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Hitachi Analytical Instruments (Shanghai) Co., Ltd.
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Hitachi Analytical Instruments (Shanghai) Co., Ltd.

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Desktop XRF Beschichtungsdickenmesser

VerhandlungsfähigAktualisieren am12/23
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
Die Konstruktion des FT230 Desktop-XRF-Beschichtungsdickenmessers reduziert die Messzeit erheblich. Als Hitachi-Ingenieure sich bewusst waren, dass die Einstellung der Probe und die Auswahl der Messrezepte oft viel Zeit aufwendig sind, haben sie einen bahnbrechenden Analyzer vorgestellt, der sich effektiv selbst „einstellen“ kann, so dass mehr Teile während des Prozesses analysiert werden können. Intelligente Erkennungsmodule wie Find My Part (Suche nach meiner Probe) bedeutet, dass der Bediener nur die Probe laden und die Teile bestätigen muss, und der FT230 kümmert sich um den Rest.
Produktdetails

Zusammenfassung:

FT230Desktop XRF BeschichtungsdickenmesserDas Design reduziert die Zeit für die Messung erheblich. Als Hitachi-Ingenieure sich bewusst waren, dass die Einstellung der Probe und die Auswahl der Messrezepte oft viel Zeit aufwendig sind, haben sie einen bahnbrechenden Analyzer vorgestellt, der sich effektiv selbst "einstellen" kann, so dass während des Prozesses mehr Teile analysiert werden können.


Automatisierung und innovative SoftwareFT230Desktop XRF BeschichtungsdickenmesserEigenschaften. Intelligente Erkennungsmodule wie Find My Part ™ (Suche nach meiner Probe) bedeutet, dass der Bediener einfach die Probe lädt, die Teile bestätigt und der FT230 den Rest erledigt. Es findet den richtigen Messort an Ihrem Bauteil - auch auf großen Substraten - wählt das richtige Analyseprogramm aus und sendet die Ergebnisse an Ihr Qualitätssystem. Reduzierte Zeit und menschliche Fehler ermöglichen es Ihnen, mehr Analysen in kürzerer Zeit durchzuführen, was eine effiziente Inspektion in einer geschäftigen Produktionsumgebung realistischer macht.


Produkte Highlights

Jeder Teil des FT230 wurde entwickelt, um die Analysezeit erheblich zu verkürzen.

·Automatischer Fokus reduziert die Probenladezeit

· Find My Part ™ Intelligente automatische Erkennung zur Einrichtung eines vollständigen Messprogramms

·Der größte Teil des Bildschirms wird verwendet, um eine Musteransicht anzuzeigen, die eine gute Sichtbarkeit bietet

·Selbstdiagnostische Verfahren gewährleisten den Zustand und die Stabilität des Instruments

·Die nahtlose Integration in andere Software ermöglicht den einfachen Export von Daten

·Dank der neuen Benutzeroberfläche ist es auch für Nicht-Profis intuitiv und einfach zu bedienen.

·Leistungsfähig zur gleichzeitigen Messung von vier Schichten und zur Analyse von Substraten

·Langlebig und langlebig in erprobten Produktions- oder Laborumgebungen

·Entsprechend ASTM B568 und DIN ISO 3497

·Erfüllen Sie die Spezifikationen von ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), Immersion Zinn (IPC-4554) und Immersion Silber (IPC-4553A)




FT230 Desktop-XRF-Analyzer

Elementbereich

Aluminium (13) - Uran (92)

Detektoren Siliziumdriftdetektor (SDD)
Muster Tisch Design Schlitzen und Verschließen
XY-Probentext-Design

Elektrisch oder fest

XY-Probenstandfahrt 250 x 200 mm
Elektrische Z-Achse 205 mm
Maximale Probengröße 500 x 400 x 150 mm
Anzahl der Gleichrichter

4

Laserfokussierung

In der Standardkonfiguration enthalten

Autofokussierung Optional

Weitwinkelkamera

Optional

Entfernungsunabhängige Messung

Optional

Find My Part ™ Intelligente Erkennungsfunktion

Optional

Beschichtungsmessung

✔️

RoHS-Prüfung

✔️

Software

FT Verbinden