Xenonlampenpuls-Sonnensimulator (Labor)

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Der Xenonlampenpuls-Sonnenlichtsimulator (Labor) kann für die Messung von I-V-Kurven, P-V-Kurven, Strahlungslinien, Kurzschlussstromen, offenen Schaltungsspannungen, Spitzenleistungen, Spitzenleistungspunktspannungen, Stromen, Füllfaktoren, Umwandlungseffizienz, seriellen Widerständen, parallelen Widerständen und anderen Parametern von herkömmlichen Polykristallinen, Monokristallinen PERC, TopCon, Heteroknoten, CIGS, GaAs, CdTe und IBC-Batteriekomponenten verwendet werden.

Produktdetails

Xenon-Lampe-Impuls-Sonnenlicht-Simulator (Labor) ist ein Gerät, das verwendet wird, um Sonnenlicht und die Erfassung von kristallinen Silizium-Photovoltaik-Zellen Voltanteigenschaften Kurve zu simulieren, in der Regel besteht aus Lichtquellen-System, Stromsystem, Erfassungssystem, Infrarot-Temperaturmesssonde, Referenzbatterie, Display, Computer (einschließlich Testsoftware) und so weiter. Mit einer Xenonlampe transienten Lichtquelle der Klasse A + A + A +, die die Norm IEC60904-9: 2020 erfüllt, kann die Strahlungsintensität von 200-1200 W / m2 eingestellt werden, das Gerät verfügt über Temperatur- und Lichtintensitätskorrektur sowie Überwachungsfunktionen für den Strahlungszustand.

Das Gerät kann für die Messung von I-V-Kurven, P-V-Kurven, Strahlungslinien, Kurzschlussstrom, offene Schaltungsspannung, Spitzenleistung, Spitzenleistungspunktspannung, Strom, Füllfaktor, Umwandlungseffizienz, Reihenwiderstand, Parallelwiderstand und anderen Parametern von herkömmlichen Polykristallinen, Monokristallinen PERC, TopCon, Heteroknoten, CIGS, GaAs, CdTe und IBC-Batteriekomponenten verwendet werden.

Parametertabelle des Xenonlampenpuls-Sonnensimulators (Labor):

Referenzkriterien	IEC60904-9:2020
Lichtquelltyp	Xenonlampe Pulslichtquelle
Spektralbereich	300-1200nm
Lichtquellenklasse	Spektrale Übereinstimmung 0.875-1.125 A+ Ungleichmäßigkeit der Strahlung ≤1% A+ Strahlungsinstabilität ≤1% A+
Beleuchtungsbereich	200W/㎡~1300W/㎡
Testfläche	2600 * 1600mm Andere Größen anpassbar
Pulsbreite	10-100ms， Verstellbar pro 1ms Schritt
Wiederholungsgenauigkeit	≤0.1%
Testtechnik	Standard-I-V, V-I-Scanmodus, integrierter erweiterter Delay-Testmodus, Näherer Test (SAT), Intelligenter Test (IAT), Spitzenhaltung Testfunktion
Testbare Batterien	regelmäßige Polykristalle, Perc、Topcon、BC、 Batteriekomponenten wie Heteroknoten, CIGS, GaAs, CdTe
Hinzufügbar	EL-Prüfsystem zur IV/EL-Prüfung an der gleichen Station Temperaturkontrollsystem für Panfile, Temperaturkoeffizienztest WPVS-Batterie für absolute Messungen IAM-Drehhalter für unterschiedliche Winkelmessungen Niedrigstrahlungsfilter für niedrige Strahlentests Mehrkanal-Temperaturbox für mehrpunktige Temperaturmessungen

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