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Guochang wissenschaftliche Instrumente (Suzhou) Co., Ltd.
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Röntgenstrahlungsspektrometer

VerhandlungsfähigAktualisieren am02/09
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort
Übersicht
SuperXAFS E6000 ist ein Instrument zur qualitativen und quantitativen Analyse von Elementen, dessen Hauptfunktion es ist, die Zusammensetzung und den Gehalt von Elementen in Materialien zu analysieren.
Produktdetails

Nationales SchaffungsgerätRöntgenstrahlungsspektrometerDer SuperXAFS E6000


Kernparameter

Energiebereich: 5-18keV

2. Energieauflösung: ≤2.0eV@ (7-9keV)

Energiewiederholbarkeit: ≤ 30meV@24h

4. Röntgenquelle: Konfigurationsleistung ≥100W Mikrofokusfleck × Strahlenquelle (2 Ziele Pd / W), Spannung 20-40kV, Rohrstrom 4mA, Kern-Holz-Erzeugungsrate ≥1011 / s @ (7-9keV)

5. Flächendetektor: mit Kapillarfokusspiegel, Fokusfleck ≤100um an der Probe, Fokussspiegel kann automatisch gewechselt werden

Genauigkeit des Regelmechanismus: Mindestschrittlänge 0,1 eV beim Energiescannen


Nationales SchaffungsgerätRöntgenstrahlungsspektrometerDer SuperXAFS E6000

Es ist ein Instrument für die qualitative und quantitative Analyse von Elementen, dessen Hauptfunktionen sind:

Bestimmung der Elementzusammensetzung in Proben: weit verbreitet in Metallen, Erzen, Boden, Bioproben usw.

Messung des Elementgehalts: Durch die Analyse der Intensität der charakteristischen Röntgenstrahlung werden die Massenpunkte der einzelnen Elemente in der Probe mit einer Genauigkeit von bis zu ppm (1/1/M) quantitativ berechnet.

Nichtzerstörerische Prüfung: keine Zerstörung der Probe erforderlich, geeignet für die Analyse von Artefakten, Beschichtungen, Folien und anderen speziellen Proben.


XRF wird aufgrund seiner schnellen, zerstörungsfreien und mehrelementlichen Analysefähigkeit in folgenden Bereichen weit verbreitet:


1. Materialwissenschaft und Industrie

Metallkomponentenanalyse: Erkennung von Legierungselementen in Stahl, Aluminium und elektronischen Komponenten.

Beschichtungs- und Filmprüfung: Messung der Beschichtungsdicke (z.B. PCB-Platin-Vergoldeung) und der Komponente (z.B. Metallbeschichtung von Kunststoffoberflächen).

Halbleitermaterial: Analyse der Verunreinigungselemente in Siliziumfliechen (, um die Reinheit des Chips zu gewährleisten.


2. Geologische und Mineralforschung

Analyse der Erzkomponente: Schnelle Erkennung des Gehalts an Metallelementen im Erz, Anleitung des Bergbaus und der Erzscheibung.

Ermittlung von Gesteinsarten: Unterscheidung von Gesteinsarten (z. B. Granit, Basalt) durch die Elementzusammensetzung zur Unterstützung der geologischen Konstruktionsforschung.


Umwelt- und Ökologieüberwachung

Boden- und Wasserverschmutzung: Analyse des Schwermetallgehalts und Bewertung der Umweltverschmutzung.

Feste Abfälle und Gefahrgütenanalyse: Identifizierung gefährlicher Elemente in Industrieabfällen und Unterstützung bei der Sortierung und Entsorgung von Abfällen.