-Handgrid-Wert: 0,002mm

9. pupillare Abstandseinstellungsbereich: 53-75mm

Schimmelschutz: Eigenartiges Schimmelschutzsystem

4. Systemzusammensetzung:

  Computerbasiertes horizontales Metallphasemikroskop (CMM-60E)1, Metallphasemikroskop 2, Adapterspiegel 3, Kamera (CCD) 4, A/D (Bilderfassung) 5, Computer

  Horizontales Metallphasemikroskop mit Digitalkamera (CMM-60Z)1, Metallphasemikroskop 2, Anpassungsspiegel 3, Digitalkamera.

5. Auswahl der Geräte:

Brille: 5X 10X (φ20)

Objektiv: 2,5 x 4 x

3. Hochpixelbildsystem

Metallographische Bildmesssoftware CF-2000C

5. Software zur Analyse von Metallographie (Quantitativ) CF-2000JX