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Raum 611, Gebäude 2, 3000 Tongjin Avenue, Wujiang Economic and Technological Development Zone, Suzhou, Provinz Jiangsu
Produktkategorien
Suzhou Ivan Zhitong Instrument Technologie Co., Ltd.
Hochleistungs-Desktop XRD
VerhandlungsfähigAktualisieren am05/07
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Übersicht
Der EVASTAR Y2 Hochleistungs-Röntgendifferator ist ein Desktop-Diffractor, der eine hochleistungsfähige Röntgenlichtquelle mit einer hohen Erkennungseffizienz kombiniert und ein 2D-Array-Detektor mit direktem Lesen von Röntgenphotonen ist. Die Röntgenleistung des $r$nEVASTAR Y2 beträgt 1600 Watt und das Angulometer ist in der θ-2θ- oder θ-θ-Struktur ausgestattet. Das Gerät ist standardmäßig mit einem Photonendirektlesedetektor mit 256 x 256 Pixeln ausgestattet. Während genaue Messdaten gewährleistet sind, können die überwiegende Mehrheit der Pulverproben innerhalb weniger Minuten ein optimales Diffraktionsdatenverhältnis zwischen Stärke und Rausch erhalten.
Produktdetails
Technische Parameter des Hochleistungs-Röntgendifferators
Größe und Gewicht des Instruments |
900 mm x 680 mm x 550 mm, 100 kg |
Röntgenleistung |
1600W |
Röntgenrohrziele |
Regelmäßiges geschlossenes Ziel, Cu-Ziel oder Co-Ziel optional |
Winkelmesser |
Vertikal θ-2θ oder θ-θ, Angulometer mit einem Radius von 170 mm |
Detektoren |
Photonischer Direktleser 2D-Array-Detektor |
Energieauflösung des Detektors |
0.2 |
Winkelbereich |
-3°～156° |
Winkelgenauigkeit |
±0.01° |
Vergleich zwischen theoretischen und empirischen Spitzenpunkten
Wiederholte Messungen des Instruments
Anwendungsfälle:
Testdaten für Kordonspulver (10 Grad/min)
XRD-Spektrum des dreifachen Materials, schwarz für die gewöhnlichen Messmusterdaten, blau für die Defluoreszenzmusterdaten
Quantitative Analyse von Zementproben ohne Proben
Messspektrum von Siliziumnitrid-Keramikproben
Graphitätsmessung
Diffraktionsdiagramme und Struktur von dreifachen Materialien
Reflexive Batteriemessung in situ
SBA15 Interpore Material Small Winkel Diffraction (SAXRD) Diagramm
Intrusion-Diagramm (GID) für 20 Nano ITO-Glas
20 nm ITO Glasreflexivität (XRR) Messdiagramm
Datendiagramm zur Messung der Restspannung von Aluminium
Anwendungsrichtung:
Qualitative und quantitative Analyse
Keine Quantitative Analyse
Korngrößenanalyse
Analyse vor Ort
Metall Restspannung
Analyse der Kristallität und des Nichtkristallinhalts
Struktur und Analyse
Präzise Messung der Bitarray-Parameter
Mikrospannungsanalyse
Niedrigvinkelmessung von Interporenmaterialien
Strukturanalyse
Dünnfilm-Einstrahlung
Messung der Reflexivität
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