Surge-Tester

Surge-TesterEinführung:

Der NSG 3040 von Teseq ist ein Multifunktionsgenerator zur Simulation von elektromagnetischen Störungen bei Störungsprüfungen, der einfach zu bedienen und vielfältig ist, um die Anforderungen der Leitungs-EMV-Prüfung für Unternehmen, nationale und Normen (einschließlich IEC / EN-Normen) und CE-Kennzeichnungsprüfungen zu erfüllen. Der NSG 3040 basiert auf der speziellen Entwurfsfilosofie des Unternehmens, die den Elektronischen Schnelltransienten (EFT) und den Qualitätstest der elektrischen Energie (PQT) umfasst. Die umfangreichen Erweiterungsfunktionen ermöglichen dem System ein breiteres Spektrum an Anwendungskonfigurationen.

Das innovative, modulare Design - NSG 3040 ist ein Mehrzwecksystem, das nach grundlegenden Prüfanforderungen konfiguriert und skaliert werden kann, um den Anforderungen komplexer Prüflabore gerecht zu werden. Die bewährte Master-From-Konzepttechnologie ermöglicht die unabhängige Kalibrierung einzelner Impulsmodule und die Speicherung von Kalibrierungsdaten und Korrekturkoeffizienten auf dem From-Controller. Das neue Modul ist einfach zu installieren, ohne dass das gesamte NSG3040-System zur Kalibrierung zurückgekehrt werden muss.

Durch den Einsatz technischer Komponenten setzt NSG 3040 neue Maßstäbe in Bezug auf Schalttechnik und Phasengenauigkeit und übertrifft die Anforderungen bestehender Normen. Das große 7" Farbtouch-Display mit hoher Bildqualität und Kontrast macht die Bedienung des NSG 3040 sehr einfach. Auf Anfrage kann die Eingabe sowohl über eine integrierte Tastatur als auch über ein Rollenrad mit einer Empfindlichkeitsstellungstaste erfolgen. Darüber hinaus können Standardtests in Entwicklungsumgebungen mit der integrierten TA-Funktion (Testprogramm-Aufruf) mit nur wenigen Klicks aktiviert werden, um schnell und zuverlässig abschließende Ergebnisse zu erhalten.

Die bequeme Touch-Taste macht den Wert jedes eingegebenen Parameters sehr offensichtlich und ermöglicht es dem Benutzer, alle Einstellungen schnell auszuwählen und zu ändern. Es ist kein Stift erforderlich, die Testparameter können schnell und einfach bearbeitet werden. Es ist einfach, mehrstufige Testverfahren hinzuzufügen, die Reihenfolge zu ändern und die Parameterwerte zu ändern. Im "Expertenmodus" können Anwender die Rollen während der Tests manuell ändern, um die kritischen Schwellenwerte für die Aktivierung effektiv und schnell zu vereinfachen.

Über den SD-Kartenleser können Sie schnell Firmware herunterladen. Die Tests können vollständig vom Benutzer gespeichert werden. In außergewöhnlichen Fällen, in denen nicht genügend Speicherplatz ist, ersetzen Sie die SD-Speicherkarte, die auf dem Markt gekauft wird, und die Testdateien, die darauf gespeichert sind, können leicht auf eine größere SD-Karte kopiert werden.

Es verfügt über einen Ethernet-Anschluss, der eine externe Steuerung vom PC akzeptieren kann. Die Windows-Software vereinfacht das Testverfahren und ermöglicht es, komplexe Testsequenzen für verschiedene Arten von Tests zu schreiben. Während des Testprozesses kann der Bediener Beobachtungen durchführen und Testberichte während des Testvorgangs erstellen, um die Effizienz des Tests zu erhöhen.

