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Raum 301, Block A, 2250 Pudong South Road, Pudong New District, Shanghai
Shanghai Xinnu optische Technologie Co., Ltd.
wulihua@cinv.cn
18019703828
Raum 301, Block A, 2250 Pudong South Road, Pudong New District, Shanghai
CIS-LIBS PartikelelementanalyseSchnelle, präzise und mit einem Klick durchgeführte Analyse




Mehrere Geräte benötigt:
Nur durch vergrößerte Beobachtung kann die Komponente nicht identifiziert werden.
Benötigt mehrere Geräte oder beauftragt externe Analysen
Vorbehandlung erforderlich:
Einschränkungen für die Größe des Zugangs in die Analysegeräte, die das Ziel zerstören oder schneiden müssen
Leitfähige Behandlung der Zieloberfläche und Vakuumbehandlung im Analysegerät erforderlich
hohe Anforderungen an die Kompetenz der Experimentierenden:
Aufgrund der hohen Professionalität der Analysegeräte bedienen nur wenige Leute
Nur mit Fachwissen kann eine Substanz auf der Grundlage der erkannten Elemente beurteilt werden

Es braucht nur eine.
Von der Vergrößerung der Beobachtung bis zur Elementscheidung können Sie schnell mit nur einem Gerät ausführen. Die Personen, die Elementscheidung durchführen möchten, können vor Ort arbeiten.
Keine Vorbehandlung erforderlich
Keine Beschränkung der Zielgröße und direkte Analyse ohne Zerstörung
Analyse in der Luft ohne Leitungs- und Vakuumbehandlung
Einfache Elementunterscheidung
Elemente können mit einem Klick während der Mikrobeobachtung unterschieden werden. Laut einer internen Datenbank können Teststoffe sofort spekuliert werden




CIS-LIBS PartikelelementanalyseSpezifikationen
Modell |
CIS- LIBS |
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LIBS optische Module |
Prüfprinzip |
Laserinduzierte Bruchspektrometrie |
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Eigenschaften prüfen |
Qualitative und halbquantitative |
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Erkennungsfähigkeit |
% Ebene (abhängig von Elementen) |
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Umweltanforderungen prüfen |
Nein, die Analyse wird unter atmosphärischen Bedingungen durchgeführt (Nein, unter Normaldruck) |
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Entsprechende Elemente |
CU und A |
SUS, Fe und L |
C, Cr, Mg und Mn |
T |
Y, zn, Au und andere Elemente |
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Laser |
Lasertyp |
Nd: YAG (Halbleiterpumpe) |
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Laserwellenlänge |
355 nm |
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Einzelpulsenergie |
<100UJ |
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Pulsbreite |
≤1 . 5ns |
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Punktspezifikationen |
15um (typ) |
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Verbrennungstiefe |
1 - 10um (abhängig vom Material) |
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Spektrometer |
Spektralbereich |
200 bis 780 nm |
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Spektrale Auflösung |
0 . 15 nm |
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Signal-Rauschverhältnis |
500 |
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Detektoren |
CMOS-Detektoren |
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Laseraufnahmen |
Objektivtyp |
Spezifische Transmittionsobjektive |
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Objektivmehrfache |
7X |
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Arbeitsabstand |
18 mm |
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Scannen von optischen Modulen |
Eingangslichtachse |
Unterschied Beobachtungsmethode |
Olympus BX53M, BF Lichtfeldbeleuchtung |
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Objektive |
5X, 10X, 20X, 50X |
Optional |
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Beleuchtung |
Hochleistungs-digitale LED, softwaresteuerbar, mit Speichermodus |
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Polarisationssystem |
Polarisation 00 und Polarisation 90o Automatischer Digitalschalter mit Speichermodus |
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Digitale Bildgebung |
Kameramodell |
DFK33UX249 |
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Auflösung der Kamera |
1920x1200 (2.3mp) |
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Kamera Ziel |
2 Zoll. |
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Bildgeschwindigkeit |
48FPS |
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Scannen der Tragstelle |
Fahrzeugrichtung |
XYZ Drei Achsen |
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Reisebereich |
Xy-Achse 125x75mm, Z-Achse 35mm |
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Auflösung |
0 . 1um (Softwaresteuerung) |
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Genauigkeit |
< 5 μm |
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Kontrollmethode |
Automatische Steuerung + Fernsteuerung |
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Berichte erstellen |
Generationsmethode |
Automatisch generiert |
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Inhalt des Berichts |
Fachbericht für Einzelpartikel-Materialien |
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Professioneller Bericht für Vollpartikel | ||||||||||||
Computer |
15 Prozessor, 16G Speicher, Festplatte 1TB, 22 Zoll Display |
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Geräte Stromversorgung |
Stromversorgung |
Wechselstrom 220V50Hz |
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Garantiezeit |
Die ganze Maschine 12 Monate |
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Umweltbeständigkeit |
Umgebungstemperatur verwenden |
+10 bis 45 |
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Verwendung von Umweltfeuchtigkeit |
bis zu 85 % RH (ohne Kondensation) |
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Gewicht |
System |
ca. 50kg |
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Größe |
Breite 490mm x Höhe 600mm x Tiefe 840mm |
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