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FEI Scan-Elektronenmikroskop Apreo für Materialwissenschaftliche Anwendungen

VerhandlungsfähigAktualisieren am02/10
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FEI Scan-Elektronenmikroskop Apreo für Materialwissenschaftliche Anwendungen
Produktdetails

Apreo Materialwissenschaftliche Anwendungen

Der leistungsstarkste SEM


Das revolutionäre Composite-Design von Apreo kombiniert elektrostatische und magnetische Immersionstechnologien, um eine beispiellose Auswahl an hohen Auflösungen und Signalen zu erzeugen. Dies macht Apreo zur idealen Plattform für die Untersuchung von Nanopartikeln, Katalysatoren, Pulver und Nanogeräten, ohne die magnetische Probenleistung zu beeinträchtigen.

Apreo profitiert von der einzigartigen Detektion der Rückstreuung innerhalb der Linse, die einen hervorragenden Materialkontrast bietet, auch bei Neigungen, kurzen Arbeitsabständen oder für empfindliche Proben. Die neue Composite-Linse verbessert den Kontrast durch Energiefilterung weiter und erhöht die Ladungsfilterung für die Bildgebung isolierender Proben. Der optionale Niedervakuummodus mit einem maximalen Probenhausdruck von 500 Pa ermöglicht die Bildgebung der anspruchsvollsten Isolatoren.

Mit diesen Vorteilen, darunter Verbundlinsen, erweiterte Erkennung und flexible Probenbehandlung, bietet Apreo eine hervorragende Leistung und Vielseitigkeit, um Ihnen bei den Forschungsarbeiten der Zukunft zu helfen.



Erleben Sie die Vorteile von Apreo SEM

  • Die einzigartigen Composite-Endlinsen bieten eine hervorragende Auflösung (1,0 nm bei 1 kV-Spannung) auf jeder Probe, auch bei Neigungen oder bei topografischen Messungen, ohne Elektronenstrahlverlangsamung.
  • Sehr effektive Rückstreuungsdetektion - ein guter Materialkontrast ist stets gewährleistet, auch bei der Fernsehgebung von strahlensensitiven Proben mit niedriger Spannung und Elektronenstrahlstrom und jedem Neigungswinkel.
  • Unvergleichlich flexibler Detektor - Sie können die von den einzelnen Detektorteilen bereitgestellten Informationen kombinieren, um einen entscheidenden Kontrast oder Signalstärke zu erzielen.
  • Eine Vielzahl von Ladungsminderungsstrategien, einschließlich eines niedrigen Vakuummodus mit einem Probenhausdruck von bis zu 500 Pa, ermöglicht die Bildgebung jeder Probe.
  • Die hervorragende Analyseplattform bietet hohen Elektronenstrahlstrom und geringe Flecken. Das Probenlager unterstützt drei EDS-Detektoren, gemeinsame EDS und EBSD sowie ein für die Analyse optimiertes Niedervakuumsystem.
  • Die Probenbehandlung und die Navigation sind extrem einfach mit dem vielseitigen Probenhalter und der Nav-Cam+.
  • Bereitstellen Sie neuen Benutzern Ergebnisse auf Expertenebene mit erweiterten Benutzeranweisungen, Voreinstellungen und Widerrufsfunktionen.