Zeiss Sigma Produkte

Zeiss Sigma ProdukteDie Technologie des Field Emission Scan-Elektronenmikroskops (FE-SEM) ist eng mit einem guten Benutzererlebnis verbunden. Mit den intuitiven Workflows von Sigma können Bildgebungs- und Analyseprozeduren einfach implementiert werden und die Produktivität verbessert werden. Sie können mehr Daten in kürzerer Zeit sammeln. Ausgezeichnete Bildgebung mit hoher Auflösung – mit niedriger Spannung für bessere Auflösung und Kontrast bei 1 kV oder weniger. Mit der Auswahl an verschiedenen Detektoren ist Sigma für Ihre Anwendungen vielfältig geeignet: Ob es sich um neue Materialien in der Entwicklung, Partikel für die Qualitätskontrolle oder biologische oder geologische Proben handelt, das Elektroskop hilft Ihnen bei der Untersuchung einer Vielzahl von Proben. Mit der Variablen Druck-Bildgebung (VP) kann NanoVPlite auch bei niedriger Spannung ausgezeichnete Bilder und Analyseergebnisse auf nicht-Leitern erzielen.

Zeiss Sigma ProdukteWir bieten Ihnen eine zuverlässige Nanoanalyse-Erfahrung mit hohem *. Sigma360 ist ein intuitives Feld-Emissions-Scan-Elektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer analytischen Testplattform für Bildgebung und Analyse. Ausgezeichnete EDS-geometrische Konstruktion, die eine hohe Durchflussanalyse ermöglicht und automatisierte In-situ-Experimente ermöglicht.

Unabhängig von der Probenart erhalten Sie immer genaue und wiederholbare Analyseergebnisse. Erhalten Sie bei niedriger Spannung umfangreichere Bildinformationen aus empfindlichen Proben.

Die heutigen Scan-Elektronenmikroskop-Anwendungen erfordern eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Landungsenergie (bekannt als niedrige Spannung oder niedrige Beschleunigungsspannung) als Standard, da dies für die Untersuchung von Proben, die gegen Elektronenstrahlen empfindlich oder nicht leitfähig sind, von entscheidender Bedeutung ist. Dadurch erhalten Sie echte Informationen über die Oberfläche der Probe, ohne durch tiefere Hintergrundsignale der Probe gestört zu werden. Die Elektropistolen und Erkennungssysteme von Gemini wurden optimiert, um hochauflösende Bildgebung unter niedrigen und ultraniedrigen Spannungsbedingungen zu ermöglichen und den Kontrast zu verbessern. In der Scanelektroskopie, da weniger Energie an die Probe übertragen wird, werden eingehende Elektronenstrahlen mit niedriger Beschleunigungsspannung zur Bildgebung von Elektronenstrahlempfindlichen Proben verwendet. Gleichzeitig ist der Elektronenstrahl mit niedriger Energie schlecht durchdringlich für die Probe. Auf diese Weise können Sie auf empfindlichen Proben unverfälschte Oberflächendetails in hoher Auflösung aufnehmen.

Optimierung der niedrigen Beschleunigungsspannungsbildgebung

Elektronische optische Verzerrungen führen zu Auflösungsverlusten, die häufiger in niederspannungsbasierten Bildern auftreten. Die Elektronenstrahlantriebstechnik des Gemini 1-Spiegels bietet bereits eine ausgezeichnete Bildauflösung mit niedriger Beschleunigungsspannung. Die optimierte Öffnung und der hochauflösende Elektropistolenmodus ermöglichen nun eine weitere Optimierung der Bildwirkung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen.

Elektropistolenmodus mit hoher Auflösung

Im E-Pistolenmodus mit hoher Auflösung verringert sich die Farbdifferenz des Elektronenstrahls, wodurch kleinere Strahlflecken erzielt werden. Bei Spannungen von 1 kV und unter bietet dieser Modus eine zusätzliche Bildauflösung. Der Fokus ist standardmäßig auf ausgezeichnete Bildbedingungen (mit optimierter Elektronenstrahlversammlung) eingestellt. Sie können eine optimierte Öffnung für eine Vielzahl von Stromen gewährleisten und gleichzeitig eine hohe Auflösung gewährleisten. Zusätzliche Fokusmodus können zur Optimierung der Bildtiefe verwendet werden.

Detektoren

Normalerweise können empfindliche Materialien mit einer niedrigen Eingangsstrahlspannung und einem niedrigen Elektronenstrahlsondenstrom in hoher Auflösung abgebildet werden. Der effiziente Inlens SE-Detektor liefert nicht nur eine hohe Auflösung, sondern erhöht auch den Kontrast bei Sondenströmen unter 10 pA, wenn es um die Erkennung von Elektronen geht, die aus der Probe ausgeregt werden. Durch die Unterstützung eines intelligenten Scanners (z. B. der Drift-Korrekturbilddurchschnitt) ist eine stabile Probenbehandlung auch bei hoher Auflösung gewährleistet.

Hochfeld-Emissions-Scannelektroskop

Das ZEISS GeminiSEM erfüllt die hohen Anforderungen an Sub-Nano-Bildgebung, Analyse und Probenflexibilität mit dem Field-Emissions-Scan-Elektroskop, um das Unbekannte zu erforschen. Das System ermöglicht eine hohe Durchflussanalyse und bietet gleichzeitig eine hervorragende Auflösung unter Bedingungen von niedriger Spannung, hoher Geschwindigkeit und hohem Sondenstrom. Hochwertige Bildqualität und Vielseitigkeit Fortgeschrittene Bildverarbeitungsmodalitäten Effiziente Erkennung und ausgezeichnete Analyse Seit über 25 Jahren bestens entwickelte ZEISS Gemini-Technologiedetektoren bieten eine breite Palette und eine breite Abdeckung.

Das System ermöglicht eine hohe Durchflussanalyse und bietet gleichzeitig eine hervorragende Auflösung unter Bedingungen von niedriger Spannung, hoher Geschwindigkeit und hohem Sondenstrom. Sein Sichtfeld ist offen und die Räume sind so groß, dass auch große Proben leicht erkennbar sind.

Mit zwei gegenüberliegenden EDS-Ports und einer gemeinsamen EDS/EBSD-Konfiguration ermöglicht das ZEISS GeminiSEM eine effiziente Charakterisierung der chemischen Zusammensetzung und der Kristallorientierung. Sie können sich auf eine schnelle schattenlose Karte verlassen.

Maßgeschneiderte und automatisierte Arbeitsabläufe: Wenn Sie die technischen Grenzen Ihrer Materialien prüfen möchten, bietet Ihnen ZEISS ein automatisiertes Heiz- und mechanisches Beanspruchungslabor.

Übersicht der Anwendungsbereiche

Fehleranalyse von mechanischen, optischen und elektronischen Komponenten

Bruchanalyse und Metallphasenalyse

Charakterisierung von Oberflächen, Mikrostrukturen und Geräten

Komponenten und Phasenverteilung

Messung von Verunreinigungen und Mischungen