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Bump 3D-Profilanalyser

VerhandlungsfähigAktualisieren am05/07
Modell
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Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort

Übersicht

Der 3D-Profilanalysator Bump ist ein hochpräzises Prüfgerät für die Halbleiter- und Elektronikherstellung, dessen Hauptvorteil die Präzision von Submikron bis Nano ist. Es basiert auf der Multi-Strahl-Kofokuss-Technologie, um Schlüsselparameter wie Bump-Höhe, Durchmesser und Kofläche präzise zu erfassen und verschiedene Mängel effizient zu erkennen. Das Gerät ist für 2-12-Zoll-Wafer und eine Vielzahl von Substraten geeignet und wird in Halbleiterverpackungen, SMT und anderen Szenarien weit verbreitet, um eine zuverlässige Qualitätskontrolle in der Präzisionsfertigung mit extrem hoher Präzision zu gewährleisten.

Produktdetails

Bump 3D-ProfilanalyserHauptzweck:

Höhenmessung (Bump)

Bump-Messung

Bump-Durchmesser

Multistrahlkofokus-Optik

Wenn sich die Objektoberfläche des reflektierten Lichts an einer Position befindet, die mit der Punktlichtquelle konjugiert ist, ist eine hohe Geschwindigkeitsmessung unmöglich. Nur eine einzelne Strahlmessung in Konjugation mit einem einzelnen Nadelloch ist möglich.Bump 3D-ProfilanalyserDer Messsensor verfügt über mehr als 3 Millionen Nadellochpunkte in einem Nadellocharray und ermöglicht eine hohe Geschwindigkeitsmessung über ein Multi-Strahlsystem.

Wir haben zwei Optionen für Multi-Beam-confocal-Systeme. Eine ist nicht-Scan-Typ (NCS), geeignet für hohe Geschwindigkeiten und einen breiteren Messbereich; Eine andere Möglichkeit ist der Scan-Typ (SCS), der eine höhere Erkennungsauflösung aufweist, indem ein lineares Scansystem mit einem Needle-Loch-Array angewendet wird.

Neuer Mechanismus zur optischen Kofokus-Höhenmessung

Bei der confokalen Methode ist es erforderlich, den Ausgang des Photodetektors durch einen linearen Scan zu erfassen und zu berechnen. Die Geschwindigkeit des Z-Scans durch die Z-Bewegung war jedoch nicht befriedigend. Unsere einzigartige optische Technologie ermöglicht dies, ohne dass ein Z-Scan erforderlich ist. Durch die Montage von Glasscheiben mit unterschiedlicher Dicke auf dem optischen Weg ändert sich die Fokusstellung je nach Glasdicke, der Effekt entspricht der Bewegung der Z-Achse und ermöglicht eine hohe Geschwindigkeit des Z-Achsen-Scans durch Drehen der Glasscheibe, sodass Bilder mit unterschiedlichen Fokus mit hoher Geschwindigkeit erfasst werden können.

Konfigurationsparameter:

Bump3D-Erkennungssystem

7040

7550

7580

8000

10000

10210

FOV (mm)

13×13

9.9×7.4

9.9×9.9

13×13

41×33

15×15

Genauigkeit (um)

3.0

2.4

1.42

8

11

3

Z-Achsenbereich (um)

180

90

300

4000

4000

300

Bump Minimumdurchmesser (um)

25

20

10

100

100

25

Bump Abstand (um)

55

40

20

180

200

55