CT500 500N in situ (μXCT-Anwendungen)

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Der CT500-Prüfstand ist vielseitig einsetzbar, anpassungsfähig und mit einem Gewicht von weniger als 1,0 kg geeignet für die Installation in den gängigsten Mittelstreckensystemen μXCT (wie Nikon XTH-225, ZEISS/Xradia Versa und GE v|tome|x) sowie in sogenannten „Nano“-Systemen (wie ZEISS/Xradia XCT-200 und GE Nanoom S)

Produktdetails

CT500500NStandort-Dehntisch(μXCTAnwendungen)

undµXCTSystemHauptherstellervereinigung，einschließlich ZEISS,RX Solutions、Tescan/XRE、Nikon、Thermo Fisher ScientificundWaygate/GEWir können jetzt für SieμXCTDie Anwendung bietet eine integrierte Dehnungsprüflösung. Verwendung mitμXCTZugprüfungen ermöglichen eine klare und intuitive Erklärung der Eigenschaftsänderungen von Materialien und Verbundwerkstoffen unter unterschiedlichen Belastungsbedingungen. Das kompakte Design dieser Testbänder ermöglicht es, mit der kleinsten hochauflösenden MikroCTDas System funktioniert zusammen und bietet eine Reihe von Dehnungen und KompressionenBühneLiquorta.20kNDie Auflösung ist niedrig25mN. Das System wird durch eine integrierte Mikrotest-Dehnungsstufensteuerungssoftware gesteuert, die eine breite Palette an Steuerfunktionen und Echtzeitanzeigen von Lasten und Erweiterungen bietet und für spezifischeμXCTDas System bietet alle notwendigen Verkabelung und Montageadapter. Weitere Details und Preise können von Ihnenmicro-CTLieferanten oder direkt vonTanErhalten.

CT500In-situ-Teststand ist weit verbreitet, anpassungsfähig und gewichtet weniger als1.0kggeeignet für die Installation in den häufigsten Mittelstrecken μXCTDas System (z.B.Nikon XTH-225und ZEISS/Xradia VersaundGEv|tome|xund den sogenannten„Nano“-Systeme wie ZEISS/Xradia XCT-200undGE Nanoom S(mitten).

CT500Optional:

3Punkte und4Punkt Biege Einrichtungen
Maßgeschneiderte Befestigungen und Musterlandsetzungen für große oder kleine Proben

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