Widerstandsleistung Ultra-Hochtemperatur-SondenstandEs ist ein fortschrittliches Gerät zur präzisen Messung des Widerstands von Materialien bei hohen Temperaturen.

Kernfunktionen:

Widerstandsmessung

Durch die Kombination der Vier-Sonden-Methode mit einer hohen Temperatur-Umgebung wird der Widerstand von Halbleitermaterialien, leitfähigen Folien und Metallmaterialien bei hohen Temperaturen genau gemessen, um wichtige Daten für die Materialwissenschaftliche Forschung zu liefern.

Test der elektrischen Leistung der Wärmewandelung

Die elektrischen Eigenschaften des Materials (z. B. Widerstand, Leitfähigkeit) können mit den Temperaturänderungen gekennzeichnet werden und unterstützen eine breite Palette von Tests von Raumtemperatur bis zu extrem hohen Temperaturen (z. B. 1700 °C).

Synchronsanalyse mit mehreren Parametern

Integrierte elektrische Module (Sonden, Verschiebungsmechanismen, Schnittstellen) und optische Module (Reflexions-/Transmissionswege) zur synchronen Echtzeit-Erfassung und Darstellung von Daten wie Widerstandsgrad, Temperatur, Leitfähigkeit.

　　Widerstandsleistung Ultra-Hochtemperatur-SondenstandTechnische Merkmale:

Breiter Temperaturbereich und hohe Präzision

Temperaturbereich: RT (Raumtemperatur) bis 1700 ° C, einige Modelle unterstützen 4K Tief- bis Ultrahochtemperatur.

Temperaturgenauigkeit: ± 0,1 ° C, um den Einfluss der Temperaturstabilität auf die Widerstandsmessung zu minimieren.

Temperaturkontrollmethode: integrierte Flüssigheliumkühlung, Flüssigstickstoffkühlung, thermoelektrische Kühlung, Widerstandsbeheizung, Infrarotbeheizung, Laserbeheizung und andere verschiedene Lösungen, um sich an verschiedene experimentelle Anforderungen anzupassen.

Vier-Sonden-Methode und hochpräzise Sonden

Verwenden Sie Testgeräte mit vier Sonden (linear oder gleichdistanziert), um den Einfluss des Kontaktwiderstands zu beseitigen und die Messgenauigkeit zu verbessern.

Sondematerial kann optional vergoldete Wolfram-Nadel, Wolfram-Stahl-Rhenium-Nadel usw.SpitzeDurchmesser bis zu 10 μm und Unterstützung für Probentests im Nanoskala.

Modulares Design und hohe Kompatibilität

Die Sondenstelle ist in interne Regelung, externe Regelung, elektronische Regelung und andere Arten unterteilt, die sich für verschiedene Probengrößen und Testszenarien anpassen.

Unterstützung mehrsprachiger SDKs (z. B. Labview, C#) für die einfache Integration mit externen Messgeräten (Quellentabellen, digitalen Multimetern).