Hitachi S-3700N Scan-Elektronenmikroskop

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Hitachi S-3700N Scan-Elektronenmikroskop

Produktdetails

Produktbeschreibung
Das Scan-Elektronenmikroskop (SEM) hat sich heute auf eine Vielzahl von Unternehmenseinheiten ausgedehnt, nicht nur im Bereich der akademischen Forschung, sondern auch in allen Branchen, und entsprechend diesem Trend hat sich die Vielfalt der Proben, die der Benutzer beobachten und analysieren muss, erweitert. Der S-3700N wurde genau unter Berücksichtigung der Anforderungen der oben genannten vielfältigen Anwendungen entwickelt und ist in der Standardkonfiguration mit einem Sekundärelektronendetektor, einem fünfstufigen BSE-Detektor und einem variablen Druckmodus (VP) ausgestattet.
Dies ermöglicht es, dass die überwiegende Mehrheit der Proben beobachtet werden kann, um die Metallbeschichtung zu entfernen, die in der Vergangenheit von herkömmlichen Scan-Elektroskopen erforderlich war, um die wasserhaltigen Proben direkt im natürlichen Zustand zu beobachten.
Der S-3700N verfügt über einen riesigen Probenraum, der Proben mit Durchmessern von bis zu 300 mm und Höhen von bis zu 110 mm aufnehmen kann. Die Probenraumeinrichtung verfügt über eine Vielzahl von Zubehör-Ports, die sich an die Anforderungen der Elektroskope in der heutigen extrem breiten Anwendung anpassen können, diese Zubehörpakete EDX, WDX, EBSD, Probenraumüberwachungsgeräte, Kühlgeräte usw. Die Vielseitigkeit dieses Produkts und die flexible Systemkonfiguration sind perfekt für Ihre heutigen und zukünftigen Anforderungen geeignet.
Produkteigenschaften
Die extrem großen Probenräume können Proben mit einem Durchmesser von bis zu 300 mm und Zubehör wie EDX/WDX/EBSD gleichzeitig installieren. Die tragbare Probe kann bis zu 110 mm hoch sein.
5-Achs-Motorantrieb für zentrale Neigung, Drehung, Bild-Navigationssystem, Probenstückverfolgung, Spurspeicherung und zentrale Rückstellung sind alle Motorsteuerungsfunktionen für Probenstücke.
Die S-4800, SU-70 und S-3400N verfügen über ein benutzerfreundliches GUI-Design, das die Bedienung des Bedieners nach einfacher Schulung ermöglicht.
Das Display-System verfügt über ausgezeichnete Leistungen wie Vollbildanzeige, blinkenfreie, hohe Pixel- und Echtzeit-Bildanzeige und kann auch Echtzeit-Signale mischen und gleichzeitig unterschiedliche Probeninformationen anzeigen, die von zwei verschiedenen Detektoren beobachtet werden.
Der variable Druckmodus erfordert keine Metallbeschichtung und kann unmittelbar unbeleitende Proben beobachtet werden.
Der hochempfindliche Halbleiter-Rückstreuerungs-Elektronendetektor kann im Schnellscannmodus betrieben werden, was die Suche nach Interessenbereichen in großen Proben einfacher und bequemer macht.
Die Turbomolekularpumpe (TMP) ist standardmäßig ausgestattet und ihre sauberen und trockenen Vakuumbedingungen minimieren die Verschmutzung der Probe. Im Gegensatz zu herkömmlichen Diffusionspumpen-Scan-Elektronenmikroskopen erfordert dieses Produkt keine hohe Heizleistung oder einen Zirkulationsbehälter, was es zu einem energiesparenden, umweltfreundlichen Scan-Elektronenmikroskop macht.

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