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Gebäude 8, Zhujiang Moore International Building, Changping, Peking
Peking Ricoh Zhongyi Technologie Co., Ltd.
Gebäude 8, Zhujiang Moore International Building, Changping, Peking
Röntgenstrahlungsspektrometer XEScopeEs ist ein Charakterisierungsgerät, das den chemischen Zustand von Elementen quantitativ und qualitativ analysieren kann, mit präzisen Erkennungsfähigkeiten und bequemer Bedienungserfahrung zuverlässige technische Unterstützung für mehrfache Elementpreisstudien bietet.


Ultra-hohe Empfindlichkeit: Sie erfassen präzise Inhaltsinformationen mit geringem Gehalt (0,1 Gewichtsprozent).
● hohe Energieauflösung: ≤0,5 eV, genaue Signalerkennung.
Chemische Zustandsdifferenz: Unterscheiden verschiedener Wertzustände des gleichen Elements (z. B. Si²+/Si4+, S²-/SUntersUntersUnterscheidung) und Analyse der chemischen Eigenschaften.
● In-situ-Test: Dynamische Reaktionsmechanismusforschung, präzise Reduktion der Komponentenverteilung und in-situ-Charakteristik chemischer Zustandsänderungen.
Breite Abdeckung der Elemente: Sie können von leichten Elementen (wie Al, Si) bis zu schweren Elementen (wie U, Pb) analysieren, um die Anforderungen mehrerer Bereiche zu erfüllen.
Schädigungsfreie Prüfung: Es ist nicht erforderlich, die Probenstruktur zu zerstören, geeignet für wertvolle / seltene Probenanalysen.
● Benutzerfreundliche Oberfläche: integrierte Software, einfache Bedienung und einfache Handhabung.
Röntgenstrahlungsspektrometer XEScopeÜbersicht
Fokus auf Oberflächenpreisinformationen, kompatibel mit verschiedenen Mustermodellen
● Präzise Erfassung von Oberflächeninformationen: Der Kern konzentriert sich auf die Zusammensetzung und den chemischen Zustand der Oberflächenelemente der Probe, ohne tiefe Durchdringung, um die kritischen Daten der Oberfläche direkt zu erhalten, die für Oberflächenforschungsszenarien wie Beschichtungen, Dünnfolien und andere geeignet sind.
● Polymorphische Proben ohne Schwelle: Kompatibel mit Feststoffen (wie Blocken, Scheiben), Flüssigkeiten (wie Lösungen, Emulsionen), Pulver und anderen verschiedenen Formen, ohne dass der Kunde eine komplexe Vorbehandlung wie das Schleifen, Lösen und andere durchführt, direkt an Bord getestet wird.
● Niedrige Menge niedriger Gehalt freundlich: Probenbedarf gering bis 5 mg, kleine Kristalle, kleine Mengen Pulver und andere spezielle Formen können angepasst werden; Unterstützung der Probenprüfung mit einem Massenpunkt von 0,1%, ein breiter Testbereich.

Integrierte Software für präzise quantitative Analysen
● Bedienenfreundlichkeit: Der gesamte Prozess kann den Betrieb vereinfachen, von der Bestätigung der Testbedingungen bis zur tatsächlichen Datenauflösung, ohne komplizierten professionellen Betrieb, benutzerfreundliche Oberfläche und minimale Schulungsanforderungen.
● Integrierte Software: Analysesoftware mit Funktionen* unterstützt die automatische Energiekalibrierung, die Anpassung der Analyse und die quantitative Analyse, unterstützt die Batch-Prüfung mehrerer Gruppen von Proben, die demselben Element entsprechen. Die Software kann die Analyseregelunge in Batch berechnen und standardisierte Berichte erstellen, um die Prüfeffizienz erheblich zu verbessern.
Quantitative Preisanalyse
● Preiszustandsanalyse: Verwendung von Standardproben für die Energiekalibrierung und die quantitative Verschiebung des Preiszustands, die Preiszustandsinformationen der Testprobe erhalten können
● Verhältnismäßige Analyse: Durch die lineare Anpassung der Probe und der Standardprobe kann das Verhältnis der Mengen an Werten in der Probe berechnet werden
Vollautomatisierte Tests mit breiter Abdeckung
● Automatischer Kristallwechsel: Ausgestattet mit der Funktion des automatischen Kristallwechsels, können 6 Analyseklistalle ausgerüstet werden, die den Energiebereich von 1,2 K eV bis 5 K eV abdecken können.
● Umfangreiche Abdeckung von Elementen: In der Lage, eine breite Palette von Elementen mit der Atomnummer 13 (Al) -23 (V) und 31 (Ga) -90 (U) zu erreichen, deren Detektionsbereich hauptsächlich umfasst
Die K-Spektrallinie von 13(Al)-23(V), die L-Spektrallinie von 31(Ga)-59(Pr) und die M-Spektrallinie von 61(Pm)-90(U) erfüllen die vielfältigen Detektionsanforderungen von leichten bis schweren Elementen.

Charakteristik Eigenschaften Vergleich
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XES (Röntgenstrahlungsspektrum) |
XAS (Röntgenabsorptionsspektrum) |
XPS (Röntgen-Fotoelektronenspektrum) |
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Prinzipien |
Gehäuseschicht-Bahn zur inneren Gehäuseschicht-Bahn Elektronik |
Innere Schalenbahn zur leeren Bahn, Vakuumenergie |
Photoelektrischer Effekt stimuliert die innere Atomschicht der Probe |
Auswahl des Emissionsspektrums für den Sprung |
Absorptionsspektrum von Elektronenübergängen |
Elektronik oder Preis |
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Signale erkennen |
Eigenschaften Röntgenfluorescenz Feinstruktur |
Resonanzabsorption von eingehenden Röntgenstrahlen |
Optoelektronische Dynamik |
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Funktion
Testumgebung |
Preisanalyse, Artenverhältnisse und Umlaufstrukturinformationen, oberflächennahe Informationen (<1 μm) Normaldruck, Standort, Zeitauflösung |
Chemische Preis- und Positionsstrukturinformationen, Körperphase-Informationen Normaldruck, vor Ort |
Preiszustand und Elementgehalt, Oberflächeninformationen (<100 nm) Ultrahochvakuum, nahezu Normaldruck |
Testbereich |
Der Al~U |
Übergangsmetalle - schwere Elemente |
Li~U |





