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2-728B Hongqiao Center, Neustadtplatz, 281 Zhongshan North Road, Nanjing
Nanjing Tense Technologie Co., Ltd.
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300N & 2kNVertikal3Punkte und4Punkt Biege Tisch fürSEM
MICROTESTDrei Punkte Biegen und Dehnen/Das Kompressionsmodul ist speziell für die Beobachtung der hohen Spannungsbereiche einer Probe unter einem Scan-Elektroskop oder einem optischen Mikroskop entwickelt.WindowsDie Software setzt die Treiberparameter und inPCDie Spannungskurve wird in Echtzeit auf dem Bildschirm angezeigt.75Nnach2kNderLastkraftsensorAbdeckung der meisten Anwendungen,Verschiebungsrate von0.05mm/minnach5mm/min.Sonderversionen können nach KundenanforderungenAnpassung.Alle Module werden durch unsere Microtest Stretchtest Software gesteuert.
Mit allenDebenWie das Testmodul wird die Steuerung über einen Computer durchgeführt.MICROTESTTestsoftware.
Bei der herkömmlichen Dreipunktbiegung wird die Probe an zwei äußeren Punkten gestützt und deformiert, indem sie den dritten Mittelpunkt nach unten treibt. Für die Anwendung von Scan-Elektroskopen haben wir bereits eine umgekehrte Technologie.
Die Probe befindet sich am zentralen Fixierpunkt und die beiden äußeren Punkte fahren nach unten. Dies hat zwei Vorteile: Die hohe Spannung der Interessengebiete befindet sich oben, ist einfach zu beobachten und bleibt fokussiert, da die Höhe unverändert ist.
Die maximale Belastung eines Standardgerätes beträgt300NDie Verschiebungsrate von0.05mm/minnach5mm/min. Hochlastversionen sind auch verfügbar2KNDie folgenden Lasten. Die Standardprobenbreite ist40Millimeter. Die oberen und unteren Klammern (Punkte) können leicht verschiedene Probenkonfigurationen ändern, z. B. um eine Druckstudie oder eine Vierpunktbiegung zu ermöglichen.
Dieses Modul ist nur für vertikale Drei-Punkt-Biegung konzipiert, für horizontale Drei-Punkt-Biegung empfehlen wir die Verwendung eines Strecktischs mit optionalen Drei- oder Vier-Punkt-Biegungsvorrichtungen.
Empfohlene Anwendungen:
Elektronenmikroskop (SEMOptische Mikroskope und Atomkraftmikroskope
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