Wafer Heizplatte

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Geeignet für Wafer-Tests in verschiedenen Größen, kann für verschiedene Arten von Sondenbändern verwendet werden, und die Temperaturregelung führt gleichzeitig elektrische Tests durch.

Produktdetails

Temperaturbereich -120 ℃ ~ 400 ℃ Temperaturstabilität ± 0,05 ℃ Temperaturgleichmäßigkeit ± 2% Probenbereich 2 Zoll ~ 12 Zoll Oberflächeneinheit 25um Oberflächenpotential Elektrische Erdung Dreichaxiale Rückelektrode Optional Anpassungsinstrumente Manuelle Sondenstelle Halbautomatische Sondenstelle Laser-Glitzen Anwendungsbereiche Halbleiter Chip OLED-optische Temperaturverwaltung Wafer-Test

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