Surge-TesterParameter:

Kombinierter Wellenpuls 1,2/50 bis 8/20 µs (Kombinierter Wellenpuls) – CWM 3450

Impulse nach IEC/EN 61000-4-5, GB/T 17626.5

NSG3040 Kompakte 4KV-Lösung für CE-Anwendungen

Impulsspannung (offene Schaltung): ±200V – 4,4kV (Schritt 1V)

Impulsstrom (Kurzschluss): ±100A – 2,2kA

Widerstand: 2/12Ω

Polarität: Positiv / Negativ / Wechselnd

Impulswiederholungszyklus: 10s – 600s (in Schritten von 1s)

Testzeit: 1 bis 9.999 Impulse ohne Unterbrechung

Phasensynchronisierung: Asynchron, 0-359° synchronisiert (1° Schritt)

Kopplung: Außen/Innen

Schneller transienter Impulsgruppe-Test (EFT) 5/50ns – FTM 3425

Impulse nach IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4

Impulsgröße:

±200V – 4,8kV (1V-Schritt) – offen

±100V – 2,4kV (50Ω-Matching-System)

Frequenz der Pulsgruppe: 100Hz - 1000kHz

Polarität: Positiv / Negativ / Wechselnd

Wiederholungszeit: 1ms – 4200s (70min)

Pulsgruppenzeit: 1us-1999s, Einzelpuls, ununterbrochen

Testzeit: 1s – 1000h

Phasensynchronisierung: Asynchron, synchronisiert 0-359° (1° Schritt)

Kopplung: Außen/Innen

Spannungsabfälle und Spannungsabfälle — PQM 3403

Entsprechend IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11

Spannungsabfall und Spannungsabfall: Von der Eingangsspannung EUT auf 0 V, 0%

Uvar mit optionalem Selbstkupplungstransformator: abhängig vom Modell (VAR 3005)

Uvar mit optionalem Schritttransformator: 0, 40, 70, 80% (INA650x)

Spitzenstromleistung: 500A (bei 230V)

Schaltzeit: 1–5 µS (100 Ω Last)

Zykluszeit: 20us bis 1999s, 1 bis 99’999 Zyklen

Testzeit: 1 s – 70’000 min, 1 bis 99’999 Zyklen, ununterbrochen

Wiederholungszeit: 40 µs – 35 min, 1 bis 99 999 Zyklen

Phasensynchronisierung: Asynchron, 0-359° synchronisiert (1° Schritt)

Spannungsänderungsprüfung (nur mit Spannungsreglern der Serie VAR 3005)

Entsprechend IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11

0–265V mit optionalem Selbstkupplungstransformator (1V-Schritt), 0–115 % (1 %-Schritt)

Wiederholungszeit: 1 ms – 35 min, 1 – 99 999 Zyklen

Testdauer: 1 ms bis 5 s, Zyklus 1 bis 250 Zyklen (50 Hz)

Wiederholungszeit: 10ms – 10s; 1-250 Zyklen (50 Hz), 1-300 Zyklen (60 Hz)

Testdauer: 1 s – 99999 min, 1 – 99999 Ereignisse, ununterbrochen

Phasensynchronisierung: Asynchron, 0-359° synchronisiert (1° Schritt)

Impulsmagnetfelder, die gemeinsam mit INA753 und INA701 oder 702 erzeugt werden

Erfüllt IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9

Feldstärke: 1–1200A/m (im Schritt von 1A/m)

Polarität: Positiv / Negativ / Wechselnd

Wiederholungszeit: 5 s – 10 min (Schritt 1 s)

Impedanz: 2Ω

Spulenfaktor: 0,0 – 50,00

Testzeit: 1 – 9’999 Impulse ohne Unterbrechung

Phasensynchronisierung: Asynchron, 0-359° synchronisiert (1° Schritt)

EUT Stromversorgung: Einphasenversorgung

EUT VAC: 24 bis 260Vrms, 50/60Hz (Phase-Mittellinie), groß 400Hz

EUT VDC: 0 bis 260VDC

EUT Strom:

1x16Arms， Unterbrechungslos (Temperaturüberwachung)

1x25Arms， 1 Minute

EFT (Pulsgruppe) Standardkopplung aller Leitungen an den Referenzpunkt (GND)