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Gebäude 1 des Hua Electric Intelligent Network Industrieparks, 28 Sichui Road, Dongli Entwicklungsgebiet, Tianjin
Tianjin Sanying Präzisionsinstrumente Co., Ltd.
rliu_1@sypi.com.cn
Gebäude 1 des Hua Electric Intelligent Network Industrieparks, 28 Sichui Road, Dongli Entwicklungsgebiet, Tianjin
nanoVoxel 显微 CT3000-mikro ctAusgestattet mit einem System mit einer offenen Röntgenquelle mit hoher Auflösung, eignet sich für die Verfolgung von hohen Auflösungsanforderungen, insbesondere für Proben mit mittlerer und niedriger Dichte, um ausgezeichnete CT-Bilder zu erhalten.
●Die Mikronanometergröße sorgt für eine hohe Auflösung des Systems
●Transmittive Strahlenquelle mit geringem Abstand von der Testprobe zum Fokus für hochauflösende Bildgebung
●Mehrere Scanmodus: Spirale, Verschiebung, begrenzte Winkel usw.
● Automatisierte Tests mit automatischem Probenahme
Auflösung
Pixel-Detailauflösung |
200nm (Flachplattendetektor) / 40nm (Objektivkopplungsdetektor) |
Raumliche Auflösung* |
500nm (Flachplattendetektor) / 500nm (Objektivkopplungsdetektor) |
Röntgenquelle
Typ |
Öffnungs-Transmission (Mikrofokus/Nanofokus) |
Spannung |
240KV / 225KV / 190KV / 160KV |
Flachplattendetektor
Bildfläche |
244mm×195mm |
Pixelmatrix |
1920×1536 |
Objektivkopplungsdetektor
Linse |
4x, 10x und 20x |
Probe
Erkennbare Probengröße |
450mm × 350mm(Durchmesser x Höhe) |
Proben tragen |
15 kg |
Physikalische Parameter der Anlage
Gerätegröße |
2460mm × 1250mm × 1950mm(Länge x Breite x Höhe) |
Ausrüstungsgewicht |
5000kg |
*Raumauflösung zur Prüfprüfung mit einer Testkarte zur Raumauflösung
nanoVoxel Mikroskop CT3000Ausgestattet mit einer transmissiven Röntgenquelle mit hoher Auflösung, eignet sich das System für die Verfolgung von hohen Auflösungsanforderungen, insbesondere für Proben mit mittlerer und niedriger Dichte, um ausgezeichnete CT-Bilder zu erhalten.
●Die Mikronanometergröße sorgt für eine hohe Auflösung des Systems
●Transmittive Strahlenquelle mit geringem Abstand von der Testprobe zum Fokus für hochauflösende Bildgebung
●Mehrere Scanmodus: Spirale, Verschiebung, begrenzte Winkel usw.
● Automatisierte Tests mit automatischem Probenahme