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Hitachi High-Tech (Shanghai) International Trade Co., Ltd.
Fluoreszenzverteiltes Bildsystem EEM View
VerhandlungsfähigAktualisieren am05/20
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- Natur des Herstellers
- Hersteller
- Produktkategorie
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Übersicht
Das Fluoreszenzverteilte Bildgebungssystem ist neu gestaltet und ermöglicht die Messung und Beobachtung spektraler Daten von Proben. Mit dem AI-Spektralbildverarbeitungsalgorithmus*1 können nicht nur die Fluoreszenz- und Reflexionsbilder der Probe getrennt angezeigt werden, sondern auch spektrale Bilder*1 aus verschiedenen Regionen (Fluoreszenz- und Reflexionsspektrum) erhalten werden. *1 Rechensysteme sind das Ergebnis einer gemeinsamen Forschung von Professor IMARI SATO und Associate Professor Zheng Yinchiang am Nationalen Institut für Informatik. * EEM ist eine eingetragene Marke der Hitachi High-Tech Science Corporation in China und Japan
Produktdetails
Fluoreszenzverteiltes Bildungssystem EEM ® View
Das Fluoreszenzverteilte Bildgebungssystem ist neu gestaltet und ermöglicht die Messung und Beobachtung spektraler Daten von Proben. Algorithmen zur spektralen Bildverarbeitung mit KI*1Sie können nicht nur das fluoreszierende und reflektierende Bild der Probe separat anzeigen, sondern auch spektrale Bilder aus verschiedenen Bereichen erhalten.*1(Fluoreszenzspektrum, Reflexionsspektrum).
- *1
- Rechensysteme sind das Ergebnis einer gemeinsamen Forschung von Professor IMARI SATO und Associate Professor Zheng Yinchiang am Nationalen Institut für Informatik.
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- "EEM" ist eine eingetragene Marke der Hitachi High-Tech Science Corporation in China und Japan.
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Eigenschaften
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Anwendungsdaten
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Indikatoren
Eigenschaften
Was ist EEM View?
Neue Technologie ermöglicht gleichzeitig Fluoreszenz · Reflexionsbild und Spektrum
- Spektrale Daten zur Messung von Proben (Reflexionsspektrum, Fluoreszenzspektrum)
- Probenaufnahme unter unterschiedlichen Lichtbedingungen (weißes und monochromes Licht)
(Bereich: Φ20 mm, Wellenlängenbereich: 380 bis 700 nm) - Algorithmen zur spektralen Bildverarbeitung mit KI＊1Fähigkeit, Muster-Fluoreszenz-Bild und Reflexionsbild jeweils anzuzeigen
- Spektrale Informationen für verschiedene Bereiche basierend auf dem Bild＊1(Fluoreszenzspektrum, Reflexionsspektrum)
- *1
- Rechensysteme sind das Ergebnis einer gemeinsamen Forschung von Professor IMARI SATO und Associate Professor Zheng Yinchang vom Nationalen Institut für Informatik
Schnittstelle zur EEM View Analysis (Beispiel: LED-Leiterplatte)
Übersicht über das Fluoreszenzverteilte Bildsystem
Einheitliches Lichtsystem
Erhalten Sie auch Proben von fluoreszierenden · reflektierten Bildern und Spektren!
- Integrale Sphärische Reflexion homogenisiert die Lichtquelle
- Gleichmäßige Bestrahlung der Probe durch das Licht, das mit Integralkugeln gesammelt wurde
- Doppeldetektionsmodus mit Fluoreszenzdetektor und CMOS-Kamera
Das neue Fluoreszenzverteilungsbildsystem kann im Probenlager des Fluoreszenzspektrophotometers F-7100 installiert werden. Nach der diffusen Reflexion der Integralkugel wird das eingehende Licht gleichmäßig auf die Probe bestrahlt. Mit dem Standard-Fluoreszenzdetektor F-7100 können Sie das Fluoreszenzspektrum der Probe erhalten, mit einer CMOS-Kamera unter der Integralkugel können Sie ein Probenbild erhalten und mit einem einzigartigen AI-Spektralbildverarbeitungsalgorithmus können Reflexionen und Fluoreszenzbilder gleichzeitig erhalten werden.
Die Probeninstallation ist einfach und eignet sich für verschiedene Probentests!
Die Probe muss einfach auf den Punktball platziert werden, die Installation ist sehr einfach!
- Plattenprobe: Installieren Sie die Probe durch Quarzfenster.
- Pulverproben: Füllen Sie das Pulver in die Flachklammerung der Probe, legen Sie es in den Pulverprobenbankhalter oder installieren Sie die Probe mit dem Pulverprobenbank in einem optionalen festen Probenhalter.
- Bei der Korrektur muss eine Fluoreszenzstandardprobe platziert werden.
- Verwenden Sie die optionale Standardtafel (100 %) und die leere Probe (0 %) zur Korrektur. Dieses Korrekturwerkzeug kann zur Korrektur der Fluoreszenz-Intensität, Reflexionsgrad und der Helligkeitsverteilung in verschiedenen Bildbereichen angewendet werden.
