Fokussiertes Ionenstrahlelektroskop

Das Thermo Scientific Helios 5 Laserfokussiertes Ionenstrahlelektroskop bietet hervorragende Leistungsf?higkeit für gro?e Volumenanalysen, Ga-freie Probenvorbereitung und Pr?zisionsmikrobearbeitung.

Thermo Scientific™ Helios™ 5 LaserFokussiertes IonenstrahlelektroskopBietet ausgezeichnete Fähigkeiten für große Volumen-3D-Analyse, Ga-freie Probenvorbereitung und Präzisionsmikrobearbeitung. Mit dem innovativen, * integrierten Fiftosekund-Laser, der eine schnellere Materialentfernungsrate und eine hohe Schnittflächengüte bietet, ist das schnellere qualitativ hochwertige Sub-Oberflächen- und dreidimensionale Charakterisierungsgerät bei Nanoauflösungen im Millimeterbereich.

☆ Schnellere Materialentfernungsgeschwindigkeit 15.000 Mal schneller als typische Ga + FIB für Schnitte im Millimeter-Maßstab

☆ Statistische Sub-Oberfläche und 3D-Datenanalyse, um ein größeres Volumen in kürzerer Zeit zu erhalten

☆ Wiederholbare Schnittplatzierung mit drei Übereinstimmungen auf der Probe

☆ Schnelle Charakterisierung tiefer Merkmale durch Extraktion von Sub-Oberflächen TEM-Flächen oder Blöcken für 3D-Analysen

☆ Handhabung anspruchsvoller Materialien mit hohem Durchfluss wie nicht leitenden oder Ionenstrahlempfindlichen Proben

☆ Schnelle und einfache Charakterisierung luftempfindlicher Proben, für die Bildgebung und Schnittvorbereitung ist kein Transfer zwischen verschiedenen Instrumenten erforderlich

☆ Enthält alle Funktionen der Helios 5 PFIB-Plattform, einschließlich hochwertiger Ga-freier TEM- und APT-Probenvorbereitung sowie* hochauflösender Bildgebung

Thermo Scientific™ Helios™ 5 LaserParameter des fokussierten Ionenstrahlelektroskops:

Fifto-Sekunde-Laser PFIB

Großes Volumen: 2000 × 2000 × 1000 μm3

Großer Strahlstrom: ~ 1mA (äquivalent zum Ionenstrahlstrom)

Schnittstrom: 74 μA

Strahlengröße: 15μm

Laser-Integration: 3 Strahlen (SEM / PFIB / Laser) * sind in der Lagerkammer integriert und haben den gleichen Zusammenhang,

Wiederholbare Schnittpositionen und 3D-Charakterisierung.

Einmalige Harmonie: Wellenlänge 1030 nm (Infrarot), Impulsdauer <280fs

Sekundäre Harmonie: Wellenlänge 515 nm (grün), Impulsdauer <300fs

Elektronische Optik:

☆ Drei Strahlenflüge WD = 4mm (gleiche wie SEM / FIB)

Variables Objektiv (elektrisch)

☆ Polarisierung: horizontal / vertikal

Impulsfrequenz: 1kHz bis 1MHz

Beam Positionsgenauigkeit: <250nm

Schutzscheiben: Automatische SEM/PFIB Schutzscheiben

Software:

☆ Lasersteuerungssoftware

☆ Laser 3D kontinuierlich schneiden Arbeitsablauf

☆ EBSD Laser 3D kontinuierlichen Schnitt Arbeitsablauf

☆ Laserzusammenstellung

Sicherheit: Kettenlasergehäuse (Sicherheitsstufe 1)