Nexsa Röntgenoptoelektronisches Spektrometer

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/09

Modell

Natur des Herstellers: Hersteller

Produktkategorie

Ursprungsort

Online Beratung

Übersicht

Thermo Scientific Nexsa Das Röntgenoptoelektronische Energiespektrometer (XPS) bietet eine vollautomatische, multitechnische Analyse mit hohem Durchsatz und hält gleichzeitig qualitativ hochwertige Analyseergebnisse auf Forschungsgrad bei. Durch die Integration verschiedener Analysetechnologien wie ISS, UPS, REELS und Raman können Anwender eine echte gemeinsame multitechnologische Analyse durchführen, die das Potenzial für weitere Fortschritte in der Entwicklung von Mikroelektronik, Ultradünnfilm, Nanotechnologie und vielen anderen Anwendungen freisetzt.

Produktdetails

Nexsa Röntgenoptoelektronisches SpektrometerBeschreibung:

Nexsa Röntgenoptoelektronisches SpektrometerMaterialanalyse und -entwicklung

Nexsa Energy Spectrometer bieten analytische Flexibilität, um das Materialpotenzial zu maximieren. Flexibilität in Form einer optionalen Multi-Technologie-Kombination, die eine echte Multi-Technologie-Kombination für analytische Prüfung und hohen Durchfluss ermöglicht, während die Ergebnisse auf Forschungsniveau bleiben.

Standardisierte Funktionen sorgen für leistungsstarke Leistung:

• Isolatoranalyse

Hochleistungsstarke XPS-Leistung

· Tiefenanalyse

• Multitechnologische Zusammenarbeit

· Dual-Mode-Ionenquelle, die die Tiefenanalyse erweitert

Neigungsmodule für ARXPS-Messungen

Avantage-Software für Instrumentsteuerung, Datenverarbeitung und Berichterstellung

· Kleine Flecken Analyse

Optionales Upgrade: Sie können eine Vielzahl von Analysetechnologien in Ihre Prüfanalyse integrieren. Automatischer Betrieb

· ISS: Ionenstreuungsspektrum, die Elementinformationen über die 1-2 Atomschichten auf der Oberfläche des Materials analysiert und einige Isotope-Überflussinformationen durch Massendischeidung analysiert.

UPS: UV-Optoelektronik-Spektrum zur Analyse von Preisband-Energiestufenstrukturinformationen und Materialoberflächenfunktionsinformationen für Metall-/Halbleitermaterialien

Raman: Die Raman-Spektrologietechnik wird verwendet, um Fingerabdruckinformationen auf molekularer Strukturebene zu liefern

REELS: Das Energieverlustspektrum der reflektierenden Elektronen kann zur Erkennung des Gehalts an H-Elementen sowie zur Erkennung der Energiestufenstruktur und der Bandlückeninformationen des Materials verwendet werden

Mit der optischen Ansicht von SnapMap konzentrieren Sie sich auf die Eigenschaften der Probe. Die optische Ansicht hilft Ihnen, Ihre Interessengebiete schnell zu lokalisieren und gleichzeitig fokussierte XPS-Bilder zu generieren, um Ihr Experiment weiter einzurichten.

1. Röntgenstrahlung auf einem kleinen Bereich der Probe.

2. Sammeln Sie die Optoelektronen aus diesem kleinen Bereich und sammeln Sie sie im Analyzer

3. Sammeln Sie kontinuierlich Elemente-Diagramme, während sich die Probe bewegt

4. Überwachung der Standorte der Probenstelle während der gesamten Datenerfassung, deren Kartenbildung zur Erzeugung von SnapMaps verwendet wird

Nexsa Röntgenoptoelektronisches SpektrometerAnwendungsbereiche

· Batterien

· Biomedizin

· Katalysator

· Keramik

· Glasbeschichtung

· Graphen

· Metalle und Oxide