Anwendungsdaten
[Anwendungsbeispiel] Fluoreszenzeigenschaften und Strukturbestätigung von Mikrostrukturmaterialien
Um die Sichtbarkeit zu verbessern, messen wir fluoreszierende Reflexe mit feiner Struktur.
Zugang zu Spektraldaten und Probenbildern
Einfarbiges und weißes Licht im Bereich von 360 nm bis 700 nm auf die Probe bestrahlen. Zu diesem Zeitpunkt können Bilder unter verschiedenen Lichtquellbedingungen erhalten werden, während ein Fluoreszenzspektrum über einen Fluoreszenzdetektor erhältlich ist. Nach Abschluss der Messung kann das dreidimensionale Fluoreszenzspektrum der Probe (Stimulationswellenlänge, Emissionswellenlänge, Fluoreszenzintensität) angesehen werden. In der speziellen Analysesoftware kann das Bild vergrößert werden, um das Fluoreszenz- und Reflexionsspektrum verschiedener Regionen anzuzeigen. Somit kann das Reflexions- und Fluoreszenzspektrum einer ungleichmäßig verteilten Probe mit optischen Eigenschaften bestätigt werden.
Berechnung und Anzeige von Spektren in verschiedenen Regionen (Fluoreszenz · Reflexion)
Anzeige getrennter Bilder (Fluoreszenz · Reflexion)
Trennen Sie das Bild der reflektierten Lichtkomponente von dem Bild der fluoreszierenden Komponente
Mit Hilfe eines AI-Spektralbildverarbeitungsalgorithmus werden die aufgenommenen Bilder in Bilder mit reflektierter Lichtkomponente und fluoreszierender Komponente getrennt. Als Ergebnis wird das Bild der reflektierten Lichtkomponente orange und das Bild der fluoreszierenden Komponente grün angezeigt. Beide entsprechen jeweils dem monochromen Licht des Reflexionsspektrums und des Fluoreszenzspektrums. Diese Probe ist eine Mischung aus orangereflektiertem Licht und grüner Fluoreszenz, so dass sie bei weißem Licht gelb ist. Darüber hinaus können durch reflektierte und fluoreszierende Bilder Unterschiede in den optischen Eigenschaften (Bildmuster) verschiedener Probenbereiche erkennt werden. Nach der Vergrößerung des Bildes kann man sehen, dass die Mikrostruktur der Reflexplatte einen regelmäßigen Abstand hat, dessen Abstandsbreite 200 μm beträgt.
Indikatoren
Hauptfunktionen
| Projekte | Inhalt |
|---|---|
| Der EEM View-Modus (Messmuster) |
Messung des dreidimensionalen Fluoreszenzspektrums |
| Einfarbiges Lichtbild | |
| Weißes Lichtbild | |
| Vorschau des Bildes | |
| Datenverarbeitung | Miniatur anzeigen |
| Anzeige des dreidimensionalen Fluoreszenzspektrums (Isometrie, Gradientierdiagramm) | |
| Anregungs-/Emissionsspektrum anzeigen | |
| Vergrößertes Bild anzeigen | |
| Bildpartitionen (1×1, 2×2, 3×3, 4×4, 5×5) | |
| Berechnung und Anzeige verschiedener Regionenspektrume (Fluoreszenz, Reflexion)*1 | |
| Anzeige getrennter Bilder (Fluoreszenz, Reflexion)*1 |
- *1
- Rechensysteme sind das Ergebnis einer gemeinsamen Forschung von Professor IMARI SATO und Associate Professor Zheng Yinchang vom Nationalen Institut für Informatik
Spezifikationen
| Projekte | Inhalt |
|---|---|
| Lichtwellenlänge |
360 nm ～700 nm |
| Kamera | Farbe (RGB) CMOS-Sensor |
| Schnittstelle |
USB3.0 |
| Effektive Anzahl der Pixel | 1920 × 1200（H×V） |
| Aufnehmbarer Wellenlängenbereich |
380 nm ～700 nm |
- *
- Die Hauptspezifikationen dieses Zubehörs basieren auf der Konstruktion des Fluoreszenzspektrophotometers.
Konfigurationsbeispiel
| Name | P/N (Seriennummer) |
|---|---|
| F-7100 Fluoreszenzspektrometer |
5J1-0042 |
| EEM View Zubehör |
5J0-0570 |
| R928F optischer Multiplikator |
650-1246 |
| Nebenstandard Lichtquelle |
5J0-0136 |
Anwendungen
Einführung in Messbeispiele für Spektralfluoreszenzometer (FL).
Genaue Spektrumessung von Fluoreszenzspektrometern
Beschreibung der Methoden zur Korrektur von Differenzen zwischen Geräten und zur Entfernung von Streulicht.
Fluoreszenzspektrum für Feststoffproben
Einführung in Fluoreszenzspektrummessungen mit Plasma-Monitoren mit Feststoff-Probenhaltern (optional).
Wissenschaftliche Ringe
Einführung des Symbols der Hitachi High-Tech Science Group, die sich auf führende Technologieführer richtet.
Verwandte Produkte
-
Fluoreszenzspektrometer F-7100
-
Fluoreszenzspektrometer F-7000
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