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Röntgenstrahlungsspektrometer XEScope

VerhandlungsfähigAktualisieren am07/07
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Röntgen-Emissionsspektrometer XEScope für einfache Bedienung: Vereinfacht den gesamten Prozess – von der Bestätigung der Testbedingungen bis zur praktischen Datenauflösung ohne komplexe professionelle Bedienung, benutzerfreundliche Oberfläche und minimale Schulungsanforderungen.

Produktdetails

Röntgenstrahlungsspektrometer XEScopeEs ist ein Charakterisierungsgerät, das den chemischen Zustand von Elementen quantitativ und qualitativ analysieren kann, mit präzisen Erkennungsfähigkeiten und bequemer Bedienungserfahrung zuverlässige technische Unterstützung für mehrfache Elementpreisstudien bietet.


Ultra-hohe Empfindlichkeit: Sie erfassen präzise Inhaltsinformationen mit geringem Gehalt (0,1 Gewichtsprozent).

● hohe Energieauflösung: ≤0,5 eV, genaue Signalerkennung.

Chemische Zustandsdifferenz: Unterscheiden verschiedener Wertzustände des gleichen Elements (z. B. Si²+/Si4+, S²-/SUntersUntersUnterscheidung) und Analyse der chemischen Eigenschaften.

● In-situ-Test: Dynamische Reaktionsmechanismusforschung, präzise Reduktion der Komponentenverteilung und in-situ-Charakteristik chemischer Zustandsänderungen.

Breite Abdeckung der Elemente: Sie können von leichten Elementen (wie Al, Si) bis zu schweren Elementen (wie U, Pb) analysieren, um die Anforderungen mehrerer Bereiche zu erfüllen.

Schädigungsfreie Prüfung: Es ist nicht erforderlich, die Probenstruktur zu zerstören, geeignet für wertvolle / seltene Probenanalysen.

● Benutzerfreundliche Oberfläche: integrierte Software, einfache Bedienung und einfache Handhabung.


Röntgenstrahlungsspektrometer XEScopeÜbersicht

Fokus auf Oberflächenpreisinformationen, kompatibel mit verschiedenen Mustermodellen

● Präzise Erfassung von Oberflächeninformationen: Der Kern konzentriert sich auf die Zusammensetzung und den chemischen Zustand der Oberflächenelemente der Probe, ohne tiefe Durchdringung, um die kritischen Daten der Oberfläche direkt zu erhalten, die für Oberflächenforschungsszenarien wie Beschichtungen, Dünnfolien und andere geeignet sind.

● Polymorphische Proben ohne Schwelle: Kompatibel mit Feststoffen (wie Blocken, Scheiben), Flüssigkeiten (wie Lösungen, Emulsionen), Pulver und anderen verschiedenen Formen, ohne dass der Kunde eine komplexe Vorbehandlung wie das Schleifen, Lösen und andere durchführt, direkt an Bord getestet wird.

● Niedrige Menge niedriger Gehalt freundlich: Probenbedarf gering bis 5 mg, kleine Kristalle, kleine Mengen Pulver und andere spezielle Formen können angepasst werden; Unterstützung der Probenprüfung mit einem Massenpunkt von 0,1%, ein breiter Testbereich.

X射线发射光谱仪 XEScope


Integrierte Software für präzise quantitative Analysen

● Bedienenfreundlichkeit: Der gesamte Prozess kann den Betrieb vereinfachen, von der Bestätigung der Testbedingungen bis zur tatsächlichen Datenauflösung, ohne komplizierten professionellen Betrieb, benutzerfreundliche Oberfläche und minimale Schulungsanforderungen.

● Integrierte Software: Analysesoftware mit Funktionen* unterstützt die automatische Energiekalibrierung, die Anpassung der Analyse und die quantitative Analyse, unterstützt die Batch-Prüfung mehrerer Gruppen von Proben, die demselben Element entsprechen. Die Software kann die Analyseregelunge in Batch berechnen und standardisierte Berichte erstellen, um die Prüfeffizienz erheblich zu verbessern.


Quantitative Preisanalyse

● Preiszustandsanalyse: Verwendung von Standardproben für die Energiekalibrierung und die quantitative Verschiebung des Preiszustands, die Preiszustandsinformationen der Testprobe erhalten können

● Verhältnismäßige Analyse: Durch die lineare Anpassung der Probe und der Standardprobe kann das Verhältnis der Mengen an Werten in der Probe berechnet werden


Vollautomatisierte Tests mit breiter Abdeckung

● Automatischer Kristallwechsel: Ausgestattet mit der Funktion des automatischen Kristallwechsels, können 6 Analyseklistalle ausgerüstet werden, die den Energiebereich von 1,2 K eV bis 5 K eV abdecken können.

● Umfangreiche Abdeckung von Elementen: In der Lage, eine breite Palette von Elementen mit der Atomnummer 13 (Al) -23 (V) und 31 (Ga) -90 (U) zu erreichen, deren Detektionsbereich hauptsächlich umfasst

Die K-Spektrallinie von 13(Al)-23(V), die L-Spektrallinie von 31(Ga)-59(Pr) und die M-Spektrallinie von 61(Pm)-90(U) erfüllen die vielfältigen Detektionsanforderungen von leichten bis schweren Elementen.

X射线发射光谱仪 XEScope



Charakteristik Eigenschaften Vergleich


XES

(Röntgenstrahlungsspektrum)

XAS

(Röntgenabsorptionsspektrum)

XPS

(Röntgen-Fotoelektronenspektrum)

Prinzipien

Gehäuseschicht-Bahn zur inneren Gehäuseschicht-Bahn Elektronik

Innere Schalenbahn zur leeren Bahn, Vakuumenergie

Photoelektrischer Effekt stimuliert die innere Atomschicht der Probe

Auswahl des Emissionsspektrums für den Sprung

Absorptionsspektrum von Elektronenübergängen

Elektronik oder Preis

Signale erkennen

Eigenschaften Röntgenfluorescenz Feinstruktur

Resonanzabsorption von eingehenden Röntgenstrahlen

Optoelektronische Dynamik

Funktion

Testumgebung

Preisanalyse, Artenverhältnisse und Umlaufstrukturinformationen, oberflächennahe Informationen (<1 μm)

Normaldruck, Standort, Zeitauflösung

Chemische Preis- und Positionsstrukturinformationen, Körperphase-Informationen

Normaldruck, vor Ort

Preiszustand und Elementgehalt, Oberflächeninformationen (<100 nm)

Ultrahochvakuum, nahezu Normaldruck

Testbereich

Der Al~U

Übergangsmetalle - schwere Elemente

Li~U


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope