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Shenzhen Chobang Instrumente Co., Ltd.
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Glitzentladungsspektrometer

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/12
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Glanzentladungsspektrometer Qualitätskontrolle, Werkzeuge für die Entwicklung neuer Materialien$r$n Oberflächenbehandlungsprozess$r$n Oberflächenbeschichtungsprozess$r$n Nahe der Oberfläche, die durch Materialien und Prozesse behandelt wurde$r$n kann die chemische Zusammensetzung und die Schichtdicke genau analysieren$r$n kann nicht-leitfähige Materialien und Beschichtungen wie Glas, Keramik, Diamant, Korrosionsschutzbeschichtungen analysieren, nur YI-Nichtleiter- und Halbleitertiefenprofile
Produktdetails

辉光放电光谱仪


Qualitätskontrolle, Werkzeuge für die Entwicklung neuer Materialien

Oberflächenbehandlungsprozess Oberflächenbeschichtungsprozess Nahe Oberflächen, die durch Werkstoffe und Prozesse behandelt wurden Genaue Analyse der chemischen Zusammensetzung und der Schichtdicke Nichtleitfähige Materialien und Beschichtungen wie Glas, Keramik, Diamant, Korrosionsschutzbeschichtungen können analysiert werden. Schnelle Analyse von Nichtleiter- und Halbleitertiefenprofilen nur YI

Das GDOES-Instrument bietet ein Mittel zur schnellen Tiefenprofilanalyse von Materialien mit schichtförmiger Struktur

Im Vergleich zu Mikrozonenanalysetechniken wie Elektroskop, Oschie und anderen verfügt GDOES über eine große regionale Analysefähigkeit, die die Makrokomponenten des Materials vollständig charakterisieren kann.

Einfache, schnelle Vorbearbeitung und Vorbereitung von Materialien mit hoher Analyseeffizienz

Typische Anwendungsbereiche von GDOES sind wie folgt:

· Metallindustrie · Automobilindustrie und Automobilzulieferer · Stahlindustrie · Beschichtungsindustrie · Präzisionsmaschinenindustrie · Luft- und Raumfahrtindustrie · Halbleitermaterialien · Photovoltaik

· PVD / CVD · Pharmaindustrie (Träger, menschliche GONG Knochen GE / Gelenke. …. · Elektronikindustrie · Kunststoffindustrie · Glaskeramikindustrie · Oberflächentechnik · Forschungs- und Entwicklungsuniversitäten

GlitzentladungsspektrometerAnwendung

Testelement: Wasserstoff (H)-Uran (U), ~76 Elemente

Gehaltsbereich: 0,Xppm bis %

Prüftiefe: Oberfläche (Nano) bis zu Hunderten von Mikron

Prüfgenauigkeit: Inhalt - RSD besser als 2% Tiefe - RSD besser als 5%

Beschichtungsart: -PVD/CVD/ECD-Elektrobeschichtung (Zink, Kupfer, Nickel, Chrom, Titan, Zinn und andere Metallbeschichtungen) - Phosphatierung, Passivierung und andere chemische Schichten - Dünnfilmbatterien / Flexible Batterien (CIGS, LIB...), - Nichtkristallines Silizium, Cadmiumdioxid, Kupfer-Zinksulfid und andere - Diamantbeschichtung - Wärmebehandlung (Carbonisierung, Nitrifizierung, Coosmose etc.) - Vakuumverdampfung, Magnetron-Spritzbeschichtung

Geeignet für Proben: - Verschiedene Beschichtungen der Oberfläche des Leiters (Leiter oder Nichtleiter) - Verschiedene Beschichtungen der Oberfläche des Nichtleiters (Leiter oder Nichtleiter) - Verschiedene Beschichtungen der Oberfläche der Folie / des flexiblen Materials

Prüfprobenformation: - Feststoff: Ebene, Fläche

Folie

Oxidationsfilm in der Luft (spezielle Verpackungsprobenlager verfügbar)

Verwendung von GDOESGlitzentladungsspektrometerVorteile der Analyse

Präzise analytische Leistung: (nahezu) alle Elemente der Periodischen Tabelle können analysiert werden, einschließlich Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Kohlenstoff,

Fluor, Chlor usw.

Niedrige Detektionsgrenzen: bis zu 0,Xppm

· Gute Reproduzierbarkeit

· Analysierbare extrem dünne Schichten (Nanoskala)

· Analysierbare leitende und nicht leitende Proben

• Keine Mühe zur Vorbereitung von Proben

Kurze Analysezeit, schnelle Ergebnisse

· Einfach bedienbare Instrumente und Software - WinGDOES

· Extrem niedrige Betriebskosten

GDOES bietet leistungsstarke Technologien für die tiefgreifende Profil- und Elementgehaltsanalyse von Feststoffen zu einem ausgezeichneten Preis-Leistungs-Verhältnis. In gewisser Hinsicht ist GDOES eine gute Alternative zu bestehenden Methoden wie GDMS, AUGER, XRF, SEM, SNMS, SIMS und erheblich kostengünstiger.