Modulare Hochtemperatursonde XYZ

Modulare Hochtemperatursonde XYZEs handelt sich um einen Tisch-Sondenstich, der von einer externen beweglichen Sonde aus spitzen kann und mehrere Modelle und mehrere Temperaturbereiche abdeckt. Gleichzeitig ermöglicht es die Temperaturregelung, die Probentests, die optische Beobachtung und die Umgebungskontrolle des Probengases. Der Deckel und das Gehäuse der Sonde bilden einen pumpbaren Vakuumdichtraum, der auch mit Schutzgasen wie Stickstoff gefüllt werden kann, um das Gefrieren der Probe bei negativen Temperaturen oder die Oxidation bei hohen Temperaturen zu verhindern.

Modulare Hochtemperatursonde XYZFunktionen

Mimi-Temperaturkontrollsonde, die in verschiedene optische Geräte integriert werden kann

Programmierbare Temperaturregelung für RT bis 1000 °C

Für 10 mm bis 25 mm Wafer und Geräte

Pumpbare Kammern, die auch für Schutzgase eingesetzt werden können

Vier unabhängige Sonden zur Bewegung der Sonde von außen aus

Steuerbar über Thermostat oder Computersoftware, Software-SDK verfügbar

Modulares Design, frei kombinierbar

* Auf 8 unabhängige Sonden aktualisierbar

Mimi-Temperaturkontrollsonde, die in verschiedene optische Geräte integriert werden kann

Programmierbare Temperaturregelung für RT bis 1000 °C

Für 10 mm bis 25 mm Wafer und Geräte

Pumpbare Kammern, die auch für Schutzgase eingesetzt werden können

Vier unabhängige Sonden zur Bewegung der Sonde von außen aus

Steuerbar über Thermostat oder Computersoftware, Software-SDK verfügbar

Modulares Design, frei kombinierbar

Temperaturregelparameter

Temperaturbereich 30 ℃ ~ 1000 ℃

Heizungsblock Material Keramik

Sensor/Temperaturregelung

Maximale Erwärmungsgeschwindigkeit S/PID-Steuerung (inklusive LVDC-Geräuschdämpfungsstromversorgung)

50 ℃ / min

Mindestgeschwindigkeit ± 0,1 ℃ / min

Temperaturauflösung 0,1 ℃

Temperaturstabilität ± 0,5 ℃

Softwarefunktion Temperaturregelgeschwindigkeit einstellbar, Temperaturregelprogramm einstellbar, Temperaturregelkurve aufzeichnen

Elektrische Parameter

Sonde Standard-Biegenadelsonde für Rhenium-Wolfram-Materialien

Sondenhalter, der von außen XYZ bewegbar ist

Die Nadel bewegt die Nadel von außen, so dass jeder Sondenhalter an eine beliebige Stelle im Probenbereich angepipft werden kann

Die Sondenschnittstelle ist standardmäßig für SMA-Anschlüsse zu BNC

* Hinzufügbar innere Schaltsäulen (Probenanschlussleitung)

Probe-Tisch-Potential Standard-Erdung, optionale elektrische Aufhängung (als Rückelektrode), optionale dreichaxiale Schnittstelle

Optische Parameter

Anwendung Lichtweg Reflexionsweg

Abnehmbare und austauschbare Scheiben

Mindestobjektiv-Arbeitsabstand 8/12 mm (optional)*WD im Schnittbild

Beobachtungsbereich φ45mm, maximaler Blickwinkel ± 58° * θ1 im Schnitt

Entfrost bei negativer Temperatur Blasen Entfrost Rohrleitung

Strukturparameter

Anwendbare Probe 25 mm * 25mm

Probenhöhe 4/8 mm (optional)

Sondenhalter, der von außen XYZ bewegbar ist

Raubmodus + Finishmodus, XY Raubmodus 20mm

XY Trinkstrecke 10mm, Z Trinkstrecke 3mm

Regelgenauigkeit 10um

Atmosphärgesteuerte Vakuumhöhle, auch mit Schutzgas gefüllt

Gehäusekühlung durch Zirkulationswasser, um die Gehäusetemperatur in der Nähe der Normaltemperatur zu halten

Größe/Gewicht 300 mm x 300 mm x 40 mm/5kg

Konfigurationsliste

Grundkonfiguration Vakuum Tischsonde, mK2000B Thermostat

Optionales Zubehör Montagehalter, Flüssigstickstoffkühlungsanlage, Gehäusesirkulationswasserkühlanlage, Mikroobjektiv, Stoßschutztisch, Vakuumsystem, Prüfquellenzähler, Drei-Coaxial BNC, Tischfederung, Probenanschlussleitung

Typische Anwendungen

Elektrische Eigenschaftsprüfungen zur Charakterisierung von Dünnfilm-, 2D-, Nanomaterial- und Molekular-/Organischematerialeinrichtungen

Heizblock-Oberflächeneerdung, Koaxiale BNC-Schnittstelle, Drei-Koaxiale BNC-Schnittstelle erforderlich

Sonden, die Wolfram-Rhen-Sonden, Beryllium-Kupfer-Sonden oder andere Materialien benötigen

XYZ-Bewegung der Sonde von außen auf dem Tisch

Wafer, Halbleitergeräte, integrierte Schaltungen, Leiterplatten, PV-Platten, LCD/LED-Tests

Messung von IV- und CV-Eigenschaften, Bruchspannung, Leckstrom, Widerstand, dielektrische Konstante und Diodeneffizienz

Weitere optionale Modelle

TP102V-MPS Temperaturbereich -40 ℃ ~ 180 ℃, Probenbereich, 40mm * 40mm

HCP421V-MPS Temperaturbereich -190 ℃ ~ 400 ℃, Probenbereich

Φ26mm

HCP402V-MPS Temperaturbereich -190 ℃ ~ 400 ℃, Probenbereich 50mm * 50mm

HP1000V-MPS Temperaturbereich 35 ℃ ~ 1000 ℃, Probenbereich 25mm * 25mm, Vakuumkammer